超声波测定装置、超声波图像装置以及测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了超声波测定装置、超声波图像装置以及测定方法，该超声波测定装置能够获取超声波探测器的倾斜信息，当超声波探测器倾斜时，向使用者报告。超声波测定装置包括进行超声波的发送处理的发送部、进行超声波回波的接收处理的接收部、以及进行超声波测定的控制处理的处理部。处理部根据基于来自被检体和超声波测定用薄片的界面的超声波回波或来自超声波测定用薄片的超声波回波的接收信号，获取超声波探测器的倾斜信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超声波测定装置、超声波图像装置以及测定方法等。
技术介绍
作为用于向对象物照射超声波、接收来自对象物内部的声波阻抗不同的界面的反射波并取得对象物的图像等的装置，存在超声波测定装置或超声波图像装置。利用这些装置可以测定皮下脂肪的厚度或肌肉的厚度。例如，在专利文献1中公开了下述方法：手动使超声波探测器沿着被检体表面移动，通过光学位置传感器以及角速度传感器检测平行移动量以及旋转量，由此获得B模式图像，确定皮下脂肪的厚度。【现有技术文献】【专利文献】专利文献1：日本特开2009-77754号公报但是，在这些方法中，在测定所谓的腕或脚这样曲面多的部分时，存在相对于被检体超声波探测器（probe）容易倾斜、难以准确测定等问题。
技术实现思路
根据本专利技术的若干实施例，提供超声波测定装置、超声波图像装置以及测定方法等，其能够获取超声波探测器的倾斜信息，当超声波探测器倾斜时，向使用者报告。本专利技术的一实施例涉及的超声波测定装置包括：发送部，进行超声波的发送处理；接收部，进行超声波回波的接收处理；以及处理部，进行超声波测定的控制处理，所述处理部根据基于来自被检体和超声波测定用薄片的界面的超声波回波或来自所述超声波测定用薄片的超声波回波的接收信号，获取超声波探测器的倾斜信息。根据本专利技术的一实施例，处理部能够获取超声波探测器的倾斜信息，所以能够向使用者报告有无超声波探测器的倾斜。其结果是，使用者能够将超声波探测器相对于被检体保持为不倾斜的状态，并进行测定。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述处理部根据所述接收信号，获取所述界面的超声波测定中的深度信息，根据所述深度信息获取所述倾斜信息。由此，处理部通过获取被检体和超声波测定用薄片的界面的超声波测定中的深度信息，能够获取超声波探测器的倾斜信息。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述处理部进行所述深度信息与所述超声波测定用薄片的基准厚度信息的比较处理，以获取所述倾斜信息。由此，处理部根据深度信息以及超声波测定用薄片的基准厚度信息，能够获取取超声波探测器的倾斜信息。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述深度信息是从所述超声波测定用薄片的与所述超声波探测器相对的面至所述超声波测定用薄片与所述被检体的所述界面为止的超声波出射方向的深度信息。由此，当超声波探测器相对于被检体倾斜时，基于深度信息的深度大于超声波测定用薄片的基准的厚度，因此，处理部通过比较深度信息和超声波测定用薄片的基准厚度信息，能够获取超声波探测器的倾斜信息。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述处理部通过进行将基于所述接收信号的A模式波形中的振幅值或基于所述接收信号的B模式图像中的亮度值与规定的阈值进行比较的处理，指定所述界面。由此，处理部根据基于来自界面的超声波回波的A模式波形或B模式图像，能够指定被检体和超声波测定用薄片的界面，因此，能够获取界面的超声波测定中的深度信息。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述处理部计算基于所述接收信号的B模式图像中的各深度的亮度方差，根据算出的所述亮度方差指定所述超声波测定用薄片与所述被检体的所述界面。由此，处理部根据B模式图像的亮度方差，能够指定被检体和超声波测定用薄片的界面，因此，即使来自界面的超声波回波弱，也能够获取界面的超声波测定中的深度信息。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述处理部根据所述接收信号进行在所述超声波测定用薄片中记录的编码信息的解析处理，根据所述编码信息获取所述超声波测定用薄片的所述基准厚度信息。由此，处理部进行编码信息的解析处理，并能够获取对应于使用的超声波测定用薄片的合适的基准厚度信息，因此，能够利用合适的基准厚度信息获取超声波探测器的倾斜信息。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述处理部根据所述接收信号进行获取在所述超声波测定用薄片中记录的编码信息的处理，根据获取到的所述编码信息指定所述超声波探测器相对于所述超声波测定用薄片的扫描地点，根据所述接收信号，获取被指定的所述扫描地点中的所述超声波探测器的所述倾斜信息。由此，处理部能够指定超声波探测器相对于超声波测定用薄片的扫描地点，并获取被指定的扫描地点中的超声波探测器的倾斜信息。其结果是，对于不习惯超声波测定装置的操作的使用者，也能够在合适的扫描地点以不倾斜的状态保持超声波探测器，从而进行超声波测定。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述超声波测定用薄片具有超声波透过介质、以及埋入所述超声波透过介质的多个反射体，通过所述多个反射体的反射率、个数、形状、尺寸中的至少一个记录所述编码信息，所述接收部进行接收来自所述多个反射体的超声波回波的处理，并向所述处理部输出接收信号，所述处理部根据来自所述接收部的所述接收信号，进行所述编码信息的解析处理。由此，处理部通过解析由多个反射体的反射率、个数、形状、尺寸中的至少一个记录的编码信息，能够获取超声波测定用薄片的基准厚度信息、或指定超声波探测器的扫描地点。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述超声波测定用薄片具有超声波透过介质、以及排列于所述超声波透过介质的多个反射体，所述接收部进行接收来自所述多个反射体的超声波回波的处理，并向所述处理部输出接收信号，所述处理部根据所述接收信号解析基于所述多个反射体的反射次数，根据所述反射次数获取所述超声波探测器的所述倾斜信息。由此，处理部利用具有多个反射体的超声波测定用薄片，解析基于多个反射体的反射次数，从而能够获取超声波探测器的倾斜信息。在本专利技术的一实施例中也可以是，所述处理部根据获取到的所述倾斜信息而判断为所述超声波探测器倾斜时，生成并输出用于报告所述超声波探测器倾斜的报告数据。由此，使用者能够识别有无超声波探测器的倾斜，因此，能够将超声波探测器相对于被检体保持在没有倾斜的状态。其结果是，例如，能够准确地测定被检体的脂肪层的厚度、肌肉层的厚度等。本专利技术的其他实施例涉及的超声波图像装置包括在上述任一项中记载的超声波测定装置、用于显示显示用图像数据的显示部。附图说明图1是超声波测定装置以及超声波图像装置的基本构成例。图2的（A）、图2的（B）是超声波探测器的基本构成例。图3的（A）、图3的（B）是用于说明基于第一构成例的深度信息的获取的示图。图4的（A）、图4的（B）是用于说明基于第一构成例的超声波探测器倾斜时的深度信息的获取的示图。图5是用于说明超声波探测器的倾本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超声波测定装置，其特征在于，包括：发送部，进行超声波的发送处理；接收部，进行超声波回波的接收处理；以及处理部，进行超声波测定的控制处理，所述处理部根据基于来自被检体和超声波测定用薄片的界面的超声波回波或来自所述超声波测定用薄片的超声波回波的接收信号，获取超声波探测器的倾斜信息。

【技术特征摘要】
2013.03.15 JP 2013-0532291.一种超声波测定装置，其特征在于，包括：
发送部，进行超声波的发送处理；
接收部，进行超声波回波的接收处理；以及
处理部，进行超声波测定的控制处理，
所述处理部根据基于来自被检体和超声波测定用薄片的界面
的超声波回波或来自所述超声波测定用薄片的超声波回波的接收信
号，获取超声波探测器的倾斜信息。
2.根据权利要求1所述的超声波测定装置，其特征在于，
所述处理部根据所述接收信号，获取所述界面的超声波测定中
的深度信息，根据所述深度信息获取所述倾斜信息。
3.根据权利要求2所述的超声波测定装置，其特征在于，
所述处理部进行所述深度信息与所述超声波测定用薄片的基
准厚度信息的比较处理，以获取所述倾斜信息。
4.根据权利要求3所述的超声波测定装置，其特征在于，
所述深度信息是从所述超声波测定用薄片的与所述超声波探
测器相对的面至所述超声波测定用薄片与所述被检体的所述界面为
止的超声波出射方向的深度信息。
5.根据权利要求3或4所述的超声波测定装置，其特征在于，
所述处理部通过进行将基于所述接收信号的A模式波形中的
振幅值或基于所述接收信号的B模式图像中的亮度值与规定的阈值
进行比较的处理，指定所述界面。
6.根据权利要求3或4所述的超声波测定装置，其特征在于，
所述处理部计算基于所述接收信号的B模式图像中的各深度
的亮度方差，根据算出的所述亮度方差指定所述超声波测定用薄片
与所述被检体的所述界面。
7.根据权利要求3至6中任一项所述的超声波测定装置，其特征在于，
所述处理部根据所述接收信号进行在所述超声波测定用薄片
中记录的编码信息的解析处理，根据所述编码信息获取所述超声波
测定用薄片的所述基准厚度信息。
8.根据权利要求3至6中任一项所述的超声波测定装置，其特征在于，
所述处理部根据所述接收信号进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：林正树，渡边亮基，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP