优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器制造技术

技术编号:10466201 阅读:267 留言:0更新日期:2014-09-24 18:13
本发明专利技术公开了一种优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器,采用双传感器设计,一路采用光谱传感器对被测光源的光谱分布进行测量,另外一路采用硅光电二极管作为传感器件同时对被测光源信号进行检测。通过硅光电二极管的测量信号对光谱信号的测量结果进行修正,改善光谱信号测量结果余弦特性。本发明专利技术的优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器同时采用两种采样方式:一种使用硅光电二极管作为传感器件进行光电积分测量;一种使用光谱传感器件进行分光测量。使用聚四氟乙烯材料的半球形余弦校正器。建立数学模型,在算法上对两种采样结果进行综合运算。

【技术实现步骤摘要】
优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器
本专利技术涉及颜色照度测量
,具体涉及一种优化余弦响应设计的手持式光 源颜色照度分光测量仪器。
技术介绍
类似对物体反射色的测量,对光源的辐射强度和颜色属性的测量有光电积分式和 分光光谱式两种。光电积分式测量是采用滤光片匹配仪器相对光谱响应的方法。在滤色片 的设计中,滤色片的相对光谱透过率应满足公式(1)要求:

【技术保护点】
一种优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器,采用双传感器设计,其特征在于:一路采用分光光路结合阵列传感器对被测光源的光谱分布进行测量,另外一路采用硅光电二极管作为传感器件同时对被测光源信号进行检测,通过硅光电二极管的测量结果对光谱传感器的测量结果进行修正,改善测量结果余弦特性。

【技术特征摘要】
1. 一种优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器,采用双传感器设计, 其特征在于:一路采用分光光路结合阵列传感器对被测光源的光谱分布进行测量,另外一 路采用硅光电二极管作为传感器件同时对被测光源信号进行检测,通过硅光电二极管的测 量结果对光谱传感器的测量结果进行修正,改善测量结果余弦特性。2. 如权利要求1所述的优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器,其特 征在于:光路部分采用半球壳形的余弦修正器(1),在半球的底面设置硅光电二极管(2), 在底面的中心位置设置狭缝(3),作为光谱传感器的入射狭缝。3. 如权利要求2所述的优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器,其特 征在于:在底面中心位置设置小孔,为光谱传感器的入射狭缝;采用三个硅光电二极管(2) 以入射狭缝为圆心,间隔120°放置,在底面成对称形排列。4. 如权利要求2所述的优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器,其特 征在于:采用硅光电二极管(2)和光谱传感器同时对被测光源进行测量,分别测得信号为和其中,i为380-780nm范围内波长, 当被测光线从垂直于法线方向入射时,硅光电二极管信号与光谱传感器测得的光谱信 号余弦响应特性一致,两种测得信号应为和:其中为比例系数,为被测光源的在波长i处的光功率分布,为硅光电二极 管的相对光谱响应。5. 如权利要求4所述的优化余弦响应设计的手持式光源颜色照度分光测量仪器,其特 征在于:当对光谱分布为的未知光源进行测试时,光线不沿法线方向入射时,假设硅 光电二极管信号与光谱传感器测得的光谱信号余弦响应特性一致,两种测得信号应为和公式(9)公式(10) 此时,公式(11)成立 公式(11) 但是,在光线不沿法线方向入射时,硅光电二极管的余弦响应误差是较小的,但是分光 光谱信...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁琨
申请(专利权)人:杭州彩谱科技有限公司中国计量学院
类型:发明
国别省市:浙江;33

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