断路器和过电压-欠电压跳闸装置制造方法及图纸

一种用于断路器的过电压-欠电压跳闸装置，包括延时设定低电压检测器、延时设定过电压检测器和开关电路。延时设定低电压检测器在商用电源电压是欠电压时输出低电压检测信号，并且在低电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第一激励电流中断信号。延时设定过电压检测器在商用电源电压是过电压时输出过电压检测信号，并且在过电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第二激励电流中断信号。开关电路基于第一和第二激励电流中断信号中断供应给线圈的激励电流。

【技术实现步骤摘要】
断路器和过电压-欠电压跳闸装置
本专利技术涉及断路器和过电压-欠电压跳闸装置。
技术介绍
当商用电源的电源电压变得低于预定电压时，断路器的欠电压跳闸装置中断从商用电源向负载装置供应电源电压。图8示出传统的过电压-欠电压跳闸装置的示例。单相两线制商用电源AC通过开关2连接到电源电路1。电源电路1从商用电源电压VAC产生DC电源电压Vc。DC电源电压Vc被供应给延时设定过电压检测器3和低电压检测器4。商用电源电压VAC还被供应给信号产生器5。例如，信号产生器5对商用电源电压VAC进行全波整流，以产生比较电压Vrec。比较电压Vrec被供应给延时设定过电压检测器3和低电压检测器4。低电压检测器4将比较电压Vrec与低电压阈值进行比较，以确定商用电源电压VAC的电压电平是否大于不能被负载装置容忍作为电源电压的欠电压。低电压检测器4被连接到低压跳闸线圈6。低压跳闸线圈6被连接到电容器，该电容器具有大容量并起到延时设定装置7的功能。当比较电压Vrec大于或等于低电压阈值时，低压跳闸线圈6被激励。当低压跳闸线圈6被激励时，中断机构10继续向负载装置供应电力。当比较电压Vrec小于低电压阈值时，即，当商用电源电压VAC为欠电压时，低压跳闸线圈6被去激励，中断机构10中断向负载装置供应电力。此外，开关2变为关断(OFF)。这中断了向电源电路1和信号产生器5供应商用电源电压VAC。延时设定过电压检测器3将比较电压Vrec和过电压阈值进行比较，以确定该商用电源的电压VAC的电压电平是否小于不能被负载装置容忍作为电源电压的过电压。延时设定过电压检测器3被连接到开关电路8。开关电路8连接到过电压跳闸线圈9的一端。过电压跳闸线圈9的另一端通过开关2连接到商用电源AC。当比较电压Vrec小于或等于欠电压阈值时，延时设定过电压检测器3输出激励电流中断信号S，以起动开关电路8并去激励过电压跳闸线圈9。当过电压线圈9被去激励时，中断机构11继续向负载装置供应电力。当比较电压Vrec大于过电压阈值，即当商用电源电压AC是过电压时，激励电流中断信号S使开关电路8停用(deactivate)。这激励了过电压跳闸线圈9，并且中断机构11中断向负载装置供应电力。此外，开关2断开，并中断向电源电路1和信号产生器5供应商用电源电压VAC。日本特许公开专利公开号2006-40651描述了当检测到电源电压是欠电压或过电压时使主电源电路停用的电源电路。在如上所述的传统过电压-欠电压跳闸装置中，除了在过电压发生时中断电源供应的中断机构11和过电压跳闸线圈9之外，还需要在欠电压发生时中断电源供应的中断机构10和低电压跳闸线圈6。这扩大了断路器，并且提高了成本。
技术实现思路
本专利技术提供了一种断路器和过电压-欠电压跳闸装置，其减少了尺寸，降低了成本，并稳定了电压灵敏度。本专利技术的一个方面是一种用于断路器的过电压-欠电压跳闸装置，所述断路器包括中断机构，该中断机构在流向线圈的激励电流被中断时中断供应到负载装置的电力。过电压-欠电压跳闸装置包括延时设定低电压检测器，其在商用电源电压是欠电压时输出低电压检测信号，并且在所述低电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第一激励电流中断信号。