利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置制造方法及图纸

技术编号:10339719 阅读:162 留言:0更新日期:2014-08-21 12:45
利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置,属于光电检测技术领域,本实用新型专利技术为解决现有测量CF4气体浓度的装置不能同时满足测量精度高和测量设备成本低,并且不能实现在线监测的问题。本实用新型专利技术所述利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置,它包括激光器、第一聚光镜、样品池、第二聚光镜和光谱仪,激光器出射的光射入第一聚光镜,经第一聚光镜的透射变成平行光入射至样品池,样品池将出射光输送至第二聚光镜,经第二聚光镜的聚焦输送至光谱仪的入射狭缝中。本实用新型专利技术用于SF6检测器中。

【技术实现步骤摘要】
利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置
[0001 ] 本专利技术属于光电检测

技术介绍
六氟化硫(SF6)具有优良的绝缘灭弧性能和理化特性,作为绝缘介质既可以减小设备尺寸,又能提高绝缘强度,伴随着城市用地的日益紧张,广泛应用于组合绝缘电器(GIS)、断路器(GCB)、变压器(GIT)、电缆(GIC)、输电管道(GIL)等输配电设备中。纯净的SF6是无色、无毒、无味、不燃的惰性气体,在温度为150° C及以下时不易与其它物质发生化学反应,正常运行时分解产物极少或不分解。当SF6设备中发生绝缘隐患或故障时,无论是局部电晕、火花或是电弧放电,都必然会引起能量释放,这些能量会使SF6气体发生分解反应,生成H2S、S02、CF4、SF3> SF4等多种低氟硫化物。SF6分解组分会加速GIS内绝缘的老化和金属材料表面的腐蚀,加重局部放电程度,严重时还会导致GIS发生突发性绝缘故障。因此对SF6浓度的测量是必须的。目前国内外均有大量商业化的SF6检测器,归纳起来主要有4种测量方法:高压击穿法、色谱法、离子移动度计和红外光吸收谱法。高压击穿法主要是根据待测SF6击穿电压的变化来进行定性测量,并不能定量给出SF6气体浓度,而且不能实时在线监测。色谱法:色谱法被广泛应用于复杂组分的分离与鉴定。一般由真空系统、进样系统、离子源、检测器和计算机控制等部分组成。优点是测量精度和灵敏度较高。缺点是设备昂贵,且不能实时在线监测。离子移动度计法:它是通过对设备中SF6气体总体杂质含量的测定,来反应设备中SF6气体的优劣程度。优点是测量成分多,精度较高。缺点是易受实验环境条件影响,不能实时监测。
技术实现思路
本专利技术目的是为了解决现有测量CF4气体浓度的装置不能同时满足测量精度高和测量设备成本低,并且不能实现在线监测的问题,提供了一种利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置。本专利技术所述利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置,它包括激光器、第一聚光镜、样品池、第二聚光镜和光谱仪,激光器出射的光射入第一聚光镜,经第一聚光镜的透射变成平行光入射至样品池,样品池将出射光输送至第二聚光镜,经第二聚光镜的聚焦输送至光谱仪的入射狭缝中。本专利技术的优点:本专利技术所述利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置能够测量Ippm以上CF4气体的浓度,能够精确测量分解气体中CF4气体的浓度。同时,本专利技术易于实际应用、装置简单、数据处理过程简单、测量精度高,能够实时在线监测。测量精度达Ippm0【附图说明】图1是本专利技术所述利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置的结构示意图。【具体实施方式】【具体实施方式】一:下面结合图1说明本实施方式,本实施方式所述利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置,它包括激光器1、第一聚光镜2、样品池3、第二聚光镜4和光谱仪5,激光器I出射的光射入第一聚光镜2,经第一聚光镜2的透射变成平行光入射至样品池3,样品池3将出射光输送至第二聚光镜4,经第二聚光镜4的聚焦输送至光谱仪5的入射狭缝中。本实施方式中,光谱仪5的入射狭缝位于第二聚光镜4的焦点处,用于保证最强光射入光谱仪5。【具体实施方式】二:本实施方式对实施方式一作进一步说明,所述激光器I发射的激光束的波长为7.8μπι。【具体实施方式】三:本实施方式对实施方式一作进一步说明,所述光谱仪5的入射狭缝位于第二聚光镜4的焦点处。【具体实施方式】四:本实施方式对实施方式一作进一步说明,所述样品池3为密封的圆筒结构。该装置在使用时:首先在样品池3中充入大气,打开激光器1,通过光谱仪5获取大气的光谱;然后将待测气体CF4充入样品池;通过光谱仪5获取待测气体CF4的光谱;根据比尔定律获取待测气体CF4的浓度。本文档来自技高网
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【技术保护点】
利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置,其特征在于,它包括激光器(1)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5),激光器(1)出射的光射入第一聚光镜(2),经第一聚光镜(2)的透射变成平行光入射至样品池(3),样品池(3)将出射光输送至第二聚光镜(4),经第二聚光镜(4)的聚焦输送至光谱仪(5)的入射狭缝中。

【技术特征摘要】
1.利用光谱吸收法测量SF6分解物CF4气体浓度的装置,其特征在于,它包括激光器(I)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5),激光器(I)出射的光射入第一聚光镜(2),经第一聚光镜(2)的透射变成平行光入射至样品池(3),样品池(3)将出射光输送至第二聚光镜(4),经第二聚光镜(4)的聚焦输送至光谱仪(5)的入射狭缝中。2.根据权利要求1所述利...

【专利技术属性】
技术研发人员:鲁钢刘洋宋杲颜湘莲季严松苏镇西杨韧赵也姚强
申请(专利权)人:国家电网公司黑龙江省电力科学研究院中国电力科学研究院国网安徽省电力公司电力科学研究院国网陕西省电力公司电力科学研究院国网重庆市电力公司电力科学研究院
类型:新型
国别省市:北京;11

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