【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种Ti3Si1‑xAlxC2/TiO2纳米片一体化材料,其特征在于:Ti3Si1‑xAlxC2块体作为基体,TiO2纳米片生长于基体表面;其中,0<x≤0.2。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陈继新,盖建丽,孙连东,苗磊,李美栓,王晓辉,周延春,
申请(专利权)人:中国科学院金属研究所,
类型:发明
国别省市:辽宁;21
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