一种评片尺制造技术

本实用新型专利技术提供一种评片尺，包括长方形尺片，该尺片上设有检测区、标准件存放区和刻度区，且该检测区、标准件存放区和刻度区位于尺片的同一表面上；所述检测区为长方形，在该检测区内设有检测条格，所述检测区内设有长方形检测卡，该检测卡上设有多个检测圆和检测方格，所述检测圆的每一个圆中设有两条间距正好为该圆三分之一直径的平行弦，所述第一对比区和第二对比区，所述标准件存放区沿其长边所在的方向分别设有卡紧件。本实用新型专利技术结构紧凑，使用简单便捷，能够对射线底片进行很好地测量。

【技术实现步骤摘要】
一种评片尺
本技术属于射线检测领域，尤其是涉及一种评片尺。
技术介绍
现代的技术条件下，对于X底片焊缝等缺陷的检测一般采用评片尺，但是在应用普通的评片尺无法快速得出某一缺陷的具体性质，例如无法判断该缺陷是否为圆形缺陷(即长宽比小于等于3为圆形缺陷，否则为条形缺陷)、无法快速得出不规则缺陷的最大长度、没有做好条形缺陷评定区、无法对成组的条形缺陷进行准确评定；对缺陷的定性往往依靠检测人员的经验，因此这种检测方式影响了评片的效率和准确度，而准确度评判的失真将直接导致X底片的质量等级的确定，进而直接对医疗、精密仪器等应用X射线的领域造成严重后果，后来由天津市思维奇工程检测技术有限公司研发的、申请号为201110206681.3一种多功能射线检测评片尺解决了上述问题，该评片尺包括尺片，在尺片上设有直尺、评片标准袋、测长圆区、条形缺陷评定区、圆形缺陷评定区，该评片尺虽然得到较好的应用，但是该评片尺尺寸较大，结构复杂，另外该评片尺设有平片标准袋，将评片标准卡片装入评片袋中作为参考，该结构对于更换标准卡片较复杂。
技术实现思路
本技术要解决的问题是提供一种使用简单，结构紧凑的评片尺，应用该评片尺可以快速准确的对X射线底片进行检测。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是:一种评片尺，包括长方形尺片，该尺片上设有检测区、标准件存放区和刻度区，且该检测区、标准件存放区和刻度区位于尺片的同一表面上；所述刻度区为两个，分别设置于尺片长度方向和宽度方向上，所述检测区为长方形，该检测区通过其长边和宽边与两个刻度区相邻，所述检测区通过另一个宽边与标准件存放区相邻；在所述检测区内设有六个不同宽度的检测条格，并且所述检测条格的长度相等，所述检测区内设有长方形检测卡，该检测卡上设有多个不等直径的检测圆和多个等边长的检测方格，所述检测圆的圆中设有两条间距正好为该圆三分之一直径的平行弦，所述检测卡与尺片可移动连接；所述标准件存放区为长方形，并且在该标准件存放区长边方向上分别设有卡紧件。进一步，所述六个检测条格的宽度依次排列为4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm。进一步，所述检测圆数量为11个，直径分别为0.5mm、0.7mm、lmm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mmο进一步，所述检测方格的数量为5个，其大小均为10mm*10mm，并且该5个检测方格排成一列。进一步，在尺片的一侧边缘设有提板，该提板和检测区位于尺片的同一表面上且垂直于尺片。进一步，所述检测圆的平行弦上均设有荧光粉。本技术具有的优点和积极效果是:I).本技术设有检测卡，该检测卡上设有检测圆和方形格，检测圆内设有三分之一直径的平行弦，该结构可以用来判定底片的缺陷性质，即判定缺陷是否为圆形缺陷，并且其设有的多个方形格能够快速判定最严重的圆形缺陷的所在，该检验卡在检测区内可以移动，与检测条格配合使用，结构紧凑使用方便。2).本技术中设有刻度区，省却了学生尺的应用，确定缺陷尺寸时使用方便，检测速度更快。3).本技术中标准片采用通过卡紧件插入的方式，该结构保证标准件能够快速更换。4).本技术采用了六个检测条格,其排列顺序依次为4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm,通过尺寸的叠加可以快速得到11mm、13mm、15mm、17mm等尺度，因此增加了评判的范围，加快了评片进度。5).本技术中，在尺片的一侧边缘设有提板，该设计便于拿取尺片，使得检测更加轻松。6).本技术中，在检测圆的平行弦上均设有荧光粉，由于荧光粉对光的特殊反应，该设计更加醒目，因此检测工作简单快捷。【附图说明】图1是本技术主视示意图；图2是本技术俯视示意图；图3是本技术中的尺片结构示意图；图4是本技术检测卡示意图；图中:1.尺片，2.标准件存放区，3、12.卡紧件，6.检测区，7.刻度区，8.检测卡，9.检测方格，10.检测圆，11.提板。【具体实施方式】下面结合附图对本技术的具体实施例做详细说明。如图1?图4所示，一种评片尺，在此实施例中该评片尺为透明塑料制成，包括长方形尺片1，该尺片I上设有检测区6、标准件存放区2和刻度区7，且该检测区6、标准件存放区2和刻度区7位于尺片I的同一表面上；所述刻度区7为两个，分别设置于尺片I长度方向和宽度方向上，所述检测区6为长方形，该检测区6通过其长边和宽边与两个刻度区7相邻，所述检测区6通过另一个宽边与标准件存放区2相邻；在所述检测区6内设有六个不同宽度的检测条格，并且所述检测条格的长度相等，所述检测区6内设有长方形检测卡8，该检测卡8上设有多个不等直径的检测圆10和多个等边长的检测方格9，所述检测圆10的圆中设有两条间距正好为该圆三分之一直径的平行弦，所述检测卡8与尺片I可移动连接，本实施例中，在检测区的宽边方向上设有数个卡紧件3、12，该卡紧件3设为倒L型，卡紧件12为T型，检测卡由卡紧件3、12插入检测区并在检测区内根据需要移动；本实施例中各种图形均可以绘制或者刻制的方式印于尺片上；所述标准件存放区2为长方形，并且在该标准件存放区2长边方向上分别设有卡紧件3、12。进一步,所述六个检测方格9的宽度依次排列为4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm。进一步，所述检测圆10数量为11个,直径分别为0.5mm、0.7mm、1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mmo进一步，所述检测方格9的数量为5个，其大小均为10mm*10mm，并且该5个检测方格排成一列。进一步，在尺片I的一侧边缘上设有提板11，该提板11和检测区6位于尺片I的同一表面上且垂直于尺片I。进一步，所述检测圆10的平行弦上均设有荧光粉。实施本技术时，首先将标准件插入至评片尺的标准件存放区内，然后将本评片尺置于底片上，观察底片上缺陷的性质，先利用肉眼进行观察，粗判断缺陷是条性还是圆形，然后根据判断结果移动检测卡，这样对缺陷进一步检测，参照标准件存放区内设有的标准卡，工作人员根据检测卡所显示的结果对缺陷进行定性。以上对本技术的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本技术的实施范围。凡依本技术申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本技术的专利涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种评片尺，其特征在于：包括长方形尺片，该尺片上设有检测区、标准件存放区和刻度区，且该检测区、标准件存放区和刻度区位于尺片的同一表面上；所述刻度区为两个，分别设置于尺片长度方向和宽度方向上，所述检测区为长方形，该检测区通过其长边和宽边与两个刻度区相邻，所述检测区通过另一个宽边与标准件存放区相邻；在所述检测区内设有六个不同宽度的检测条格，并且所述检测条格的长度相等，所述检测区内设有长方形检测卡，该检测卡上设有多个不等直径的检测圆和多个等边长的检测方格，所述检测圆的圆中设有两条间距正好为该圆三分之一直径的平行弦，所述检测卡与尺片可移动连接；所述标准件存放区为长方形，并且在该标准件存放区长边方向上分别设有卡紧件。

【技术特征摘要】
1.一种评片尺，其特征在于:包括长方形尺片，该尺片上设有检测区、标准件存放区和刻度区，且该检测区、标准件存放区和刻度区位于尺片的同一表面上；所述刻度区为两个，分别设置于尺片长度方向和宽度方向上，所述检测区为长方形，该检测区通过其长边和宽边与两个刻度区相邻，所述检测区通过另一个宽边与标准件存放区相邻； 在所述检测区内设有六个不同宽度的检测条格，并且所述检测条格的长度相等，所述检测区内设有长方形检测卡，该检测卡上设有多个不等直径的检测圆和多个等边长的检测方格，所述检测圆的圆中设有两条间距正好为该圆三分之一直径的平行弦，所述检测卡与尺片可移动连接； 所述标准件存放区为长方形，并且在该标准件存放区长边方向上分别设有卡紧件。2...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴丽君，
申请(专利权)人：天津市思维奇工程检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12