本发明专利技术公开了一种应用于电波暗室的信号检测系统,其特征在于,包括前置放大器、信号处理装置、用于生成电磁波信号的梳状信号发生器、用于发送所述电磁波信号的发射天线和用于接收所述电磁波信号的接收天线,所述梳状信号发生器与所述发射天线连接,所述接收天线通过所述前置放大器与所述信号处理装置连接,所述前置放大器用于将所述电磁波信号传输到所述信号处理装置。实施本发明专利技术系统,通过与发射天线进行连接梳状信号发生器生成电磁波信号,可以全频段同时持续不断发送信号,且各频点信号幅度固定。无需将梳状信号发生器与信号处理装置连接,可降低信号衰减,进而提高信号测试的准确度。
【技术实现步骤摘要】
应用于电波暗室的信号检测系统
本专利技术涉及信号测量
,特别是涉及一种应用于电波暗室的信号检测系统。
技术介绍
电波暗室是目前使用最为广泛的电磁兼容测试场地,在电磁兼容测试中,电波暗室的参数,如电压驻波比直接影响着测试数据的可靠性。目前电波暗室的电压驻波比检测方法,通常使用一个可以同步控制信号发射和信号接收的网络分析仪。发射信号端用同轴线跟发射天线连接,将接收天线接至前置放大器,然后用同轴线将前置放大器接到网络分析仪的接收端。但是,由于发射和接收装置都在暗室外面,同轴线的长度通常较长,一般15米以上,过长的同轴线信号衰减很大,会降低测试准确度。
技术实现思路
基于此,有必要针对上述电波暗室的电压驻波比的检测方法,信号衰减很大,会降低测试准确度的问题,提供一种应用于电波暗室的信号检测系统。一种应用于电波暗室的信号检测系统,包括前置放大器、信号处理装置、用于生成电磁波信号的梳状信号发生器、用于发送所述电磁波信号的发射天线和用于接收所述电磁波信号的接收天线,所述梳状信号发生器与所述发射天线连接,所述接收天线通过所述前置放大器与所述信号处理装置连接,所述前置放大器用于将所述接收天线接收的电磁波信号传输到所述信号处理装置。上述应用于电波暗室的信号检测系统,通过与发射天线进行连接梳状信号发生器生成电磁波信号,可以全频段同时持续不断发送信号,且各频点信号幅度固定。无需调整梳状信号发生器的频率以及幅度,可节约测试时间,进而降低测试成本。此外无需将梳状信号发生器与信号处理装置连接,可降低信号衰减,进而提高信号测试的准确度。【附图说明】图1是本专利技术应用于电波暗室的信号检测系统第一实施方式的结构示意图;图2是本专利技术应用于电波暗室的信号检测系统第二实施方式的结构示意图;图3是本专利技术应用于电波暗室的信号检测系统的测试标准示意图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。请参阅图1,图1是本专利技术的应用于电波暗室的信号检测系统第一实施方式的结构示意图。本实施方式的所述应用于电波暗室的信号检测系统,可包括前置放大器200、信号处理装置100、用于生成电磁波信号的梳状信号发生器400、用于发送所述电磁波信号的发射天线500和用于接收所述电磁波信号的接收天线300,梳状信号发生器400与发射天线500连接,接收天线300通过前置放大器200与信号处理装置100连接,前置放大器200用于将接收天线300接收的电磁波信号传输到信号处理装置100。本实施方式所述的应用于电波暗室的信号检测系统,通过与发射天线进行连接梳状信号发生器生成电磁波信号,可以全频段同时持续不断发送信号,且各频点信号幅度固定。无需调整梳状信号发生器的频率以及幅度,可节约测试时间,进而降低测试成本。此外无需将梳状信号发生器与信号处理装置连接,可降低信号衰减,进而提高信号测试的准确度。其中,对于电波暗室,可为电磁兼容测试所用的一个空间,所述空间为经过屏蔽设计的六面屏蔽体,在其内部覆盖有电磁波吸波材料,用来隔绝外界的电磁波。构造出一个无电磁波的环境。对于梳状信号发生器400(梳状信号源),可以持续稳定的发射连续等间隔的信号,由于其发射的信号等间隔,梳状信号发生器400与发射天线500连接,可发射一系列的等间隔信号。优选地,梳状信号发生器400、发射天线500和接收天线300设置在电波暗室内。可对电波暗室场地驻波比、电波暗室归一化衰减等进行测试。优选地,梳状信号发生器400可包括生成信号频率为IGHz至18GHz的梳状信号发生器,可生成电波暗室场地驻波比测试所需的电磁波信号。优选地,梳状信号发生器400可包括生成信号频率为包括18MHz至30GHz的梳状信号发生器。可生成电波暗室归一化衰减测试所需的电磁波信号。在一个实施例中,设置于电波暗室内的梳状信号发生器400通过同轴线缆与发射天线500连接。梳状信号发生器可放置在电波暗室的高架地板上。进一步地所述同轴线缆的长度小于或等于3米。对于信号处理装置100,可包括频谱仪、接收机或网络分析仪等。