【技术实现步骤摘要】
开关键安装不良检测治具
本技术属于内孔孔径检测治具
，具体的说是涉及一种开关键安装不良检测治具。
技术介绍
通常现有技术中各种电子产品的开关键都是采用圆形开关键，所以用于放置开关键的孔位也是圆形。现有技术中用于安装开关键的工件通常都是成批热压或注塑成型，这些工件通常孔位偏小，不良率较高，操作工人通常都是通过目视或卡尺等量测工具来对工件进行检测，这些方法的检测标准不明确，通常都是靠工人的经验进行检测，人工操作不方便，作业强度较大，容易漏检而出现不良品，热熔电源开灯使产品热熔后无法修复造成卡键报废。在实际操作中工人组装开关键时经常因孔位尺寸偏小而造成产品组装后卡键等现象，从而造成整个工件报废，而且圆形孔位的内径人员不易检验，使得在以往作业中的每日不良品甚多。因为组装开关键通常都是在生产线流程的后半段，产品的拆卸维修使得前段生产的工件报废，所以会造成大量人力物力的浪费。现在亟需制作一种辅助治具，用后将不良控制在第一站，这样既方便作业又使不良报废降至零报废，从而节约人力物力成本。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术存在的不足，提供一种利用产品孔位内框尺寸而制造的仿型孔位检测治具，其是一种结构简单、拦截不良、保证品质的开关键安装不良检测治具。本技术是通过以下技术方案实现的:一种开关键安装不良检测治具，其是由三段内直径依次减小的圆形台阶构成的钢柱，三段圆形台阶的圆心在同一条直线上，三段圆形台阶由上至下依次为内直径最大的治具本体、内直径居中的止规和内直径最小的通规。所述钢柱为一体成型钢柱。治具本体的内直径为15mm，止规的内直径为10.16m...
【技术保护点】
一种开关键安装不良检测治具，其特征在于：所述开关键安装不良检测治具是由三段内直径依次减小的圆形台阶构成的钢柱，所述三段圆形台阶的圆心在同一条直线上，所述三段圆形台阶由上至下依次为内直径最大的治具本体、内直径居中的止规和内直径最小的通规。
【技术特征摘要】
1.一种开关键安装不良检测治具，其特征在于:所述开关键安装不良检测治具是由三段内直径依次减小的圆形台阶构成的钢柱，所述三段圆形台阶的圆心在同一条直线上，所述三段圆形台阶由上至下依次为内直径最大的治具本体、内直径居中的止规和内直径最小的通规。2.根据权利要求1所述的开关键安装不良检测治具，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：许择方，
申请(专利权)人：大碇电脑配件上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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