可更换式吸料段的晶粒吸料轨道制造技术

本实用新型专利技术提供一种可更换式吸料段的晶粒吸料轨道，所述晶粒吸料轨道主要包括吸料段和轨道本体，其中，该吸料段可拆卸式地组装设置在该轨道本体的一侧端。因此，本实用新型专利技术可以因应因长久使用后所造成的吸料段表面损耗、凹陷而直接更换吸料段即可，不需要整个吸料轨道淘汰，以利于成本上的降低和减少资源浪费。此外，本实用新型专利技术的轨道本体可以另外设置有锁附长槽，锁附长槽可以因应不同的晶粒尺寸、或者对进料轨道裁切或其它加工的各种情况，来调整晶粒吸料轨道的位置，以达到可重复利用而节省资源和成本的功效。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供一种可更换式吸料段的晶粒吸料轨道，所述晶粒吸料轨道主要包括吸料段和轨道本体，其中，该吸料段可拆卸式地组装设置在该轨道本体的一侧端。因此，本技术可以因应因长久使用后所造成的吸料段表面损耗、凹陷而直接更换吸料段即可，不需要整个吸料轨道淘汰，以利于成本上的降低和减少资源浪费。此外，本技术的轨道本体可以另外设置有锁附长槽，锁附长槽可以因应不同的晶粒尺寸、或者对进料轨道裁切或其它加工的各种情况，来调整晶粒吸料轨道的位置，以达到可重复利用而节省资源和成本的功效。【专利说明】可更换式吸料段的晶粒吸料轨道
本技术涉及一种可更换式吸料段的晶粒吸料轨道，具体地说，涉及一种适用在半导体晶粒检测设备的进料轨道。
技术介绍
请参阅图1，图1是熟知的晶粒检测设备的进料模块的俯视图。如图1所示，晶粒检测设备Ti的进料模块Fe主要包括一喂料盘6和一进料轨道7，其中通过喂料盘6产生震动力使晶粒C循序经过进料轨道7进给到吸料机构8处，吸料机构8吸取晶粒C后，移到检测装置81 (探针、)处以进行测试。再请参阅图2，图2为熟知的吸料机构与进料轨道的局部侧视图。如图2所示，当晶粒C进给到进料轨道7末端时，吸料机构8会下降接触晶粒C并将晶粒C吸取而进行移载。另一方面，常见的晶粒种类中，晶粒的四周缘会设有类似玻璃材质的绝缘材料，该材料具有高强度、耐压和绝缘的特性。然而，当检测机台经过长时间的运转之后，由于吸料机构8不断地吸取晶粒C，并且晶粒C本身具有高强度的玻璃绝缘材料，将导致进料轨道7的损耗、凹陷，而造成晶粒无法正常定位的情形。此外，如图1所示，熟知的进料轨道7直接固定在机台上，进料轨道7通常通过螺栓9与螺孔直接锁附的方式，无法对进料轨道7的位置进行调整。然而，当面临对检测不同尺寸的晶粒、或对进料轨道7进一步的加工时，将无法调整进料轨道7的位置，而必须重新制备一全新的进料轨道7，从而造成了成本上的耗费。由此可知，目前产业上迫切需求一种可以局部地更换已损耗、凹陷的部分，而不需要淘汰整个进料轨道，并且可以适时地调整进料轨道的位置的可更换式吸料段的晶粒吸料轨道。
技术实现思路
本技术的主要目的是提供一种可更换式吸料段的晶粒吸料轨道，当由于吸料轨道局部损耗而影响正常使用时，可以局部地更换已损耗、凹陷的部分，而不需要淘汰整个进料轨道，以降低成本和资源上的耗费。为了达到上述目的，本技术提供了一种可更换式吸料段的晶粒吸料轨道，所述晶粒吸料轨道主要包括一吸料段和一轨道本体。其中，所述吸料段包括一第一导引侧壁和一吸料平台，所述第一导引侧壁邻接于所述吸料平台的一侧缘并且向上凸出于所述吸料平台；另外，所述轨道本体包括一第二导引侧壁和一进料平台，所述第二导引侧壁邻接在所述进料平台的一侧缘并且向上凸出于所述进料平台。再者，所述吸料段可拆卸式地组设在所述轨道本体的一侧端，并且所述吸料段的所述第一导引侧壁和所述吸料平台分别对应连接于所述轨道本体的所述第二导引侧壁和所述进料平台。因此，本技术的吸料段可因应因长久使用后所产生的表面损耗而进行更换，不需要将整个吸料轨道淘汰，以利于成本上的降低和减少资源浪费。优选地，本技术的所述吸料段为一 L型构件，所述吸料段包括一吸料侧和一固定侧，所述第一导引侧壁和所述吸料平台位于所述吸料侧。优选地，本技术的晶粒吸料轨道还包括一锁附螺栓，并且所述吸料段的所述固定侧上开设有一贯穿孔，所述轨道本体的所述侧端上开设有一螺孔，所述锁附螺栓可贯穿经过所述吸料段的所述贯穿孔并且锁附于所述轨道本体的所述螺孔。因此，本技术可以经过锁附螺栓以螺锁的固定方式来将吸料段组装设置在轨道本体上，这一固定方式简单、稳定并且拆装便利。