线性系统系数推定方法及使用该方法的集成电路、触摸面板系统、以及电子设备技术方案

本发明专利技术设有噪声去除部(101)，该噪声去除部(101)通过对所述线性和信号进行滤波来去除叠加于对象系数的N个线性和信号的噪声，推定部(105)通过基于去除噪声后得到的N个线性和信号的信号与所述N个M维矢量的内积运算来推定所述M个对象系数的值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】线性系统系数推定方法及使用该方法的集成电路、触摸面 板系统、以及电子设备
本专利技术涉及推定或者检测构成为矩阵状的静电电容的电容值的线性系统系数推 定方法及使用该方法的集成电路、触摸面板系统、以及电子设备。
技术介绍
作为检测分布成矩阵状的静电电容值的装置，专利文献1中揭示了以下电容检测 电路，该电容检测电路检测出在Μ根驱动线与L根感测线之间形成的静电电容矩阵的静电 电容值分布。在上述电容检测装置中，利用了当手指或笔接触触摸面板时，接触位置的静电 电容的电容值变小这一现象，通过检测上述电容值的变化，来检测手指或笔与触摸面板的 接触位置。 图13是表示现有的触摸面板系统900的构成的示意图。此外，图14是用于说明 触摸面板系统900的驱动方法的图。触摸面板系统900包括触摸面板902和触摸面板控制 器903。触摸面板902具有驱动线DL1?DL4、感测线SL1?SL4、以及设置在驱动线DL1? DL4与感测线SL1?SL4相交的位置上的静电电容C11?C44。此外，触摸面板控制器903 具有驱动部904及放大器908。 以下，在触摸面板系统900中，对利用何种方法将静电电容值转换成测定值（检测 值）进行说明。 驱动部904基于图14的式3所示的4行4列码序列，对驱动线DL1?DL4进行驱 动。当码序列的码元为1时，驱动部904施加电源电压VDD，当码元为0时，施加零伏 特。 触摸面板系统900具有4个放大器908,设置为分别与感测线SL1?SL4相对应。 4个放大器908沿着由驱动部904所驱动的感测线SL1?SL4,接受静电电容的线性和Υ1? Υ4并对其进行放大。 具体而言，例如，在由上述4行Χ4列的码序列进行的4次驱动中的第1次驱动时， 驱动部904对驱动线DL1施加电源电压VDD，对其余驱动线DL2?DL4施加零伏特。然后， 例如从感测线SL3,将与图14的式1所示的静电电容C31相对应的输出作为测定值Υ1提供 给放大器908。 然后，在第2次驱动时，对驱动线DL2施加电源电压VDD，对其余驱动线DL1、DL3和 DL4施加零伏特。然后，例如从感测线SL3,将与图14的式2所示的静电电容C32相对应的 输出作为测定值Y2提供给放大器908。 同样，在第3次驱动时，对驱动线DL3施加电源电压VDD，对其余驱动线施加零伏 特。之后，在第4次驱动时，对驱动线DL4施加电源电压VDD，对其余驱动线施加零伏特。通 过第3次驱动、第4次驱动，分别获得与静电电容C3、C4相对应的测定值Y3、Y4。 由此，如图14的式3及式4所示，将测定值丫1、￥2、￥3、￥4分别与静电电容值(：1、 C2、C3、C4相关联。 现有技术文献 专利文献 专利文献1 :日本公开专利公报特开2005 - 152223号公报（平成17年6月16 日公开）
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题 如上所述，在触摸面板900中，能根据静电电容值获得测定值（检测值）。 然而，在触摸面板系统900中存在如下问题，S卩：一次的测定只能取得与一根驱动 线相交的电容数据，由于噪声分量不会变小，因此难以正确地检测静电电容的电容变化。 即，现有的触摸面板系统900易于受到噪声的影响，换言之，存在耐噪声性能较低 的问题。 本专利技术是鉴于上述问题点而完成的，其目的在于提供一种耐噪声性能较高的线性 系统系数推定方法及使用该方法的集成电路、触摸面板系统、以及电子设备。 解决技术问题所采用的技术方案 本专利技术所涉及的线性系统系数推定方法中，利用N个Μ维矢量对Μ个对象系数进 行并列驱动并获得所述对象系数的Ν个线性和，通过所述对象系数的Ν个线性和信号与所 述Ν个Μ维矢量的内积运算来推定所述Μ个对象系数的值，所述线性系统系数推定方法的 特征在于，包括：噪声去除步骤，在该噪声去除步骤中，通过对所述线性和信号进行滤波，来 去除叠加于所述对象系数的Ν个线性和信号的噪声；以及推定步骤，在该推定步骤中，通过 基于由所述噪声去除步骤去除噪声后得到的Ν个线性和信号的信号与所述Ν个Μ维矢量的 内积运算来推定所述Μ个对象系数的值。 根据上述特征，通过对所述线性和信号进行滤波来去除叠加于对象系数的Ν个线 性和信号的噪声，并通过基于去除所述噪声后得到的Ν个线性和信号的信号与所述Ν个Μ 维矢量的内积运算来推定所述Μ个对象系数的值。 因此，Μ个对象系数的值是在通过对线性和信号的滤波来将噪声去除之后再进行 推定的。