一种多电阻测试装置，设置有水平载料台、纵向支架、检测单元、滑动导轨和纵向驱动机构；水平载料台与纵向支架呈垂直设置，所述测单元设置于水平载料台上方，滑动导轨一端固定于水平载料台，且滑动导轨穿设于检测单元并活动装配于检测单元，纵向驱动机构固定于纵向支架，纵向驱动机构驱动所述测单元纵向移动；检测单元设置有基板以及装配于基板的多个探针，探针露出所述基板的一端用于与待测基板电阻接触，探针露出所述基板的另一端与检测电路的输入端连接。该多电阻测试装置可以通过探针一次检测多组电阻，不仅结构简单，而且具有检测方便、检测效率高、结果精确的特点。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种多电阻测试装置，设置有水平载料台、纵向支架、检测单元、滑动导轨和纵向驱动机构；水平载料台与纵向支架呈垂直设置，所述测单元设置于水平载料台上方，滑动导轨一端固定于水平载料台，且滑动导轨穿设于检测单元并活动装配于检测单元，纵向驱动机构固定于纵向支架，纵向驱动机构驱动所述测单元纵向移动；检测单元设置有基板以及装配于基板的多个探针，探针露出所述基板的一端用于与待测基板电阻接触，探针露出所述基板的另一端与检测电路的输入端连接。该多电阻测试装置可以通过探针一次检测多组电阻，不仅结构简单，而且具有检测方便、检测效率高、结果精确的特点。【专利说明】-种多电阻测试装置
本技术涉及电子产品检测
，特别是涉及一种多电阻测试装置。
技术介绍
电阻是电子产品广泛使用的元器件之一，电阻阻值的精确度是众多器件有效工作 的重要保障。现有技术中，对厚膜电阻测试通常是通过万用表逐个进行检测，不仅效率低， 而且容易出现差错的情况。 因此，针对现有技术不足，提供一种结构简单、可以一次进行多个电阻检测的多电 阻测试装置以克服现有技术不足甚为必要。
技术实现思路
本技术的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种多电阻测试装置，具 有检测结果精确，适用性强的特点。 本技术的上述目的通过如下技术手段实现。 -种多电阻测试装置，设置有水平载料台、纵向支架、检测单元、滑动导轨和纵向 驱动机构； 所述水平载料台与所述纵向支架呈垂直设置，所述检测单元设置于所述水平载料 台上方，所述滑动导轨一端固定于所述水平载料台，且所述滑动导轨穿设于所述检测单元 并活动装配于所述检测单元，所述纵向驱动机构固定于所述纵向支架，所述纵向驱动机构 驱动所述检测单元纵向移动； 所述检测单元设置有基板以及装配于基板的多个探针，所述探针固定装配于所述 基板，所述探针露出所述基板的一端用于与待测基板上的电阻接触，所述探针露出所述基 板的另一端与检测电路的输入端连接。 上述基板设置有装配孔，所述探针装配于所述装配孔。 上述检测单元还设置有盖板，所述盖板罩设于所述探针上方并固定于所述基板， 所述纵向驱动机构与所述盖板固定连接。 优选的，上述盖板与所述基板设置为一体成型结构。 上述探针露出所述基板的一端为探针具有弹性结构的一端。 上述滑动导轨套设有轴承。 优选的，上述多电阻测试装置还设置有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧套设于所述滑动 导轨且所述缓冲弹簧位于所述基板与所述水平载料台之间。 上述纵向驱动机构设置有连杆、固定座、测试手柄和连接耳,所述固定座固定设置 于所述纵向支架，所述固定座设置有上连接端和下连接端； 所述连杆的一端与所述盖板固定连接，所述连杆穿过所述固定座的下连接端并与 所述连接耳的一端轴接，所述连接耳的另一端与所述测试手柄的中部轴接，所述测试手柄 的固定端与所述固定座的上连接端轴接。 优选的，上述多电阻测试装置还设置有底座，所述水平载料台固定设置于所述底 座。 优选的，上述多电阻测试装置还设置有显示屏幕，所述检测电路的输出端与所述 显示屏连接。 本技术的多电阻测试装置，设置有水平载料台、纵向支架、检测单元、滑动导 轨和纵向驱动机构；所述水平载料台与所述纵向支架呈垂直设置，所述检测单元设置于所 述水平载料台上方，所述滑动导轨一端固定于所述水平载料台，且所述滑动导轨穿设于所 述检测单元并活动装配于所述检测单元，所述纵向驱动机构固定于所述纵向支架，所述纵 向驱动机构驱动所述检测单元纵向移动；所述检测单元设置有基板以及装配于基板的多个 探针，所述探针固定装配于所述基板，所述探针露出所述基板的一端用于与待测基板上的 电阻接触，所述探针露出所述基板的另一端与检测电路的输入端连接。