本实用新型专利技术涉及一种检测探针，尤指一种用于检测LED材料的探针，主要包括探针本体与探针尖端，所述的探针尖端挖空有缺口，挖空的缺口上镶嵌有钨钢材质的触头，触头体积小于探针尖端。本实用新型专利技术运用了纯铜材质的探针本体结合钨钢材质的触头，使探针的导电性能佳、硬度强，在使用过程中能保证检测的精确性和较长的使用期。钨钢的触头镶嵌在纯铜的探针尖端上，由于纯铜的导电性佳而钨钢的硬度强，因此触头的体积比探针尖端要小，在检测LED材料时，主要运用触头点触LED材料的金属触脚，因钨钢的硬度高可使探针长期使用下强耐磨，同时因纯铜的导电性而保证了检测结果的准确性。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种检测探针，尤指一种用于检测LED材料的探针，主要包括探针本体与探针尖端，所述的探针尖端挖空有缺口，挖空的缺口上镶嵌有钨钢材质的触头，触头体积小于探针尖端。本技术运用了纯铜材质的探针本体结合钨钢材质的触头，使探针的导电性能佳、硬度强，在使用过程中能保证检测的精确性和较长的使用期。钨钢的触头镶嵌在纯铜的探针尖端上，由于纯铜的导电性佳而钨钢的硬度强，因此触头的体积比探针尖端要小，在检测LED材料时，主要运用触头点触LED材料的金属触脚，因钨钢的硬度高可使探针长期使用下强耐磨，同时因纯铜的导电性而保证了检测结果的准确性。【专利说明】
本技术涉及一种检测探针，尤指一种硬度高、导电性良好的用于检测LED材 料的探针。 -种用于检测LED材料的探针
技术介绍
全自动LED分色分光机上用于检测LED产品的专用检测探针的整体材质为纯铜， 由于纯铜材质的电阻小，导电性好，因此纯铜材质的探针可为检测过程提供一个准确的检 测结果，但是纯铜材质的硬度不高，在反复的检测使用中，纯铜易为磨损，纯铜磨损快直接 导致了探针寿命的缩短，故不利于工业生产的长远发展。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术旨在公开一种检测探针，尤指一种用于检测LED材 料的探针。 为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：一种用于检测LED材料的探针， 所述的探针主要包括探针本体与探针尖端，所述的探针尖端挖空有缺口，挖空的缺口上镶 嵌有钨钢材质的触头，触头体积小于探针尖端。 所述的探针本体采用纯铜材质。 所述的探针本体在尾部连接有测试线。 本技术的有益效果体现在：本技术运用了纯铜材质的探针本体结合钨钢 材质的触头，使探针的导电性能佳、硬度强，在使用过程中能保证检测的精确性和较长的使 用期。钨钢的触头镶嵌在纯铜的探针尖端上，由于纯铜的导电性佳而钨钢的硬度强，因此触 头的体积比探针尖端要小，在检测LED材料时，主要运用触头点触LED材料的金属触脚，因 钨钢的硬度高可使探针长期使用下强耐磨，同时因纯铜的导电性而保证了检测结果的准确 性。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术整体结构示意图。 图2是本技术的具体实施示意图。 附图标注说明：1-探针本体，2-探针尖端，3-触头，4-测试线，5-LED材料。 【具体实施方式】 下面结合附图详细说明本技术的【具体实施方式】。 一种用于检测LED材料的探针，所述的探针主要包括探针本体1与探针尖端2,所 述的探针尖端2挖空有缺口，挖空的缺口上镶嵌有钨钢材质的触头3,触头3体积小于探针 尖端2,钨钢材质硬度高，在反复使用下磨损程度低，运用钨钢的触头3可使得探针整体延 长使用寿命； 所述的探针本体1和探针尖端2均采用纯铜材质，纯铜材质的探针本体1和探针 尖端2导电性能好，但硬度不强，长期使用会因磨损而缩短使用寿命，故选择在探针尖端2 挖空有缺口镶嵌钨钢触头，而钨钢触头的导电性能较于纯铜而言导电性较弱，因此钨钢触 头的体积小于探针尖端2,使探针在保证导电性良好的同时，也能保证探针的使用寿命； 所述的探针本体1在尾部连接有测试线4 ; 当使用一种用于检测LED材料的探针检测LED材料时，将一对检测探针置于LED 材料5的两侧，然后用探针尖端2上镶嵌的钨钢触头接触LED材料5的金属脚位，继而观察 探针本体1尾部的测试线4,读出测试结果。 本技术运用了纯铜材质的探针本体1结合钨钢材质的触头3,使探针的导电 性能佳、硬度强，在使用过程中能保证检测的精确性和较长的使用期。 钨钢的触头3镶嵌在纯铜的探针尖端2上，由于纯铜的导电性佳而钨钢的硬度强， 因此触头3的体积比探针尖端2要小，在检测LED材料5时，主要运用触头3点触LED材料 5的金属触脚，因钨钢的硬度高可使探针长期使用下强耐磨，同时因纯铜的导电性而保证了 检测结果的准确性。 以上所述，仅是本技术的较佳实施例，并非对本技术的技术范围作任何 限制，本行业的技术人员，在本技术方案的启迪下，可以做出一些变形与修改，凡是依据本 技术的技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用 新型技术方案的范围内。【权利要求】1. 一种用于检测LED材料的探针，所述的探针主要包括探针本体与探针尖端，其特征 在于：所述的探针尖端挖空有缺口，挖空的缺口上键嵌有鹤钢材质的触头，触头体积小于探 针尖端。2. 根据权利要求1所述的一种用于检测LED材料的探针，其特征在于：所述的探针本 体采用纯铜材质。3. 根据权利要求2所述的一种用于检测LED材料的探针，其特征在于：所述的探针本 体在尾部连接有测试线。【文档编号】G01R1/067GK203881813SQ201420261500【公开日】2014年10月15日 申请日期:2014年5月21日 优先权日:2014年5月21日 【专利技术者】李兵 申请人:东莞市台工电子机械科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于检测LED材料的探针，所述的探针主要包括探针本体与探针尖端，其特征在于：所述的探针尖端挖空有缺口，挖空的缺口上镶嵌有钨钢材质的触头，触头体积小于探针尖端。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李兵，
申请(专利权)人：东莞市台工电子机械科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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