因此，所推定的Μ个对象系数的值不受噪声的影响。即，本专利技术所涉及的线性系统 系数推定方法是耐噪声性能较高的线性系统系数推定方法。 本专利技术所涉及的集成电路包括：驱动部，该驱动部利用Ν个Μ维矢量对Μ个对象系 数进行并列驱动，以及推定部，该推定部获得所述对象系数的Ν个线性和，通过所述对象系 数的Ν个线性和信号与所述Ν个Μ维矢量的内积运算来推定所述Μ个对象系数的值，所述 集成电路的特征在于，还包括噪声去除部，该噪声去除部通过对所述线性和信号进行滤波， 来去除叠加于所述对象系数的Ν个线性和信号的噪声，所述推定部通过基于由所述噪声去 除部去除噪声后得到的Ν个线性和信号的信号与所述Ν个Μ维矢量的内积运算来推定所述 Μ个对象系数的值。 根据上述特征，噪声去除部通过对所述线性和信号进行滤波来去除叠加于对象系 数的Ν个线性和信号的噪声，推定部通过基于去除噪声后得到的Ν个线性和信号的信号与 所述Ν个Μ维矢量的内积运算来推定所述Μ个对象系数的值。 因此，Μ个对象系数的值是在线性和信号的噪声被去除之后再进行推定的。因此， 所推定的Μ个对象系数的值不受噪声的影响。即，本专利技术所涉及的集成电路是耐噪声性能 较1?的集成电路。 本专利技术所涉及的触摸面板系统的特征在于，包括：本专利技术所涉及的集成电路；以 及由所述集成电路所控制的触摸面板。 根据上述特征，本专利技术的触摸面板系统所具备的集成电路中所设置的噪声去除部 通过对所述线性和信号进行滤波来去除叠加于对象系数的N个线性和信号的噪声，推定部 通过基于去除噪声后得到的N个线性和信号的信号与所述N个Μ维矢量的内积运算来推定 所述Μ个对象系数的值。 因此，Μ个对象系数的值是在线性和信号的噪声被去除之后再进行推定的。因此， 所推定的Μ个对象系数的值不受噪声的影响。即，本专利技术所涉及的触摸面板系统是耐噪声 性能较高的触摸面板系统。 本专利技术的电子设备的特征在于，包括：本专利技术所涉及的集成电路；由所述集成电 路控制的触摸面板；以及与所述触摸面板重叠或者内置有所述触摸面板的显示面板。 根据上述特征，本专利技术的电子设备所具备的集成电路中所设置的噪声去除部通过 对所述线性和信号进行滤波来去除叠加于对象系数的Ν个线性和信号的噪声，推定部通过 基于去除噪声后得到的Ν个线性和信号的信号与所述Ν个Μ维矢量的内积运算来推定所述 Μ个对象系数的值。 因此，Μ个对象系数的值是在线性和信号的噪声被去除之后再进行推定的。因此， 所推定的Μ个对象系数的值不受噪声的影响。即，本专利技术所涉及的电子设备是耐噪声性能 较高的电子设备。 专利技术效果 如上所述，本专利技术所涉及的线性系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种线性系统系数推定方法，该线性系统系数推定方法利用N个M维矢量对M个对象系数进行并列驱动并获得所述对象系数的N个线性和，通过所述对象系数的N个线性和信号与所述N个M维矢量的内积运算来推定所述M个对象系数的值，所述线性系统系数推定方法的特征在于，包括：噪声去除步骤，在该噪声去除步骤中，通过对所述线性和信号进行滤波，来去除叠加于所述对象系数的N个线性和信号的噪声；以及推定步骤，在该推定步骤中，通过基于由所述噪声去除步骤去除噪声后得到的N个线性和信号的信号与所述N个M维矢量的内积运算来推定所述M个对象系数的值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.01.10 JP 2012-0026001. 一种线性系统系数推定方法， 该线性系统系数推定方法利用N个Μ维矢量对Μ个对象系数进行并列驱动并获得所述 对象系数的Ν个线性和，通过所述对象系数的Ν个线性和信号与所述Ν个Μ维矢量的内积 运算来推定所述Μ个对象系数的值，所述线性系统系数推定方法的特征在于，包括 ： 噪声去除步骤，在该噪声去除步骤中，通过对所述线性和信号进行滤波，来去除叠加于 所述对象系数的Ν个线性和信号的噪声；以及 推定步骤，在该推定步骤中，通过基于由所述噪声去除步骤去除噪声后得到的Ν个线 性和信号的信号与所述Ν个Μ维矢量的内积运算来推定所述Μ个对象系数的值。2. 如权利要求1所述的线性系统系数推定方法，其特征在于， 所述噪声去除步骤利用离散时间滤波器对所述线性和信号进行滤波。3. 如权利要求2所述的线性系统系数推定方法，其特征在于， 所述Ν个Μ维矢量是通过从基于码长为Ν的Μ序列的Ν个码序列中以不包含延迟了延 迟时钟的量后得到的码序列的方式选择Κ个码序列（Κ<Ν)而构成。4. 如权利要求1所述的线性系统系数推定方法，其特征在于， 所述噪声去除步骤利用自适应滤波器对所述线性和信号进行滤波。5. -种集成电路， 该集成电路包括：驱...

【专利技术属性】
技术研发人员：金泽雄亮，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP