一种过滤器扫描检漏装置制造方法及图纸

本实用型公开了一种过滤器扫描检漏装置，包含：矩形底座；设置在矩形底座上的支承辊；设置在支承辊两侧的框架；框架呈矩形；框架长边与矩形底座的长边连接；纵向设置在框架上的第一导轨模块；分别横向设置在框架上的第二导轨模块及导轨；第一导轨模块设置在第二导轨模块与导轨之间；第一导轨模块可沿第二导轨模块及导轨在框架上横向移动；设置在第一导轨模块上的粒子采样单元；粒子采样单元可沿第一导轨模块移动。本实用新型专利技术刚性好，结构紧凑，美观大方，气流场干扰小，自动化操作，检测效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种过滤器扫描检漏装置
本技术涉及过滤器检漏领域，具体涉及一种过滤器扫描检漏装置。
技术介绍
在高效及超高效空气过滤器制造领域或型式试验部门，要使用扫描检漏检测装置对高效及超高效空气过滤器的出风面进行逐行扫描，以便对空气过滤器进行漏点检测及性能评价。现有技术中是采用便携式颗粒检测仪器，由人工手持操作对被测对象进行逐行扫描并读取数据，然后由人工计算、分析和评价被测对象的过滤性能。便携式颗粒检测仪器通常采用激光粒子计数法，可以人工设定不同的粒径通道，以检测通过被测过滤器不同粒径的粒子数量，根据这些数据，就可以分析判断被测过滤器的过滤性能。由于采用人工操作，费时、费力，速度难以控制，漏点难以准确定位，故随意性较大，检测误差也大，难以准确评价被测对象的性能。人工读取数据和计算分析，效率很低，尤其难以适应大批量生产。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种过滤器扫描检漏装置，刚性好，结构紧凑，美观大方，气流场干扰小，自动化操作，检测效率高。为了达到上述目的，本技术通过以下技术方案实现:一种过滤器扫描检漏装置，其特点是，包含:矩形底座；设置在矩形底座上的支承辊；[0011 ]设置在支承辊两侧的框架；所述的框架呈矩形；所述的框架长边与矩形底座的长边连接；纵向设置在框架上的第一导轨模块；分别横向设置在框架上的第二导轨模块及导轨；所述的第一导轨模块设置在第二导轨模块与导轨之间；所述的第一导轨模块可沿第二导轨模块及导轨在框架上横向移动；设置在第一导轨模块上的粒子采样单元；所述的粒子采样单元可沿第一导轨模块移动。所述的支承辊上放置被测过滤器。所述的第一导轨模块包含基座、纵向导轨、第一伺服马达及第一导轨滑块；所述的基座纵向设置在框架上；所述的基座两端分别连接第二导轨模块及导轨；所述的纵向导轨设置在基座上；所述的第一伺服马达设置在纵向导轨的一端；所述的第一导轨滑块可沿纵向导轨滑动；所述的粒子采样单元设置在第一导轨滑块上。所述的第二导轨模块包含横向导轨、第二伺服马达及第二导轨滑块；所述的横向导轨横向设置在框架上；所述的第二伺服马达设置在横向导轨的一端；所述的第二导轨滑块可沿横向导轨滑动；所述的第二导轨滑块与基座连接。所述的导轨包含第三导轨滑块；所述的第三导轨滑块可沿导轨滑动；所述的第三导轨滑块与基座连接。所述的粒子采样单元包含支架、导管及粒子采样头； 所述的支架设置在第一导轨滑块上；所述的导管设置在支架上；所述的导管一端连接粒子采样头。所述的导管的另一端连接至粒子计数仪。本技术一种过滤器扫描检漏装置与现有技术相比具有以下优点:由于设有底座及框架，结构刚性好，设计检测规格范围宽广，适应性强，维护简单，设定及调整方便，使用成本低；由于设有第一导轨模块及第二导轨模块，可根据被测对象的规格，方便设定横向及纵向的工作范围自动化操作，检测效率高，故单台检测成本较低，扫描速度可在较大范围设定，以适应不同的检测对象，定位精度高，方便漏点的检测和定位，检测精度有保障，检测结果可?目度闻。【附图说明】图1为本技术一种过滤器扫描检漏装置的整体结构示意图。图2为本技术一种过滤器扫描检漏装置的俯视图。图3为本技术一种过滤器扫描检漏装置的主视图。图4为本技术一种过滤器扫描检漏装置的右视图。【具体实施方式】以下结合附图，通过详细说明一个较佳的具体实施例，对本技术做进一步阐述。如图1、图2所示，一种过滤器扫描检漏装置，包含:矩形底座I ;设置在矩形底座I上的支承辊2 ;设置在支承辊2两侧的框架3 ;框架3呈矩形；框架3长边与矩形底座I的长边连接；纵向设置在框架3上的第一导轨模块4 ;分别横向设置在框架3上的第二导轨模块5及导轨6 ;第一导轨模块4设置在第二导轨模块5与导轨6之间；第一导轨模块4可沿第二导轨模块5及导轨6在框架3上横向移动；设置在第一导轨模块4上的粒子采样单元7 ;粒子采样单元7可沿第一导轨模块4移动。支承辊2上放置被测过滤器。如图1、图3所示，第一导轨模块4包含基座41、纵向导轨42、第一伺服马达43、第一导轨滑块44及第一导轨拖链45 ;基座41纵向设置在框架3上；基座41两端分别连接第二导轨模块5及导轨6 ;纵向导轨42设置在基座41上；第一伺服马达43设置在纵向导轨42的一端；第一导轨滑块44可沿纵向导轨42滑动；粒子采样单元7设置在第一导轨滑块44上；第一导轨拖链45用于固定第一伺服马达43的线缆。如图1、图3所示，第二导轨模块5包含横向导轨51、第二伺服马达52、第二导轨滑块53及第二导轨拖链54 ;横向导轨51横向设置在框架3上；第二伺服马达52设置在横向导轨51的一端；第二导轨滑块53可沿横向导轨51滑动；第二导轨滑块53与基座41连接；第二导轨拖链54用于固定第二伺服马达52的线缆。导轨6包含第三导轨滑块61 ;所述的第三导轨滑块61可沿导轨6滑动；第三导轨滑块61与基座41连接。如图4所示，粒子采样单元7包含支架71、导管72及粒子采样头73 ;支架71设置在第一导轨滑块44上；导管72设置在支架71上；导管72 —端连接粒子采样头73。导管72的另一端连接至粒子计数仪。具体应用:如图1所示，以框架3的横向为X轴，纵向为Y轴，粒子采样单元7的支架71为Z轴建立坐标系，第一导轨模块4位于X轴，即框架3的上部；第二导轨模块5位于Y轴，即框架3的一侧边；导轨6安装框架3下部；粒子采样单元7的导管沿Z轴前后手动调整及固定。第一导轨模块4的第一伺服马达43与第二导轨模块5的第二伺服马达52分别连接控制器，控制器设定控制指令，包括速度及行程距离。控制器驱动第二导轨模块5的第二导轨滑块53沿X轴运动，由于第一导轨模块4的基座41分别与第二导轨滑块53及第三导轨滑块61连接，因此带动第三导轨滑块61沿导轨6在X轴方向滑动，此时第一导轨模块4整体沿X轴运动；控制器驱动第一导轨模块4的第一导轨滑块44沿Y轴运动，此时带动粒子采样单元7的粒子采样头73 —起运动，粒子采样头73的运动轨迹形成矩形扫描框，从而可实现和完成粒子采样头73对被测试滤器出风面进行逐行扫描，同时将收集到的粒子经导管72输送至粒子计数仪器进行粒径及数量检测，并将这些检测数据与X-Y轴坐标相对应，即定位，利用计算机可实现检测数据采集、计算、存储及输出检测报告。当第一导轨滑块44及第二导轨滑块53运行到行程距离的两端时，控制器驱动第一导轨滑块44及第二导轨滑块53反方向运动。尽管本技术的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本技术的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本技术的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本技术的保护范围应由所附的权利要求来限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种过滤器扫描检漏装置，其特征在于，包含：矩形底座（1）；设置在矩形底座（1）上的支承辊（2）；设置在支承辊（2）两侧的框架（3）；所述的框架（3）呈矩形；所述的框架（3）长边与矩形底座（1）的长边连接；纵向设置在框架（3）上的第一导轨模块（4）；分别横向设置在框架（3）上的第二导轨模块（5）及导轨（6）；所述的第一导轨模块（4）设置在第二导轨模块（5）与导轨（6）之间；所述的第一导轨模块（4）可沿第二导轨模块（5）及导轨（6）在框架（3）上横向移动；设置在第一导轨模块（4）上的粒子采样单元（7）；所述的粒子采样单元（7）可沿第一导轨模块（4）移动。

【技术特征摘要】
1.一种过滤器扫描检漏装置，其特征在于，包含: 矩形底座(I); 设置在矩形底座(I)上的支承辊(2)； 设置在支承辊(2 )两侧的框架(3 ); 所述的框架(3)呈矩形； 所述的框架(3)长边与矩形底座(I)的长边连接； 纵向设置在框架(3)上的第一导轨模块(4)； 分别横向设置在框架(3)上的第二导轨模块(5)及导轨(6)； 所述的第一导轨模块(4)设置在第二导轨模块(5)与导轨(6)之间； 所述的第一导轨模块(4)可沿第二导轨模块(5)及导轨(6)在框架(3)上横向移动； 设置在第一导轨模块(4)上的粒子采样单元(7)； 所述的粒子采样单元(7)可沿第一导轨模块(4)移动。2.如权利要求1所述的过滤器扫描检漏装置，其特征在于，所述的支承辊(2)上放置被测过滤器。3.如权利要求1所述的过滤器扫描检漏装置，其特征在于，所述的第一导轨模块(4)包含基座(41)、纵向导轨(42)、第一伺服马达(43)及第一导轨滑块(44); 所述的基座(41)纵向设置在框架(3)上； 所述的基座(41)两端分别连接第二导轨模块(5)及导轨(6)； 所述的纵向导轨(42)设置在基座(41)上； 所述的第一伺服马达(43)设置在纵向导轨...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵书敏，李劲松，徐小东，
申请(专利权)人：上海敏泰液压股份有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31