【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种光谱测量装置，包括沿光入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，其特征在于，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有一层金属粒子膜，所述金属粒子膜包括一组纳米至微纳米尺度的大小不等的金属粒子，所述金属粒子在金属粒子膜中呈不均匀分布，且金属粒子之间形成有一系列可容光线通过的大小不等的孔隙。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨涛，许超，宋春元，何浩培，黄维，李兴鳌，周馨慧，沈骁，仪明东，李咏华，
申请(专利权)人：南京邮电大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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