控制装置制造方法及图纸

技术编号:10313735 阅读:136 留言:0更新日期:2014-08-13 16:04
本发明专利技术揭示了一种控制装置,用于控制硬盘与电子装置之间的连接,所述电子装置包括用于连接硬盘的硬盘连接器,所述控制装置包括:一检测电路,与所述硬盘连接器的接地引脚连接,用于检测硬盘的连接状态,并产生检测信号;一中央处理器,与所述检测电路连接,用于接收所述检测信号,并根据所述检测信号发送控制信号;以及至少一电源控制电路,与所述中央处理器连接,并与所述硬盘连接器连接,用于接收所述控制信号,并根据所述控制信号控制所述硬盘供电。

【技术实现步骤摘要】
控制装置
本专利技术涉及自动化控制
,且特别涉及一种用于控制硬盘与电子装置之间连接的控制装置。
技术介绍
现今SATA硬盘是计算机装置中重要的资料存储设备,随着计算机技术的日益普及与发展,基于提高计算机装置的可扩展性,设备连接灵活性的考虑,一些用户要求计算机装置所用的SATA硬盘可以进行热插拔操作。热插拔也被称为“带电插拔”,是指允许用户在不关闭系统,不切断电源的情况下取出和更换损坏的硬盘、电源或板卡等部件。目前对于SATA硬盘来讲,具有两种连接模式,一种为数据线(Cable)连接,另一种为硬盘连接器连接,例如背板(Backplane)。而允许热插拔硬盘的连接为硬盘连接器连接。在进行硬盘热插拔操作时,会产生瞬间大电流从而影响硬盘的稳定性甚至损坏硬盘,因此现有的支持热插拔的相关产品都使用专用的热插拔芯片控制硬盘供电,如INTERSIL公司的ISL6140芯片等,以避免产生大电流从而对硬盘设备造成损害。然而此类热插拔芯片通常价格较高,并且提供这种专用热插拔芯片的专业厂商很少,采用专门热插拔芯片提高了产品的原料成本,并且芯片寿命较短。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术旨在解决现有技术中,在进行硬盘热插拔操作时,造成硬盘损坏,以及应用插拔芯片的高成本、不稳定等技术问题。为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种控制装置,用于控制硬盘与电子装置之间的连接,所述电子装置包括用于连接硬盘的硬盘连接器,所述控制装置包括:一检测电路,与所述硬盘连接器的接地引脚连接,用于检测所述硬盘的连接状态,并产生检测信号;一中央处理器,与所述检测电路连接,用于接收所述检测信号,并根据所述检测信号发送控制信号;以及至少一电源控制电路,与所述中央处理器连接,并与所述硬盘连接器连接,用于接收所述控制信号,并根据所述控制信号控制所述硬盘供电。进一步的,所述接地引脚为所述硬盘连接器上的长度相对其余引脚较短的接地引脚。进一步的,所述接地引脚在所述硬盘连接器的P5、P6或P10引脚。进一步的,所述检测电路包括:电源及上拉电阻,所述上拉电阻一端连接到所述电源,所述上拉电阻另一端接地,并与所述接地引脚以及所述中央处理器连接。进一步的,所述电源为3.3V电源。进一步的,所述检测电路还包括:一滤波电容,所述上拉电阻一端连接到所述电源,所述上拉电阻另一端通过所述滤波电容接地,所述上拉电阻与所述滤波电容之间的节点分别连接到所述接地引脚以及所述中央处理器。进一步的,所述检测电路还包括:限流电阻,所述上拉电阻与所述滤波电容之间的节点通过所述限流电阻连接到所述硬盘连接器的接地引脚。进一步的,所述检测电路还包括:一静电释放保护器,所述静电释放保护器一端接地,另一端连接到所述上拉电阻与所述滤波电容之间的节点。进一步的,所述电源控制电路包括电源、P型金氧半场效晶体管、N型金氧半场效晶体管、储能电容、以及两个开关电阻。进一步的,所述电源控制电路为两个。本专利技术的控制装置由电阻、电容、场效应管组成,成本低廉,构造简单,且适用于硬盘的热插拔操作,稳定性高,保证了热插拔过程中硬盘的安全性。附图说明图1是本专利技术第一实施例提供的控制装置的结构方块示意图;图2是本专利技术第一实施例提供的硬盘的引脚示意图;图3是本专利技术第一实施例提供的检测电路的电路图;图4是本专利技术第二实施例提供的检测电路的电路图;图5是本专利技术第三实施例提供的检测电路的电路图;图6是本专利技术第四实施例提供的检测电路的电路图;图7是本专利技术第五实施例提供的检测电路的电路图;图8是本专利技术第六实施例提供的电源控制电路的电路图;图9是本专利技术第七实施例提供的电源控制电路的电路图;图10是本专利技术第八实施例提供的电源控制电路的电路图;图11是本专利技术第九实施例提供的电源控制电路的电路图。具体实施方式为使本专利技术的目的、特征更明显易懂,下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步的说明。请参见图1,其所示为本专利技术第一实施例提供的控制装置的结构方块示意图。本专利技术实施例中所述的用于控制硬盘与电子装置之间的连接的控制装置,包括检测电路1、5V电源控制电路2以及12V电源控制电路3。检测电路1通过信号线连接到硬盘连接器4的接地引脚(GND)上以获取检测信号,向中央处理器(CPU)5传送检测信号。请同时参见图2,其所示为本专利技术第一实施例提供的硬盘引脚示意图。所述硬盘连接器4上的引脚系对应硬盘6的引脚位置设置,本实施例所述硬盘6为一SATA硬盘,由于硬盘连接器4连接方式中,除去特定信号功能引脚,还有8个接地引脚:S1、S4、S7、P4、P5、P6、P10及P12。其中接地引脚S1、S4及S7为高速差分信号的参考地,为保证高速信号的信号完整性,不可做其他用途。因此,可以在其余接地引脚P4、P5、P6、P10及P12中选择检测信号。优选地,由于硬盘6上的接地引脚P4、P5、P6、P10及P12长度相同,但硬盘连接器4上22针,连接器的引脚长度并不相同,其中接地引脚P4及P12为相对较长引脚;接地引脚P5、P6及P10为相对较短的引脚。当硬盘6插入硬盘连接器4时,接地引脚P4及P12首先连接,接地引脚P5、P6及P10后连接。考虑到硬盘6可能携带较大的静电,如果将长接地引脚P4及P12作为检测引脚,静电会释放给检测信号,可能影响甚至损坏中央处理器5;若选择较短接地引脚P5、P6及P10为检测信号,静电荷会通过2个长引脚对印刷电路板(PCB)接地端放电,这样当短接地引脚P5、P6及P10接触到硬盘连接器4时,大大减少静电荷进入检测引脚的可能性,所以可以选择接地引脚P5、P6或P10为检测信号。中央处理器5通过信号线向5V电源控制电路和12V电源控制电路提供电源控制信号。5V电源控制电路通过信号线连接到硬盘连接器4上的5V电源引脚P7、P8及P9向硬盘6提供工作电源,12V电源控制电路通过信号线连接到硬盘连接器4上的12V电源引脚P13、P14及P15向硬盘6提供工作电源。请参见图3,其所示为本专利技术第一实施例提供的检测电路的电路图。所述检测电路包括电源VCC以及上拉电阻R26。所述上拉电阻R26一端连接到电源VCC另一端分别接地以及连接到中央处理器CPU和硬盘连接器的接地引脚GND。请参见图4,其所示为本专利技术第二实施例提供的检测电路的电路图。所述检测电路是对图3中所示的检测电路的进一步改进的实施例,所述检测电路进一步包括了滤波电容C67,所述上拉电阻R26一端连接到电源VCC,另一端通过滤波电容C67接地。上拉电阻R26与滤波电容C67之间的节点连接到主板上硬盘连接器的接地引脚GND(P5、P6或P10中任一)并且作为向中央处理器CPU提供检测信号的连接点。当硬盘未接入系统时,检测信号通过上拉电阻R26被拉高,形成高电平,滤波电容C67起到滤波器的作用,信号滤波后提供给中央处理器CPU,当检测信号为高电平时,中央处理器CPU并不向电源控制电路发出控制信号,因此系统不向硬盘连接器供电。但硬盘接入系统时,由于所连接的引脚是接地引脚,因此检测信号被拉低,形成低电平,中央处理器CPU向电源控制电路发出控制信号,系统向硬盘连接器供电。请参见图5,其所示为本专利技术第三实施例提供的检测电路的电路图。所述检测电路是对图4中所示的检测电路的进一步改进的实施例,所述检测电路进一步包括了限流电本文档来自技高网...
控制装置

