本发明专利技术公开了一种测量磁性元件磁通量的方法及其装置，通过将待测磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，待测磁性元件的充磁方向沿亥姆霍茨线圈的轴向且待测磁性元件位于第一线圈和第二线圈正中间；将磁通计清零后采用翻转机构将待测磁性元件翻转180度后保持静止，读取磁通计的输出值，该输出值即为待测磁性元件的磁通量值，由此测得待测磁性元件的磁通量值；优点是在测量过程中，不需要划定亥姆霍兹线圈的磁场区域，通过翻转机构将磁性元件翻转180度即可测得磁通量，操作简单，劳动强度低，测试效率较高，翻转机构可使待测磁性元件的测试条件和位置相同，测试数据的可重复性和准确性较高，并且不受限于磁性元件的体积大小。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种测量磁性元件磁通量的方法及其装置，通过将待测磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，待测磁性元件的充磁方向沿亥姆霍茨线圈的轴向且待测磁性元件位于第一线圈和第二线圈正中间；将磁通计清零后采用翻转机构将待测磁性元件翻转180度后保持静止，读取磁通计的输出值，该输出值即为待测磁性元件的磁通量值，由此测得待测磁性元件的磁通量值；优点是在测量过程中，不需要划定亥姆霍兹线圈的磁场区域，通过翻转机构将磁性元件翻转180度即可测得磁通量，操作简单，劳动强度低，测试效率较高，翻转机构可使待测磁性元件的测试条件和位置相同，测试数据的可重复性和准确性较高，并且不受限于磁性元件的体积大小。【专利说明】—种测量磁性元件磁通量的方法及其装置
本专利技术涉及一种磁通量测试技术，尤其是涉及一种测量磁性元件磁通量的方法及其装置。
技术介绍
随着科学技术的发展，磁性元件的应用领域日益扩大。与此同时，磁性元件的质量要求也在不断提高。为了保证磁性元件的质量，在磁性元件生产完成后，需要检测其各个重要性能参数是否在合格范围内。磁通量作为磁性元件重要性能指标之一，成为了磁性元件的必检项目之一。目前，一般采用亥姆霍兹线圈和磁通计来测量磁性元件磁通量，主要过程为:首先根据待测磁性元件的规格大小来选择亥姆霍茨线圈的型号，亥姆霍茨线圈的磁场区域由其型号及磁性元件规格大小确定，然后将亥姆霍兹线圈和磁通计连接，将磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，接着将磁通计清零，然后将待测磁性元件从亥姆霍兹线圈并远离亥姆霍兹线圈至磁场区域外并静止，读取此时磁通计的输出值即为待测磁性元件的磁通量值。上述测量磁通量的方法主要利用了亥姆霍茨线圈的原理，当磁性元件远离亥姆霍兹线圈时，磁性元件切割亥姆霍茨线圈的磁力线产生感应电流，磁通计采集感应电流后得到磁性元件的磁通量值输出。但是上述方法存在以下问题:一、磁通量值会受到磁性元件远离亥姆霍兹线圈的距离的影响，测试人员手工移动磁性元件，无法保证待测磁性元件都处于相同的测试位置，由此导致测试得到的各磁性元件磁通量数据相差较多，数值的可重复性和准确性较差；二、磁性元件需要先放入磁通线圈内然后人工将磁性元件远离亥姆霍茨线圈才能完成一个检测过程，操作比较复杂，劳动强度较大，测试效率较低；三、体积较大的磁性元件测试范围距离亥姆霍兹线圈比较远，上述方法不具备可操作性，由此该方法只适用于体积相对较小的磁性元件的测试。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题之一是提供一种操作简单，劳动强度低，测试效率较高，测试数据的可重复性和准确性较高，且不受限于磁性元件的体积大小的测量磁性元件磁通量的方法。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案为:一种测量磁性元件磁通量的方法，包括以下步骤:①将亥姆霍兹线圈和磁通计连接，所述的亥姆霍兹线圈包括支撑座、同轴设置在所述的支撑座左右两端的第一线圈和第二线圈；②将待测磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，待测磁性元件的充磁方向沿所述的亥姆霍茨线圈的轴向且待测磁性元件位于所述的第一线圈和所述的第二线圈正中间，待测磁性元件朝向所述的第一线圈的端面为第一端面，待测磁性元件朝向所述的第二线圈的端面为第二端面；③将磁通计清零；④采用翻转机构将待测磁性元件翻转180度后保持静止，此时，待测磁性元件的第一端面朝向所述的第二线圈，待测磁性元件的第二端面朝向第一线圈；⑤读取磁通计的输出值，该输出值即为待测磁性元件的磁通量值。所述的步骤④中的翻转机构的一端设置有用于安装固定磁性元件的定位台，所述的定位台位于所述的第一线圈和所述的第二线圈之间，测试时，将磁性元件装入所述的定位台中，磁性元件的充磁方向沿所述的亥姆霍茨线圈的轴向且磁性元件位于所述的第一线圈和所述的第二线圈正中间，磁性元件朝向所述的第一线圈的端面为第一端面，磁性元件朝向所述的第二线圈的端面为第二端面，磁通计清零后翻转机构驱动磁性元件翻转180度后静止，读取磁通计得到磁性元件磁通量，此时磁性元件的第一端面朝向所述的第二线圈，磁性元件的第二端面朝向所述的第一线圈。所述的翻转机构包括旋转气缸、夹紧气缸、固定设置所述的旋转气缸的转轴上的安装板和固定设置在所述的夹紧气缸的气缸轴上的盖板，所述的安装板位于所述的第一线圈和所述的第二线圈之间，所述的安装板的一侧面设置从所述的安装板的上端面向下延伸的安装槽，所述的安装槽的尺寸与磁性元件尺寸匹配，所述的夹紧气缸的气缸轴从所述的安装板的下部穿过，所述的盖板正对所述的安装槽，当所述的夹紧气缸的气缸轴缩回时，所述的盖板盖在所述的安装槽上，所述的盖板与所述的安装槽之间形成所述的定位台。所述的翻转机构包括旋转气缸，所述的定位台固定安装在所述的旋转气缸的气缸轴上，所述的定位台上设置有上端开口的插槽，在检测时，磁性元件插入所述的插槽内且被固定。与现有技术相比，本专利技术的优点在于将待测磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，待测磁性元件的充磁方向沿亥姆霍茨线圈的轴向且待测磁性元件位于第一线圈和第二线圈正中间，待测磁性元件朝向第一线圈的端面为第一端面，待测磁性元件朝向第二线圈的端面为第二端面；将磁通计清零后采用翻转机构将待测磁性元件翻转180度后保持静止，此时，待测磁性元件的第一端面朝向所述的第二线圈，待测磁性元件的第二端面朝向第一线圈，读取磁通计的输出值，该输出值即为待测磁性元件的磁通量值，由此测得待测磁性元件的磁通量值，当磁性元件翻转时，磁性元件切割亥姆霍茨线圈的磁力线产生感应电流，当磁性元件翻转180度时，此时磁性元件N极加S极的数据变化到达了最大值，该数据为磁性元件N极加S极磁通相对值，磁通计采集该数据并输出磁性元件的磁通量值，由此实现磁性元件磁通量的测量，在测量过程中，不需要划定亥姆霍兹线圈的磁场区域，通过翻转机构将磁性元件翻转180度即可测得磁通量，操作简单，劳动强度低，测试效率较高，翻转机构可使待测磁性元件的测试条件和位置相同，测试数据的可重复性和准确性较高，并且不受限于磁性元件的体积大小；当翻转机构包括旋转气缸、夹紧气缸、固定设置旋转气缸的转轴上的安装板和固定设置在夹紧气缸的气缸轴上的盖板，安装板的一侧面设置从安装板的上端面向下延伸的安装槽，夹紧气缸的气缸轴从安装板的下部穿过，盖板正对安装槽时，在测试时，将磁性元件从安装槽上端插入安装槽内，夹紧气缸工作，夹紧气缸的气缸轴缩回，此时盖板盖在安装槽上将磁性元件固定在定位台内，当测试完成后，夹紧气缸复位，夹紧气缸的气缸轴伸长，盖板与安装槽分离，可将测试完成的磁性元件取出，结构简单，操作方便并且可以避免磁性元件在翻转过程中位置改变，保证测试精度；当翻转机构包括旋转气缸，定位台固定安装在旋转气缸的气缸轴上，定位台上设置有上端开口的插槽，在检测时，磁性元件插入插槽内且被固定时，机构简单，加工方便，，成本较低，且操作方便；本专利技术所要解决的技术问题之二是提供一种操作简单，劳动强度低，测试效率较高，测试数据的可重复性和准确性较高，且不受限于磁性元件的体积大小的测量磁性元件磁通量的装置。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案为:一种测量磁性元件磁通量的装置，包括亥姆霍兹线圈和与所述的亥姆霍兹线圈连接的磁通计，所述的亥姆霍兹线圈包括支撑座、同轴设置在所述的支撑座左右两端的第一线圈和第二线圈，该装置还包括用于将磁性元件翻转18本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测量磁性元件磁通量的方法，其特征在于包括以下步骤：①将亥姆霍兹线圈和磁通计连接，所述的亥姆霍兹线圈包括支撑座、同轴设置在所述的支撑座左右两端的第一线圈和第二线圈；②将待测磁性元件放入亥姆霍兹线圈中，待测磁性元件的充磁方向沿所述的亥姆霍茨线圈的轴向且待测磁性元件位于所述的第一线圈和所述的第二线圈正中间，待测磁性元件朝向所述的第一线圈的端面为第一端面，待测磁性元件朝向所述的第二线圈的端面为第二端面；③将磁通计清零；④采用翻转机构将待测磁性元件翻转180度后保持静止，此时，待测磁性元件的第一端面朝向所述的第二线圈，待测磁性元件的第二端面朝向第一线圈；⑤读取磁通计的输出值，该输出值即为待测磁性元件的磁通量值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄可可，李正瑜，王西平，
申请(专利权)人：宁波兴隆磁性技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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