延时设定过电压检测器在商用电源电压是过电压时输出过电压检测信号，并且在过电压检测信号被输出预定时间或更长时间时，输出第二激励电流中断信号。开关电路基于第一激励电流中断信号和第二激励电流中断信号来中断供应至线圈的激励电流，所述延时设定低电压检测器包括：低电压检测电路，其包括第一比较器，所述第一比较器根据所述商用电源电压产生第一比较电压，并且基于所述第一比较电压与低电压阈值的比较而输出所述低电压检测信号，以及第一延时输出电路，其包括：第一电容器，第一充电电路，由第一晶体管形成，其中所述第一晶体管与所述第一电容器串联连接，且当所述欠电压出现时，所述第一晶体管由所述低电压检测信号起动以对所述第一电容器进行充电，第一放电电路，由第二晶体管形成，其中所述第二晶体管与所述第一电容器并联连接，且当所述欠电压未出现时，所述第二晶体管由所述低电压检测信号起动以对所述第一电容器进行放电，以及第二比较器，其基于所述第一电容器的电位与第一延时输出阈值的比较而输出所述第一激励电流中断信号；并且所述延时设定过电压检测器包括：过电压检测电路，其包括第三比较器，所述第三比较器根据所述商用电源电压产生第二比较电压，并且基于所述第二比较电压与过电压阈值的比较而输出所述过电压检测信号，以及第二延时输出电路，包括：第二电容器，第二充电电路，由第三晶体管形成，其中所述第三晶体管与所述第二电容器串联连接，且当所述过电压出现时，所述第三晶体管由所述过电压检测信号起动以对所述第二电容器进行充电，第二放电电路，由第四晶体管形成，其中所述第四晶体管与所述第二电容器并联连接，且当所述过电压未出现时，所述第四晶体管由所述过电压检测信号起动以对所述第二电容器进行放电，以及第四比较器，其基于所述第二电容器的电位与第二延时输出阈值的比较而输出所述第二激励电流中断信号。本专利技术的另一方面是一种断路器，其包括延时设定低电压检测器、延时设定过电压检测器、线圈、开关电路和中断机构。延时设定低电压检测器在商用电源电压是欠电压时输出低电压检测信号，并且在低电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第一激励电流中断信号。延时设定过电压检测器在商用电源电压是过电压时输出过电压检测信号，并且在过电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第二激励电流中断信号。开关电路基于第一和第二激励电流中断信号来中断供应给线圈的激励电流。当激励电流被中断时，中断机构中断供应至负载装置的电力，所述延时设定低电压检测器包括：低电压检测电路，其包括第一比较器，所述第一比较器根据所述商用电源电压产生第一比较电压，并且基于所述第一比较电压与低电压阈值的比较而输出所述低电压检测信号，以及第一延时输出电路，其包括：第一电容器，第一充电电路，由第一晶体管形成，其中所述第一晶体管与所述第一电容器串联连接，且当所述欠电压出现时，所述第一晶体管由所述低电压检测信号起动以对所述第一电容器进行充电，第一放电电路，由第二晶体管形成，其中所述第二晶体管与所述第一电容器并联连接，且当所述欠电压未出现时，所述第二晶体管由所述低电压检测信号起动以对所述第一电容器进行放电，以及第二比较器，其基于所述第一电容器的电位与第一延时输出阈值的比较而输出所述第一激励电流中断信号；并且所述延时设定过电压检测器包括：过电压检测电路，其包括第三比较器，所述第三比较器根据所述商用电源电压产生第二比较电压，并且基于所述第二比较电压与过电压阈值的比较而输出所述过电压检测信号，以及第二延时输出电路，包括：第二电容器，第二充电电路，由第三晶体管形成，其中所述第三晶体管与所述第二电容器串联连接，且当所述过电压出现时，所述第三晶体管由所述过电压检测信号起动以对所述第二电容器进行充电，第二放电电路，由第四晶体管形成，其中所述第四晶体管与所述第二电容器并联连接，且当所述过电压未出现时，所述第四晶体管由所述过电压检测信号起动以对所述第二电容器进行放电，以及第四比较器，其基于所述第二电容器的电位与第二延时输出阈值的比较而输出所述第二激励电流中断信号。