【技术实现步骤摘要】
样品分子特性谱线分析仪
本专利技术涉及特性谱线分析领域，尤其涉及样品分子特性谱线分析仪。
技术介绍
分子特性谱线分析，主要通过分子的内部运动状态发生变化所产生的吸收或发射光谱，从紫外到远红外直至微波谱，包括整个分子的转动，分子中原子在平衡位置的振动以及分子内电子的运动，包括转动光谱、振动光谱和电子光谱。分子中的电子在不同能级上的跃迁产生电子光谱，由于它们处在紫外与可见区，为紫外可见光谱，电子跃迁常伴随能量较小的振转跃迁带状光谱。与同一电子能态的不同振动能级跃迁对应振动光谱，这部分光谱处在红外区。振动伴随着转动能级的跃迁，光谱有较多较密谱线，由分子转动能级间的跃迁产生转动光谱，这部分光谱位于波长较长的远红外区和微波区。但是现有分析技术，对于分子光谱与分子的转动惯量、分子的键长和键强度以及分子离解能、分子的结构的分析准确度还不够高，因此，需要对现有技术加以改进。
技术实现思路
为了克服现有装置的不足之处，本专利技术采用的技术方案如下:样品分子特性谱线分析仪，其特征在于，主要包括:1-进样装置，2—样品导入装置，3—样品预处理装置，4一样品微粒化装置，5-流体控制装置，6—样品热处理装置，7-特征谱线分析装置，8—信号放大装置，9一信号显示与记录装置，其中，样品导入装置(2)含有样品导流管，该导流管材料为偏铬酸氧化钐镉合金，样品微粒化装置(4)含有颗粒降解电极，该电极材料为氧化铌钷合金，流体控制装置(5)含有流体离子筛选板,该筛选板材料为六娃烧溴化镨镑纳米复合材料，特征谱线分析装置(7)含有九棱柱型偏振特征谱线分析透镜，该透镜表面镀有厚度为30um的偏硅...
【技术保护点】
样品分子特性谱线分析仪，其特征在于，主要包括：1‑‑进样装置，2‑‑样品导入装置，3‑‑样品预处理装置， 4‑‑样品微粒化装置，5‑‑流体控制装置，6‑‑样品热处理装置， 7‑‑特征谱线分析装置，8‑‑信号放大装置，9‑‑信号显示与记录装置，其中，样品导入装置（2）含有样品导流管，该导流管材料为偏铬酸氧化钐镉合金，样品微粒化装置（4）含有颗粒降解电极，该电极材料为氧化铌钷合金，流体控制装置（5）含有流体离子筛选板，该筛选板材料为六硅烷溴化镨铹纳米复合材料，特征谱线分析装置（7）含有九棱柱型偏振特征谱线分析透镜，该透镜表面镀有厚度为30um的偏硅酸氟化ð¨镤纳米复合透
【技术特征摘要】
1.样品分子特性谱线分析仪，其特征在于，主要包括: 1--进样装置，2-样品导入装置，3-样品预处理装置，4-样品微粒化装置，5-流体控制装置，6—样品热处理装置，7—特征谱线分析装置，8—信号放大装置，9一信号显示与记录装置， 其中， 样品导入装置(2)含有样品导流管，该导流管材料为...
【专利技术属性】
技术研发人员：储冬红，彭飞，郭睦庚，
申请(专利权)人：成都中远千叶科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。