低检出限电子流量分析测试仪制造技术

低检出限电子流量分析测试仪，主要包括：恒电流电源装置，电解电流调控装置，样品溶液滴加装置，样品电解电流分析装置，电解温度控制装置，溶剂电解控制装置，样品杂质电解控制装置，溶液气体电解控制装置，电极损耗电解控制装置，电解电子流量分析装置，分析结果记录装置；其中，溶剂电解控制装置含有高电位溶剂电解电极，该电极材料为三苯乙酮六氰基五氟铪的复合电极材料，样品杂质电解控制装置含有样品杂质电解筛选膜，该电解筛选膜材料为六吡唑三盐酸胍五硼镝的纳米复合电解筛选膜，该电解筛选膜厚度为12.88um，溶液气体电解控制装置含有溶液气体电解还原电极，该电解还原电极材料为三哌嗪五嘧啶六磷钼的纳米复合电极材料。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】低检出限电子流量分析测试仪，主要包括：恒电流电源装置，电解电流调控装置，样品溶液滴加装置，样品电解电流分析装置，电解温度控制装置，溶剂电解控制装置，样品杂质电解控制装置，溶液气体电解控制装置，电极损耗电解控制装置，电解电子流量分析装置，分析结果记录装置；其中，溶剂电解控制装置含有高电位溶剂电解电极，该电极材料为三苯乙酮六氰基五氟铪的复合电极材料，样品杂质电解控制装置含有样品杂质电解筛选膜，该电解筛选膜材料为六吡唑三盐酸胍五硼镝的纳米复合电解筛选膜，该电解筛选膜厚度为12.88um，溶液气体电解控制装置含有溶液气体电解还原电极，该电解还原电极材料为三哌嗪五嘧啶六磷钼的纳米复合电极材料。【专利说明】
本专利技术涉及电子流量分析领域，尤其涉及低检出限电子流量分析测试仪。 低检出限电子流量分析测试仪
技术介绍
低检出限电子流量分析测试仪，主要应用于钢筋混凝土的耐蚀性测试，钢筋锈蚀 的测量不能应用传统的失重法，因为钢筋在锈蚀后的形态为不同价态的氧化铁，它不是失 重，而是增重，在不同情况下生成的锈蚀产物的价态不同，不能直接计算.传统的电化学仪 器只能测得在测量瞬间的锈蚀速率，而钢筋的锈蚀速率不是匀速的，在不同的锈蚀阶段，其 锈蚀速率也不同，因此，用某测量瞬间测得的锈蚀速率来估算钢筋锈蚀往往会产生较大的 误差，电子流量分析可以测量较长时间钢筋锈蚀的总量，得到更符合实际需要的测量结果。 但是现有的低检出限电子流量分析测试仪依然存在分析精度不高，检测范围窄， 灵敏度低等诸多不足，因此，需要对现有的低检出限电子流量分析测试仪加以改进和完善。
技术实现思路
为了克服现有装置的不足之处，本专利技术采用的技术方案如下： 低检出限电子流量分析测试仪，其特征在于，主要包括： 1-恒电流电源装置，2-电解电流调控装置，3-样品溶液滴加装置， 4-样品电解电流分析装置，5-电解温度控制装置，6-溶剂电解控制装置， 7-样品杂质电解控制装置，8-溶液气体电解控制装置，9-电极损耗电解控制 装置， 10-电解电子流量分析装置，11-分析结果记录装置； 其中， 溶剂电解控制装置（6)含有高电位溶剂电解电极，该电极材料为三苯乙酮六氰基 五氟铪的复合电极材料， 样品杂质电解控制装置（7)含有样品杂质电解筛选膜，该电解筛选膜材料为六吡 唑三盐酸胍五硼镝的纳米复合电解筛选膜，该电解筛选膜厚度为12. 88um， 溶液气体电解控制装置（8)含有溶液气体电解还原电极，该电解还原电极材料为 三哌嗪五嘧啶六磷钥的纳米复合电极材料。 恒电流电源装置（1)主要用于电子流量分析电解过程的稳定恒电流提供，电解电 流调控装置（2)主要用于电子流量分析电流频率与电流输出大小以及电流传导时间的调 节控制，实现电子流量分析的精确控制，样品溶液滴加装置（3)主要用于样品溶液的滴加 控制，调节样品分析进度与电子流量测试速度，样品电解电流分析装置（4)主要用于样品 的分子电解以及电子流量变化分析，电解温度控制装置（5)主要用于样品分子电解过程的 温度控制，避免电解温度过高；溶剂电解控制装置（6)主要用于样品溶液体系中溶剂电解 进程的控制，减少溶剂电解引起的溶液浓度变化；样品杂质电解控制装置（7)主要用于样 品溶液体系杂质电解程度以及电解方向的调控，降低杂质电解引起的电子流量不稳定；溶 液气体电解控制装置（8)主要用于样品溶液体系中溶解的气体分子的电解过程控制，避免 气体电解引起的溶液PH变化以及酸碱趋势改变；电极损耗电解控制装置（9)主要用于分子 电解过程电极本身电解引起的电极材料损耗控制，避免电极自身电解引起的电子流量突变 以及分析偏差；电解电子流量分析装置（10)主要用于溶液体系样品分子电解过程的电子 流量分析，实现微量级元素以及化合物含量与类型的分析测定；分析结果记录装置（11)主 要用于样品电子流量分析结果的记录。 