请参阅图2,图2是本专利技术的应用于电波暗室的信号检测系统第二实施方式的结构示意图。本实施方式的所述应用于电波暗室的信号检测系统与第一实施方式的区别在于:梳状信号发生器400包括依次连接的稳压电路420、晶体振荡电路430、分频选择电路440、分频整形电路450、阶跃整形电路460、平衡输出电路470和衰减器480。本实施方式,生成频点和幅度均稳定的电磁波信号,可极大地提高信号测试的精确度。优选地,梳状信号发生器400还可包括与稳压电路连接的供电模块410 (由内置电池组成)和输出端。优选地,晶体震荡电路430产生的固定频率信号通过阶跃整形电路460,产生非常陡峭的方波信号,经过了傅里叶变换可在频谱上显示基波信号的高次谐波分量。如以50MHz的方波信号通过辐射以后,在频谱曲线上就能产生的是以50MHz为频率间隔的梳状谱信号。以下所述是将本专利技术的应用于电波暗室的信号检测系统应用于电波暗室场地驻波比的测试中。在进行电波暗室场地驻波比测试时,优选地安装CISPR16-1-4标准(国际无线电干扰委员会标准,INTERNATIONAL STANDARD)进行测试。如图3所示,在测试的过程中,CISPR16-1-4标准要求测试电波暗室中的每个位置(共计要测试电波暗室的前、中、左、右、共至少4个位置)的位置附近6个点(FlaF6、ClaC6、LlaL6、RlaR6)的各电压值的比值,要求最大不超过6dB。在测量时,要使信号稳定,使用同一幅度的信号进行发射,在更换了6个位置后,通过接收机接收信号并记录下每个频点的数据,进而比较出每个位置上要求的6个点的电压驻波比,需要每次控制信号发生器的幅度均在同一个大小,还需要在信号稳定后,接收机读取各频率的接收值记录下所有数据,然后对比每个位置周围6个点的数据之t匕,要求不能超过6dB。优选地,测试过程如下:步骤101,对应电波暗室场地的一个空间位置附件的一个点,使用设置于电波暗室内的梳状信号发生400生成固定频率,固定幅度的信号输送至设置于电波暗室内的发射天线500发射。步骤102,通过设置于电波暗室内的接收天线300接收发射天线500发射的电磁波,并传送至前置放大器200。步骤103,通过前置放大器200将所述电磁波传送至频谱仪或接收机。步骤104,接收机或频谱仪分析接收天线300接收到的电磁波,控制接收天线在I米到4米范围内升降,读取接收天线300接收到的最大电磁波,并对应当前空间位置的当前点(发射天线400的发射方向)存储。步骤105,对应当前空间位置的下一个点,更换接收发射天线500的发射方向,重复步骤101至步骤104,若对应当前空间位置的所有点都执行了步骤101至104,则执行步骤 106。步骤106,将接收天线500和梳状信号发生器400移动到电波暗室内的下一个预设的空间位置,并将发射天线500的发射方向对应当前移动到的空间位置的一个点,执行步骤101至105。若对应电波暗室内的所有预设的空间位置均执行了步骤101至步骤105,则执行步骤10本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种应用于电波暗室的信号检测系统,其特征在于,包括前置放大器、信号处理装置、用于生成电磁波信号的梳状信号发生器、用于发送所述电磁波信号的发射天线和用于接收所述电磁波信号的接收天线,所述梳状信号发生器与所述发射天线连接,所述接收天线通过所述前置放大器与所述信号处理装置连接,所述前置放大器用于将所述接收天线接收的电磁波信号传输到所述信号处理装置。
【技术特征摘要】
1.一种应用于电波暗室的信号检测系统,其特征在于,包括前置放大器、信号处理装置、用于生成电磁波信号的梳状信号发生器、用于发送所述电磁波信号的发射天线和用于接收所述电磁波信号的接收天线,所述梳状信号发生器与所述发射天线连接,所述接收天线通过所述前置放大器与所述信号处理装置连接,所述前置放大器用于将所述接收天线接收的电磁波信号传输到所述信号处理装置。2.根据权利要求1所述的应用于电波暗室的信号检测系统,其特征在于,所述信号处理装置为频谱仪。3.根据权利要求1所述的应用于电波暗室的信号检测系统,其特征在于,所述信号处理装置为接收机。4.根据权利要求1所述的应用于电波暗室的信号检测系统,其特征在于,所述信号处理装置为网络分析仪。5.根据权利要求1所述的应用于...
【专利技术属性】
技术研发人员:代勇,陈旗,
申请(专利权)人:广州广电计量检测股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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