本发明专利技术公开了的用于检测定位锥锥体的检测装置，包括锥套规、钢球、锥体规、检查套、等高垫、百分表、以及测量等高的标准量块；工作时，将锥体摆放在等高垫上，锥套规的内倒锥端套在锥体上，且与锥体规的配合精度不小于95%；另一端安放检查套，再把钢球安放在检查套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。所述锥套规、锥体规的材料均为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4μm。所述检查套为45钢，热处理C48，端面与放置钢球的倒角垂直要求0.001mm，放置钢球一端设有2mm×45°倒角。所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。本发明专利技术操作简单，结构合理，使用方便，能同时检测接触精度和等高尺寸精度，缩短了检测时间，提高了劳动效率和经济效益。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了的用于检测定位锥锥体的检测装置，包括锥套规、钢球、锥体规、检查套、等高垫、百分表、以及测量等高的标准量块；工作时，将锥体摆放在等高垫上，锥套规的内倒锥端套在锥体上，且与锥体规的配合精度不小于95%；另一端安放检查套，再把钢球安放在检查套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。所述锥套规、锥体规的材料均为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4μm。所述检查套为45钢，热处理C48，端面与放置钢球的倒角垂直要求0.001mm，放置钢球一端设有2mm×45°倒角。所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。本专利技术操作简单，结构合理，使用方便，能同时检测接触精度和等高尺寸精度，缩短了检测时间，提高了劳动效率和经济效益。【专利说明】一种用于检测定位锥锥体的检测装置
本专利技术涉及机械制造领域，尤其涉及一种用于检测定位锥锥体的检测装置。
技术介绍
定位锥是用于加工中心滑板交换工作台上的关键零部件，是保证机床精度的关键环节。如图1、图2所示，定位锥每套由4个锥体和8个锥套组成，要求工作台在每次交换或自身转位时的等高精度都在0.015mm内。所以说，定位锥的技术问题关键是接触精度和等高尺寸精度。一般锥体和锥套常规检测法是接触精度用检测规涂色法检查，大小端尺寸精度是以检测规的通止刻线为标准。而定位锥除接触精度用涂色法外，等高精度用通止刻线检查是根本行不通的。
技术实现思路
针对上述存在的技术问题，本专利技术的目的是:提出了一种结构简单、合理，使用方便，能同时检测定位锥锥体的接触精度和等高尺寸精度的用于检测定位锥锥体的检测装置。本专利技术的技术解决方案是这样实现的:一种用于检测定位锥锥体的检测装置，包括锥套规、钢球、锥体规、检查套、等高垫、百分表、以及测量等高的标准量块；工作时，将锥体摆放在等高垫上，锥套规的内倒锥端套在锥体上，且与锥体规的配合精度不小于95% ;另一端安放检查套，再把钢球安放在检查套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。所述锥套规、锥体规的材料均为T10A，热处理C62，锥面粗糙度R a=0.4 μ m。所述锥套规、锥体规两端面均倒角。所述检查套两端面均倒角。所述检查套材料为45钢，热处理C48，端面与放置钢球的倒角垂直要求0.0Olmm,放置钢球一端设有2mmX 45°倒角。所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。由于上述技术方案的运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点: 本专利技术所述的用于检测定位锥锥体的检测装置，操作简单，结构合理，使用方便，能同时检测接触精度和等高尺寸精度，缩短了检测时间，提高了劳动效率和经济效益。【专利附图】【附图说明】下面结合附图对本专利技术技术方案作进一步说明: 图1是加工工件结构示意图。图2是加工工件左视图。图3是本专利技术锥体规、锥套规结构示意图。图4是本专利技术测量工件时结构示意图。1、平台 2、等高垫 3、锥体规 4、锥套规 5、检查套 6、钢球 7、标准量块8、锥套 9、百分表10、定位孔11、锥体。【具体实施方式】下面结合附图来说明本专利技术。如图3、4所示，本专利技术采用了一种用于检测定位锥锥体的检测装置，包括锥套规4、钢球6、锥体规3、检查套5、等高垫2、百分表9、以及测量等高的标准量块7。