【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种光纤宏弯衰减测试的装置，其技术方案是这样的：其包括底座，所述底座上布置有绕线柱，其特征在于：其还包括上板座，所述上板座的下端面通过直线滑动结构支承于所述底座的上端面，所述上板座的前后端宽度小于所述底座的前后端宽度，所述底座的上端面的前端位置排布有等径的第一绕线柱，所述第一绕线柱的下端通过第一连接杆布置于所述底座的上端面，所述第一绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置；相邻的所述第一绕线柱间留有间距，所述上板座的上端面排布有等径的第二绕线柱，所述第二绕线柱的下端通过第二连接杆布置于所述上板座的上端面，所述第二绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置，相邻的所述第二绕线柱间留有间距，所述第一绕线柱、第二绕线柱的直径相同，工作状态下的第二绕线柱、第一绕线柱相互潜入各自相邻的绕线柱的间距内且对应的圆心排成一直线。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高安敏，顾志华，庄云锋，盛佳慧，徐美芳，张磊，
申请(专利权)人：江苏亨通光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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