该多电阻测试装置 可以通过探针一次检测多组电阻，不仅结构简单，而且具有检测方便、检测效率高、结果精 确的特点。 【专利附图】【附图说明】 利用附图对本技术作进一步的说明，但附图中的内容不构成对本技术的 任何限制。 图1是本技术一种多电阻测试装置的结构示意图。 图2是本技术一种多电阻测试装置的检测处理单元的电路示意图。 在图1、图2中，包括： 水平载料台100、 纵向支架200、 检测单元300、 基板 310、 探针 320、 盖板 330、 滑动导轨400、轴承410、 纵向驱动机构、 连杆 510、 固定座 520、 上连接端521、下连接端522、 测试手柄530、 测试手柄的固定端531、 连接耳 540、 底座 600、 检测样品700、 数码显示10、 数码管电路11、段限流电路12、驱动电路13、 报警单元20、信号采集单元30、滤波单元40、 电源退耦单元50、微处理器60、 触发开关单元70、复位单元80、指示单元90。 【具体实施方式】 结合以下实施例对本技术作进一步描述。 实施例1。 一种多电阻测试装置，如图1所示，设置有水平载料台100、纵向支架200、检测单 元300、滑动导轨400和纵向驱动机构。该多电阻测试装置还设置有底座600,水平载料台 100固定设置于底座600。 水平载料台100用于承载待检测的多个电阻单元，纵向支架200提供安装纵向结 构的支架，检测单元300用于对待检测的样品进行电性能检测。 具体的，水平载料台100与纵向支架200呈垂直设置，检测单元300设置于水平载 料台100上方，滑动导轨400 -端固定于水平载料台100,且滑动导轨400穿设于检测单元 300并活动装配于检测单元300,纵向驱动机构固定于纵向支架200,纵向驱动机构驱动检 测单元300纵向移动。通过纵向驱动机构驱动检测单元300纵向移动，可以调整检测单元 300靠近或者远离带检测的基板上的电阻，以便有效控制检测过程。滑动导轨400提供了在 纵向驱动机构驱动下，检测单元300移动的轨道，使得检测单元300能够沿着滑动导轨400 上下移动，从而实现检测单元300靠近或者远离水平载料台100。 检测单元300设置有基板310以及装配于基板310的多个探针320,探针320固 定装配于基板310,探针320露出基板310的一端用于与待测基板310带接触，探针320露 出所述基板310的另一端与检测电路的输入端连接。探针320露出基板310的一端为探针 320具有弹性结构的一端。作为本领域公知常识，为了避免探针320在接触检测样品的过程 中出现探针320碰撞损伤，探针320接触检测样品的一端一般设置为弹性结构，探针320的 具体结构在此不再赘述。 具体的，基板310设置有装配孔，探针320装配于装配孔。 检测单元300还设置有盖板330,盖板330罩设于探针320上方并固定于基板310， 纵向驱动机构与盖板330固定连接。可将盖板330与基板310设置为一体成型结构，具有 结构简单，制备方便的特点。 当检测单元300靠近水平载料台100上的检测样品时，探针320露出基板310的一 端逐渐靠近检测样品并最终本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多电阻测试装置，其特征在于：设置有水平载料台、纵向支架、检测单元、滑动导轨和纵向驱动机构；所述水平载料台与所述纵向支架呈垂直设置，所述检测单元设置于所述水平载料台上方，所述滑动导轨一端固定于所述水平载料台，且所述滑动导轨穿设于所述检测单元并活动装配于所述检测单元，所述纵向驱动机构固定于所述纵向支架，所述纵向驱动机构驱动所述检测单元纵向移动；所述检测单元设置有基板以及装配于基板的多个探针，所述探针固定装配于所述基板，所述探针露出所述基板的一端用于与待测基板上的电阻接触，所述探针露出所述基板的另一端与检测电路的输入端连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高文志，洪学毅，王雅青，颜达远，
申请(专利权)人：珠海市华晶微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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