工作时，将锥体11摆放在等高垫2上。锥套规4的内倒锥端套在锥体11上。锥套规4与锥体规3的配合精度不小于95%。另一端安放检查套5。再把钢球6安放在检查套5的定位孔10内。然后用百分表9粗检。用与检测高度相等的标准量块7确定百分表9位置。本专利技术所述锥套规4、锥体规3材料优选为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4 μ m0本专利技术所述锥套规4、锥体规3两端面均倒角。所述检查套5两端面均倒角。本专利技术所述检查套5材料优选为45钢，热处理C48，端面与放置钢球6的倒角垂直要求0.001mm，放置钢球6 —端设有2mmX45°倒角。本专利技术所述等高垫2上下面平行度就不大于0.005mm。热处理后用精密平面磨床磨削。工作时，在平台上将定位锥的锥体11摆放在事先准备好的等高垫上，用手轻轻将检查套5和锥套规4安放在被检查的锥体11上，然后，再将事先准备好的钢球6放在检查套5的定位孔10内，用百分表9粗检，确定读数，然后再用千分表分别确定四件定位锥锥体11的等闻尺寸。检查时，需先用百分表9通检一下，选出一个最小尺寸的定位锥做为本组的基准尺寸，然后用千分表确定定位锥的±0.005mm尺寸。为防止百分表9或千分表移动,平台上标准量块7，高度和百分表9相同。另外，每次更换被检锥体11时，因全部是手工操作，特别是此时的检查套5是放在锥套规4上,而钢球6又是放在检查套5上,这是一个三结合的的检具,不敢保证检查套5的倒角处没有误差，所以，当每次更换时，一定要轻拿轻入，完全保证以上三件检具牢牢地安放在固定位置上。以上仅是本专利技术的具体应用范例，对本专利技术的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本专利技术权利保护范围之内。上述实施例只为说明本专利技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本专利技术的内容并加以实施，并不能以此限制本专利技术的保护范围，凡根据本专利技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本专利技术的保护范围内。【权利要求】1.一种用于检测定位锥锥体的检测装置，其特征在于:包括锥套规、钢球、锥体规、检查套、等高垫、百分表、以及测量等高的标准量块；工作时，将锥体摆放在等高垫上，锥套规的内倒锥端套在锥体上，且与锥体规的配合精度不小于95% ;另一端安放检查套，再把钢球安放在检查套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。2.根据权利要求1所述的用于检测定位锥锥体的检测装置，其特征在于:所述锥套规、锥体规的材料均为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4 μ m。3.根据权利要求1所述的用于检测定位锥锥体的检测装置，其特征在于:所述锥套规、锥体规两端面均倒角。4.根据权利要求1所述的用于检测定位锥锥体的检测装置，其特征在于:所述检查套两端面均倒角。5.根据权利要求1所述的用于检测定位锥锥体的检测装置，其特征在于:所述检查套材料为45钢，热处理C48，端面与放置钢球的倒角垂直要求0.001mm，放置钢球一端设有2mm X 45° 倒角。6.根据权利要求1所述的用于检测定位锥锥体的检测装置，其特征在于:所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。【文档编号】G01B5/00GK103968735SQ201410222599【公开日】2014年8月6日 申请日期:2014年5月26日 优先权日:2014年5月26日 【专利技术者】程鸿林, 姚海波 申请人:苏州博讯仪器有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于检测定位锥锥体的检测装置，其特征在于：包括锥套规、钢球、锥体规、检查套、等高垫、百分表、以及测量等高的标准量块；工作时，将锥体摆放在等高垫上，锥套规的内倒锥端套在锥体上，且与锥体规的配合精度不小于95%；另一端安放检查套，再把钢球安放在检查套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：程鸿林，姚海波，
申请(专利权)人：苏州博讯仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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