本专利技术与现有技术相比具有的有益效果是： (1)通过样品杂质电解控制装置用于样品溶液体系杂质电解程度以及电解方向的 调控，降低杂质电解引起的电子流量不稳定； (2)结合溶液气体电解控制装置实现样品溶液体系中溶解的气体分子的电解过程 控制，避免气体电解引起的溶液PH变化以及酸碱趋势改变； ⑶采用电极损耗电解控制装置进行分子电解过程电极本身电解引起的电极材料 损耗控制，避免电极自身电解引起的电子流量突变以及分析偏差。 【专利附图】【附图说明】 图1是低检出限电子流量分析测试仪的示意图 如图1所示，本专利技术所述的低检出限电子流量分析测试仪，主要包括： 1-恒电流电源装置，2-电解电流调控装置，3-样品溶液滴加装置， 4-样品电解电流分析装置，5-电解温度控制装置，6-溶剂电解控制装置， 7-样品杂质电解控制装置，8-溶液气体电解控制装置，9-电极损耗电解控制 装置， 10-电解电子流量分析装置，11-分析结果记录装置； 下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细的描述。 【具体实施方式】 首先，通过恒电流电源装置（1)用于电子流量分析电解过程的稳定恒电流提供， 结合电解电流调控装置（2)进行电子流量分析电流频率与电流输出大小以及电流传导时 间的调节控制，实现电子流量分析的精确控制，采用样品溶液滴加装置（3)用于样品溶液 的滴加控制，调节样品分析进度与电子流量测试速度，借助于样品电解电流分析装置（4) 实现样品的分子电解以及电子流量变化分析，通过电解温度控制装置（5)用于样品分子 电解过程的温度控制，避免电解温度过高；采用溶剂电解控制装置（6)进行样品溶液体系 中溶剂电解进程的控制，减少溶剂电解引起的溶液浓度变化；结合样品杂质电解控制装置 (7)实现样品溶液体系杂质电解程度以及电解方向的调控，降低杂质电解引起的电子流量 不稳定；借助于溶液气体电解控制装置（8)用于样品溶液体系中溶解的气体分子的电解过 程控制，避免气体电解引起的溶液PH变化以及酸碱趋势改变；采用电极损耗电解控制装置 (9)进行分子电解过程电极本身电解引起的电极材料损耗控制，避免电极自身电解引起的 电子流量突变以及分析偏差；通过电解电子流量分析装置（10)用于溶液体系样品分子电 解过程的电子流量分析，实现微量级元素以及化合物含量与类型的分析测定；最后，结合分 析结果记录装置（11)实现样品电子流量分析结果的记录。【权利要求】1.低检出限电子流量分析测试仪，其特征在于，主要包括： 1--恒电流电源装置，2-电解电流调控装置，3-样品溶液滴加装置， 4一样品电解电流分析装置，5-电解温度控制装置，6-溶剂电解控制装置， 7-样品杂质电解控制装置，8-溶液气体电解控制装置，9一电极损耗电解控制装置， 10-电解电子流量分析装置，11-分析结果记录装置； 其中， 溶剂电解控制装置（6)含有高电位溶剂电解电极，该电极材料为三苯乙酮六氰基五氟 铪的复合电极材料， 样品杂质电解控制装置（7)含有样品杂质电解筛选膜，该电解筛选膜材料为六吡唑三 盐酸胍五硼镝的纳米复合电解筛选膜，该电解筛选膜厚度为12. 88um， 溶液气体电解控制装置（8)含有溶液气体本文档来自技高网...

【技术保护点】
低检出限电子流量分析测试仪，其特征在于，主要包括：1‑‑恒电流电源装置，2‑‑电解电流调控装置，3‑‑样品溶液滴加装置，4‑‑样品电解电流分析装置，5‑‑电解温度控制装置，6‑‑溶剂电解控制装置，7‑‑样品杂质电解控制装置，8‑‑溶液气体电解控制装置，9‑‑电极损耗电解控制装置，10‑‑电解电子流量分析装置，11‑‑分析结果记录装置；其中，溶剂电解控制装置（6）含有高电位溶剂电解电极，该电极材料为三苯乙酮六氰基五氟铪的复合电极材料，样品杂质电解控制装置（7）含有样品杂质电解筛选膜，该电解筛选膜材料为六吡唑三盐酸胍五硼镝的纳米复合电解筛选膜，该电解筛选膜厚度为12.88um，溶液气体电解控制装置（8）含有溶液气体电解还原电极，该电解还原电极材料为三哌嗪五嘧啶六磷钼的纳米复合电极材料。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：储冬红，郭睦庚，彭飞，其他发明人请求不公开姓名，
申请(专利权)人：成都中远千叶科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51