根据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于断路器的过电压‑欠电压跳闸装置，所述断路器包括中断机构，在流向线圈的激励电流被中断时，所述中断机构中断供应给负载装置的电力，所述过电压‑欠电压跳闸装置包括：延时设定低电压检测器，其在商用电源电压是欠电压时输出低电压检测信号，并且在所述低电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第一激励电流中断信号；延时设定过电压检测器，其在所述商用电源电压是过电压时输出过电压检测信号，并且在所述过电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第二激励电流中断信号；以及开关电路，其基于所述第一激励电流中断信号和所述第二激励电流中断信号来中断供应给所述线圈的所述激励电流。

【技术特征摘要】
2013.03.29 JP 2013-0738121.一种用于断路器的过电压-欠电压跳闸装置，所述断路器包括中断机构，在流向线圈的激励电流被中断时，所述中断机构中断供应给负载装置的电力，所述过电压-欠电压跳闸装置包括：延时设定低电压检测器，其在商用电源电压是欠电压时输出低电压检测信号，并且在所述低电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第一激励电流中断信号；延时设定过电压检测器，其在所述商用电源电压是过电压时输出过电压检测信号，并且在所述过电压检测信号被输出预定时间或更长时间时输出第二激励电流中断信号；以及开关电路，其基于所述第一激励电流中断信号和所述第二激励电流中断信号来中断供应给所述线圈的所述激励电流，其中：所述延时设定低电压检测器包括：低电压检测电路，其包括第一比较器，所述第一比较器根据所述商用电源电压产生第一比较电压，并且基于所述第一比较电压与低电压阈值的比较而输出所述低电压检测信号，以及第一延时输出电路，其包括：第一电容器，第一充电电路，由第一晶体管形成，其中所述第一晶体管与所述第一电容器串联连接，且当所述欠电压出现时，所述第一晶体管由所述低电压检测信号起动以对所述第一电容器进行充电，第一放电电路，由第二晶体管形成，其中所述第二晶体管与所述第一电容器并联连接，且当所述欠电压未出现时，所述第二晶体管由所述低电压检测信号起动以对所述第一电容器进行放电，以及第二比较器，其基于所述第一电容器的电位与第一延时输出阈值的比较而输出所述第一激励电流中断信号；并且所述延时设定过电压检测器包括：过电压检测电路，其包括第三比较器，所述第三比较器根据所述商用电源电压产生第二比较电压，并且基于所述第二比较电压与过电压阈值的比较而输出所述过电压检测信号，以及第二延时输出电路，包括：第二电容器，第二充电电路，由第三晶体管形成，其中所述第三晶体管与所述第二电容器串联连接，且当所述过电压出现时，所述第三晶体管由所述过电压检测信号起动以对所述第二电容器进行充电，第二放电电路，由第四晶体管形成，其中所述第四晶体管与所述第二电容器并联连接，且当所述过电压未出现时，所述第四晶体管由所述过电压检测信号起动以对所述第二电容器进行放电，以及第四比较器，其基于所述第二电容器的电位与第二延时输出阈值的比较而输出所述第二激励电流中断信号。2.根据权利要求1所述的过电压-欠电压跳闸装置，其中所述低电压检测电路对所述商用电源电压进行积分以计算所述商用电源电压的有效值作为所述第一比较电压，并基于所述有效值与所述低电压阈值的比较而输出所述低电压检测信号。3.根据权利要求1所述的过电压-欠电压跳闸装置，其中所述低电压检测电路对所述商用电源电压进行积分以计算所述商用电源电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：山添宏一，田中毅，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP