一种DDF架2M线缆端口测试工具制造技术

本实用新型专利技术属于传输系统线缆的测试技术领域，具体涉及一种DDF架2M线缆端口测试工具。本实用新型专利技术为了能快速准确的对2M端口进行测试，同时降低成本，提出一种DDF架2M线缆端口测试工具，包括一个L9连接头和一个发光二极管，所述的发光二极管的管脚Ⅰ与L9连接头的内芯焊接，发光二极管的管脚Ⅱ与L9连接头的外皮焊接；所述的L9连接头插接到DDF架上的传输设备发送端。本实用新型专利技术能快速检测2M线缆端口状态，操作方便、显示直观、造价低、准确度高，提高了通讯系统的调试效率，非常适用于通信施工中传输系统的调试。

【技术实现步骤摘要】
一种DDF架2M线缆端口测试工具
本技术属于传输系统线缆的测试
，具体涉及一种DDF架2M线缆端口 测试工具。
技术介绍
在通信工程施工中，传输系统的2M线缆在DDF架的配线、焊接工作量大，并经常出 现断线、接触不良和线序错误等情况，是直接影响系统调试的主要因素。在以往施工过程中 采用2M测试仪进行2M端口测试，或者是由网管远程进行测试。使用2M测试仪测试需要配 备仪表，同时要求配线人员会熟练的使用仪表。当工作量较大或者站点较多时会受到仪表 数量的制约；当使用网管测试时，只能检测设备接收侧，无法检测发送侧，同时要求网管随 时有人，人员受到制约，处理故障费时、费工、费力。
技术实现思路
本技术为了能快速准确的对2M端口进行测试，同时降低成本，提供了一种 DDF架2M线缆端口测试工具。 本技术采用如下技术方案： -种DDF架2M线缆端口测试工具，包括一个L9连接头和一个发光二极管，所述的 发光二极管的管脚I与L9连接头的内芯焊接，发光二极管的管脚II与L9连接头的外皮焊 接；所述的L9连接头插接到DDF架上的传输设备发送端。 本技术能快速检测2M线缆端口状态，操作方便、显示直观、造价低、准确度 高，提高了通讯系统的调试效率，非常适用于通信施工中传输系统的调试。 【附图说明】 图1为本技术的结构示意图； 图2为本技术的工作原理图； 图中：1_L9连接头、2-管脚I、3-发光二极管、4-管脚II。 【具体实施方式】 结合附图，对本技术的【具体实施方式】作进一步说明： 如图1所示，一种DDF架2M线缆端口测试工具，包括一个L9连接头和一个发光二 极管，所述的发光二极管的管脚I与L9连接头的内芯焊接，发光二极管的管脚II与L9连接 头的外皮焊接；所述的L9连接头插接到DDF架上的传输设备发送端。 测试时，将焊接好发光二极管的L9连接头插接到DDF架上的TX端(传输设备发送 端)，由于2M端口的外导体处于接地状态，电位为零电位，2M端口内导体为2048bit/s的交 变的2. 33V脉冲信号，2M端口内导体与外导体之间产生了电位差并大于发光二极管的导通 电压，促使发光二极管发光。通过二极管是否发光和发光强弱来判断传输电缆连接2M端口 是否存在断线、接触不良和收发线序错误等故障。 发光二极管不亮有可能产生的故障为：①收发线序错误；②电缆断线或者漏焊、 短路。 发光二极管亮度不够有可能产生的故障为：配线的焊接和压接接触不良。 在传输系统调试时，在DDF架上的测试方法为： ①测线序：传输系统的2M线缆是按照收、发为1对线缆进行配置，采用本实用新 型可以快速的对线序进行测试。将本技术插接到DDF架上的TX端，很快便可以看出是 否发光，如果发光则证明线序正确，否则插到RX端，如果发光则证明线序错误，倒换线序即 可。 ②测通断：将本技术插接到DDF架上的TX端，若发光二极管不发光，再插到 DDF架上的RX端，若仍然不发光，证明线缆中断、或者接头漏焊、或者短路。将设备上的端头 拆下，进行重新焊接或压接，或者更换线缆，便可排除故障。 检测接触不良：将本技术插接到DDF架上的TX端，测试工具发光很弱，证明线 缆接触不良，将设备上的端头拆下，进行重新焊接或压接，或者更换线缆，便可排除故障。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种DDF架2M线缆端口测试工具，其特征在于：包括一个L9连接头（1）和一个发光二极管（3），所述的发光二极管（3）的管脚Ⅰ（2）与L9连接头（1）的内芯焊接，发光二极管（3）的管脚Ⅱ（4）与L9连接头（1）的外皮焊接；所述的L9连接头（1）插接到DDF架上的传输设备发送端。

【技术特征摘要】
1. 一种DDF架2M线缆端口测试工具，其特征在于：包括一个L9连接头（1)和一个发光 二极管（3)，所述的发光二极管（3)的管脚I (2)与L9连...

【专利技术属性】
技术研发人员：马海军，李中奇，张宝印，潘思丞，
申请(专利权)人：中铁三局集团有限公司，中铁三局集团电务工程有限公司，
类型：新型
国别省市：山西;14