【技术保护点】
一种控制装置,用于控制硬盘与电子装置之间的连接,所述电子装置包括用于连接硬盘的硬盘连接器,其特征在于,所述控制装置包括:一检测电路,与所述硬盘连接器的接地引脚连接,用于检测所述硬盘的连接状态,并产生检测信号;一中央处理器,与所述检测电路连接,用于接收所述检测信号,并根据所述检测信号发送控制信号;以及至少一电源控制电路,与所述中央处理器连接,并与所述硬盘连接器连接,用于接收所述控制信号,并根据所述控制信号控制所述硬盘供电。

【技术特征摘要】
1.一种控制装置,用于控制硬盘与电子装置之间热插拔的供电连接,所述电子装置包括用于连接硬盘的硬盘连接器,其特征在于,所述控制装置包括:一检测电路,与所述硬盘连接器的检测接地引脚连接,用于检测所述硬盘的连接状态,并产生检测信号;一中央处理器,与所述检测电路连接,用于接收所述检测信号,并根据所述检测信号发送控制信号;以及至少一电源控制电路,与所述中央处理器连接,并与所述硬盘连接器连接,用于接收所述控制信号,并根据所述控制信号控制所述硬盘供电;其中,所述检测接地引脚为所述硬盘连接器上的长度相对其余引脚较短的接地引脚;当所述硬盘插入所述硬盘连接器时,静电荷通过长接地引脚放电,减少静电荷进入较短的所述检测接地引脚的可能性。2.根据权利要求1所述的控制装置,其特征在于,所述检测接地引脚在所述硬盘连接器的P5、P6或P10引脚。3.根据权利要求1所述的控制装置,其特征在于,所述检测电路包括:一电源及一上拉电阻,所述上拉电阻一端连接到所述电源,所述上拉电阻另一端接地,并与所述检测接地引脚以及所述中央处理器连接。4.根据权利要求3所述的控制装置,其特征在于,所述电源为3.3V电源。5.根据权利要求3所述的控制装置,其特征在于,所述检测电路还包括:一滤波电容,所述上拉电阻一端连接到所述电源,所述上拉电阻另...

【专利技术属性】
技术研发人员:李威喻希远滕树鹏和琳晓高晓梅邹振
申请(专利权)人:环旭电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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