优选地，本技术的所述轨道本体的所述侧端上凸设有一定位销，所述吸料段的所述固定侧上可开设有一定位孔，所述轨道本体的所述定位销插设在所述吸料段的所述定位孔内。因此，本技术进一步可以通过定位销和定位孔的方式来固定吸料段与轨道本体，定位销和定位孔的方式与螺栓构成两个固定点，可以稳固地结合吸料段与轨道本体，使得吸料段不会囚为单靠螺栓锁附而轻易产生转动或晃动。优选地，本技术的所述轨道本体的所述侧端上凸设有一定位台，并且所述吸料段的所述固定侧上凹设有一定位槽，所述轨道本体的所述定位台可容纳设置在所述吸料段的所述定位槽内。因此，本技术可以另外通过定位台与定位槽的设计，可以更加稳固地结合吸料段与轨道本体，并且也有助于装配吸料段时的定位。优选地，本技术的所述轨道本体可还包括一固定台，所述固定台邻接于所述进料平台，并且所述固定台上可开设有至少一锁附长槽。其中，锁附长槽主要用于将轨道本体锁附在机台上，锁附长槽的设置可以提供晶粒吸料轨道位置上的调整。换句话说，可以因应各种的需求，例如因应不同的晶粒尺寸、或者对进料轨道裁切或其它加工，来调整进料轨道的位置，以达到可重复利用而节省资源和成本的功效。优选地，本技术的所述固定台开设有多个落料通孔，所述落料通孔沿着所述进料平台等距离地布局设置，优选地开设有三个落料通孔。优选地，每一落料通孔包括一斜面，所述斜面朝向一晶粒的进料方向，而且所述斜面与所述进料平台的水平夹角为30度。其中，斜面的设置主要是为了协助晶粒的落料，可以避免晶粒以垂直的角度落下而遭受损伤。因此，本技术可以因应因长久使用后所造成的吸料段表面损耗、凹陷而直接更换吸料段即可，不需要整个吸料轨道淘汰，以利于成本上的降低和减少资源浪费。此外，本技术的轨道本体可以另外设置有锁附长槽，锁附长槽可以因应不同的晶粒尺寸、或者对进料轨道裁切或其它加工的各种情况，来调整晶粒吸料轨道的位置，以达到可重复利用而节省资源和成本的功效。【专利附图】【附图说明】图1为熟知的晶粒检测设备的进料模块的俯视图。图2为熟知的吸料机构与进料轨道的局部侧视图。图3为本技术的一优选实施例的俯视分解图。图4为本技术的一优选实施例的轨道本体的局部放大图。图5A为本技术的一优选实施例的吸料段的俯视图。图5B为本技术的一优选实施例的吸料段的左侧视图。附图标记说明如下:喂料盘6、进料轨道7、吸料机构8、检测装置81、螺栓9、晶粒C、进料模块Fe、晶粒检测设备T1、吸料段2、第一导引侧壁21、吸料侧201、固定侧202、吸料平台22、贯穿孔23、定位孔24、定位槽25、轨道本体3、第二导引侧壁31、进料平台32、螺孔33、定位销34、定位台35、固定台36、锁附长槽361、落料通孔362、斜面363、锁附螺栓4。【具体实施方式】为了使贵审查员能够进一步了解本技术的结构、特征及其他目的，现结合所附优选实施例附以附图详细说明如下，本附图所说明的实施例仅用于说明本技术的技术方案，并非限定本技术。本技术的可更换式吸料段的晶粒吸料轨道在本实施例中被详细描述之前，需要特别注意的是，以下的说明中，类似的组件将以相同的组件符号来表示。请同时参阅图3、图4、图5A和图5B，图3为本技术的可更换式吸料段的晶粒吸料轨道一优选实施例的俯视分解图，图4为本技术的可更换式吸料段的晶粒吸料轨道一优选实施例的轨道本体的局部放大图，图5A为本技术的可更换式吸料段的晶粒吸料轨道一优选实施例的吸料段的俯本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可更换式吸料段的晶粒吸料轨道，其特征在于，所述晶粒吸料轨道包括：一吸料段，所述吸料段包括一第一导引侧壁和一吸料平台，所述第一导引侧壁邻接于所述吸料平台的一侧缘并且向上凸出于所述吸料平台；和一轨道本体，所述轨道本体包括一第二导引侧壁和一进料平台，所述第二导引侧壁邻接于所述进料平台的一侧缘并且向上凸出于所述进料平台；其中，所述吸料段可拆卸式地组设在所述轨道本体的一侧端，所述吸料段的所述第一导引侧壁和所述吸料平台分别对应连接在所述轨道本体的所述第二导引侧壁和所述进料平台。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：黄德崑，
申请(专利权)人：台北歆科科技有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71