磁性芯片磁参数批量化测试系统技术方案

磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台，被测芯片放置在测试平台上，磁场发生装置连接电源和调压器，磁场发生装置通过控制电路模块连接处理器装置；被测芯片通过数据采集模块连接处理器装置。本实用新型专利技术一种磁性芯片磁参数批量化测试系统，可对芯片的磁性能进行批量的、快速的、无损的检测。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台，被测芯片放置在测试平台上，磁场发生装置连接电源和调压器，磁场发生装置通过控制电路模块连接处理器装置；被测芯片通过数据采集模块连接处理器装置。本技术一种磁性芯片磁参数批量化测试系统，可对芯片的磁性能进行批量的、快速的、无损的检测。【专利说明】磁性芯片磁参数批量化测试系统
本技术一种磁性芯片磁参数批量化测试系统，涉及磁参数无损检测领域。
技术介绍
磁传感器在磁场传感、接近传感、转动速率传感、线性传感、电流传感以及角度、导航、磁异态检测、位移或位置等许多传感领域有广泛的应用。磁传感器的核心部件为磁性芯片，现有的磁性芯片主要基于霍尔效应、巨磁电阻效应和磁隧道结效应三种类型，磁性芯片的磁性能直接决定磁传感器的应用领域及范围，因此在磁性芯片出厂前必须对芯片的磁性能做出检测，以判断是否达到其技术要求。现有的芯片检测设备是把芯片与设备连接起来，进行逐个检测，效率极低，操作复杂，且在连接过程中容易损坏芯片，不能实现芯片的批量化、无损检测。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供一种磁性芯片磁参数批量化测试系统，可对芯片的磁性能进行批量的、快速的、无损的检测。本技术采取的技术方案为:磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台，被测芯片放置在测试平台上，磁场发生装置连接电源和调压器，磁场发生装置通过控制电路模块连接处理器装置；被测芯片通过数据采集模块连接处理器装置。所述测试平台内壁设有多层刻槽，每层刻槽内设有电路板，每一个电路板上放置有多个被测芯片。所述磁场发生装置为亥姆霍兹线圈。所述处理器装置连接图像显示终端、打印终端。所述处理器装置为计算机。本技术磁性芯片磁参数批量化测试系统，技术效果如下:由计算机自动控制励磁电流的大小，进而调节磁场的值，无需手动操作。磁场由亥姆霍兹线圈产生，均匀区大，在磁场的均匀区安放测试平台，测试平台的内壁设有多层刻槽，每层电路板可在刻槽内自由抽拉，刻槽起固定和导通电路板的作用，每层电路板上可同时放置多个芯片。在磁场的作用下各个芯片的磁性能经数据采集模块采集和计算机处理后可显示在图像显示终端上，并给出每个磁性芯片是否达到技术指标，操作简单，可对磁性芯片的磁性能进行批量的、快速的、无损的检测。【专利附图】【附图说明】图1是本技术的测试平台及放置位置示意图；图2是本技术模块连接示意图。【具体实施方式】如图1、图2所示，磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台2，被测芯片放置在测试平台2上，磁场发生装置连接电源4和调压器3，磁场发生装置通过控制电路模块5连接处理器装置I ;被测芯片通过数据采集模块6连接处理器装置I。所述测试平台2内壁设有多层刻槽，每层刻槽内设有电路板2.1，每层电路板2.1可在刻槽内自由抽拉，刻槽起固定和导通电路板2.1的作用。每一个电路板2.1上放置有多个被测芯片。所述磁场发生装置为亥姆霍兹线圈7。所述处理器装置I连接图像显示终端8、打印终端9。所述处理器装置I为计算机。亥姆霍兹线圈7外接220V的交流电，经调压器3和控制电路模块5的处理后，交流电转化成可线性输出的直流电，直流电接到亥姆霍兹线圈7上，在直流电的作用下，亥姆霍兹线圈7产生线性变化的磁场。通过调节激励源电流的大小进而调节磁场的大小，亥姆霍兹线圈7的磁场的均匀区大，稳定性强且灵敏度高。在磁场的均匀区放置测试平台2，用户可在测试平台2上安放多个被测芯片。控制电路模块5主要包括磁场控制部分、信号采集处理部分。控制电路模块5调节磁场的大小，测出每个被测芯片的磁性能。在磁场的作用下，各个芯片的电压输出和参数发生改变，数据采集模块6采集每个芯片的信号，计算机对所采集到的信号进行处理，判断并显示计算机上各个被测芯片的磁性能及是否达到技术指标，对合格和不合格的芯片均在对应位置标示出来。另外被测芯片的磁性数据还可以由打印终端9打印出来；或者把其电子文档拷贝出来。【权利要求】1.磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台(2)，被测芯片放置在测试平台(2)上，其特征在于，磁场发生装置连接电源(4)和调压器(3)，磁场发生装置通过控制电路模块(5)连接处理器装置(I);被测芯片通过数据采集模块(6 )连接处理器装置(I); 所述测试平台(2)内壁设有多层刻槽，每层刻槽内设有电路板(2.1)，每一个电路板(2.1)上放置有多个被测芯片； 所述磁场发生装置为亥姆霍兹线圈(7)； 所述处理器装置(I)为计算机。2.根据权利要求1所述磁性芯片磁参数批量化测试系统，其特征在于，所述处理器装置(I)连接图像显示终端(8 )、打印终端(9 )。【文档编号】G01R33/12GK203811788SQ201420042144【公开日】2014年9月3日 申请日期:2014年1月17日 优先权日:2014年1月17日 【专利技术者】于晓东 申请人:宜昌东方微磁科技有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台（2），被测芯片放置在测试平台（2）上，其特征在于，磁场发生装置连接电源（4）和调压器（3），磁场发生装置通过控制电路模块（5）连接处理器装置（1）；被测芯片通过数据采集模块（6）连接处理器装置（1）；所述测试平台（2）内壁设有多层刻槽，每层刻槽内设有电路板（2.1），每一个电路板（2.1）上放置有多个被测芯片；所述磁场发生装置为亥姆霍兹线圈（7）；所述处理器装置（1）为计算机。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：于晓东，
申请(专利权)人：宜昌东方微磁科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42