双波长化合物结构分析仪，其特征在于，主要包括：第一光源装置，第二光源装置，光束分离装置，进样装置，第一检测装置，第二检测装置，光束信号分析装置，检测结果显示装置，其中，第一光源装置含有离子光束发射电极，该电极材料为氧化镉钆，第二光源装置含有高能光束发射电极,该电极材料为氧化钐铒，光束分离装置含有十二棱透射光栅，该光栅表面覆盖有厚度为5.98um的八硫化钕酸锆复合透光膜，第一检测装置含有光电管，光电管阴极材料含有十二硫酸钡鐽氯化锇纳米复合薄膜，第二检测装置含有光电倍增管，其阴极材料表面含有偏溴酸钪氧化铬锆纳米复合薄膜。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】双波长化合物结构分析仪，其特征在于，主要包括：第一光源装置，第二光源装置，光束分离装置，进样装置，第一检测装置，第二检测装置，光束信号分析装置，检测结果显示装置，其中，第一光源装置含有离子光束发射电极，该电极材料为氧化镉钆，第二光源装置含有高能光束发射电极,该电极材料为氧化钐铒，光束分离装置含有十二棱透射光栅，该光栅表面覆盖有厚度为5.98um的八硫化钕酸锆复合透光膜，第一检测装置含有光电管，光电管阴极材料含有十二硫酸钡鐽氯化锇纳米复合薄膜，第二检测装置含有光电倍增管，其阴极材料表面含有偏溴酸钪氧化铬锆纳米复合薄膜。【专利说明】双波长化合物结构分析仪
本专利技术涉及结构分析领域，尤其涉及双波长化合物结构分析仪。
技术介绍
双波长分析技术，本质上是物质中的分子和原子吸收了入射光中的某些特定波长的光能量，相应地发生了分子振动能级跃迁和电子能级跃迁的结果。由于各种物质具有各自不同的分子、原子和不同的分子空间结构，其吸收光能量的情况也就不会相同。因此，每种物质就有其特有的、固定的吸收光谱曲线，可根据吸收光谱上的某些特征波长处的吸光度的高低判别或测定该物质的含量，根据物质的吸收光谱研究物质的成分、结构和物质间相互作用的有效手段，但是传统单波长分析技术往往存在杂光闪射、灵敏度低、选择程度不高等问题，因此为了有效解决上述不足，可以通过设计一种双波长光束分析的装置来解决。
技术实现思路
为了克服现有装置的不足之处，本专利技术采用的技术方案如下:双波长化合物结构分析仪，其特征在于，主要包括:I—第一光源装置，2—第二光源装置，3—光束分离装置，4-进样装置，5-第一检测装置，6—第二检测装置，7-光束信号分析装置，8—检测结果显示装置，其中，第一光源装置(I)含有离子光束发射电极，该电极材料为氧化镉钆，第二光源装置(2)含有高能光束发射电极，该电极材料为氧化钐铒，光束分离装置(3)含有十二棱透射光栅，该光栅表面覆盖有厚度为5.98um的八硫化钕酸错复合透光膜，第一检测装置(5)含有光电管，光电管阴极材料含有十二硫酸钡鐽氯化锇纳米复合薄膜，第二检测装置(6)含有光电倍增管，其阴极材料表面含有偏溴酸钪氧化铬锆纳米复合薄膜。第一光源装置(I)主要用于热辐射光束的产生，能够提供可见光谱区域的光束；第二光源装置(2)主要用于气体放电光束的产生，能够提供具有足够强度和良好稳定性的紫外光谱；光束分离装置(3)主要用于入射光束的校正与光谱的筛选分离，通过入射狭缝、色散装置、聚集装置以及出射狭缝，能够有效调节光谱范围以及光束波长。进样装置(4)主要用于样品试样的导入和波长光束的吸收载体；第一检测装置(5)主要用于光电信号的转换与记录，对于不同的波段，装置能够识别其光谱区间范围，具有较高的灵敏度；第二检测装置(6)主要用于光电信号的放大与转化，对于光谱变化很敏感，适应范围广，不易疲劳。光束信号分析装置(7)主要用于光束吸收后波段变化的光谱分析，并结合分析物质的基团、共轭体系以及构象，分析化合物的结构特征。检测结果显示装置(8)主要用于样品结构光谱分析结果的显示与记录。本专利技术与现有技术相比具有的有益效果是:(I)能够结合分析物质的基团、共轭体系以及构象，分析化合物的结构特征；(2)对于光谱变化很敏感，适应范围广，不易疲劳；(3)对于不同的波段，装置能够识别其光谱区间范围，具有较高的灵敏度。【专利附图】【附图说明】图1是双波长化合物结构分析仪的示意图如图1所示，本专利技术所述的双波长化合物结构分析仪，主要包括:I—第一光源装置，2—第二光源装置，3—光束分离装置，4-进样装置，5-第一检测装置，6—第二检测装置，7-光束信号分析装置，8—检测结果显示装置，下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细的描述。【具体实施方式】首先，通过第一光源装置(I)产生合适的光谱范围的光束，为了消除干扰波段的影响，引入第二光源装置(2)，通过第二光源装置(2)产生足够强度的相干光束，结合光束分离装置(3)的波段筛选与光谱分离作用，实现干扰波段的抵消。通过进样装置(4)实现样品的制作与导入，光束通过样品后，部分波段的光谱被吸收；被部分吸收后的光束通过第一检测装置(5)和第二检测装置(6)的共同信号转换，实现光谱吸收变化转换效率的提高，便于提高分析灵敏度和光谱分析范围，检测信号放大后输送到光束信号分析装置(7)，结合分析化合物结构的特征，进一步分析样品的物理化学参数，最后将分析结果通过检测结果显示装置(8)予以显示和记录。【权利要求】1.双波长化合物结构分析仪，其特征在于，主要包括: 1-第一光源装置，2--第二光源装置，3-光束分离装置， 4-进样装置，5-第一检测装置，6—第二检测装置， 7-光束信号分析装置，8—检测结果显示装置， 其中， 第一光源装置(1)含有离子光束发射电极，该电极材料为氧化镉钆， 第二光源装置(2)含有高能光束发射电极，该电极材料为氧化钐铒， 光束分离装置(3)含有十二棱透射光栅，该光栅表面覆盖有厚度为5.98um的八硫化钕酸锆复合透光膜， 第一检测装置(5)含有光电管，光电管阴极材料含有十二硫酸钡鐽氯化锇纳米复合薄膜， 第二检测装置(6)含有光电倍增管，其阴极材料表面含有偏溴酸钪氧化铬锆纳米复合薄膜。【文档编号】G01N21/33GK104020115SQ201410230717【公开日】2014年9月3日 申请日期:2014年5月28日 优先权日:2014年5月28日 【专利技术者】储冬红, 彭飞, 郭睦庚, 严方园 申请人:成都中远千叶科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
双波长化合物结构分析仪，其特征在于，主要包括：1‑‑第一光源装置，2‑‑第二光源装置，3‑‑光束分离装置，4‑‑进样装置，5‑‑第一检测装置，6‑‑第二检测装置，7‑‑光束信号分析装置，8‑‑检测结果显示装置，其中，第一光源装置（1）含有离子光束发射电极，该电极材料为氧化镉钆，第二光源装置（2）含有高能光束发射电极, 该电极材料为氧化钐铒，光束分离装置（3）含有十二棱透射光栅，该光栅表面覆盖有厚度为5.98um的八硫化钕酸锆复合透光膜，第一检测装置（5）含有光电管，光电管阴极材料含有十二硫酸钡鐽氯化锇纳米复合薄膜，第二检测装置（6）含有光电倍增管，其阴极材料表面含有偏溴酸钪氧化铬锆纳米复合薄膜。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：储冬红，彭飞，郭睦庚，严方园，
申请(专利权)人：成都中远千叶科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
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