有机发光显示装置包括：像素，定位在数据线与扫描线的交叉区域处，每个像素包括有机发光二极管；扫描驱动器，被配置成向扫描线供给扫描信号；数据驱动器，被配置成驱动数据线，其中，在每个通道中，数据驱动器包括：供给部，包括数模转换器，其被配置成在驱动周期中利用从外部供给的第二数据生成数据信号；以及劣化部，被配置成在感测周期中利用数模转换器测量有机发光二极管的劣化信息。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】有机发光显示装置包括：像素，定位在数据线与扫描线的交叉区域处，每个像素包括有机发光二极管；扫描驱动器，被配置成向扫描线供给扫描信号；数据驱动器，被配置成驱动数据线，其中，在每个通道中，数据驱动器包括：供给部，包括数模转换器，其被配置成在驱动周期中利用从外部供给的第二数据生成数据信号；以及劣化部，被配置成在感测周期中利用数模转换器测量有机发光二极管的劣化信息。【专利说明】相关申请的交叉引用本申请要求于2013年I月24日向韩国知识产权局提交的第10-2013-0008050号韩国专利申请的优先权和权益，其全部内容通过引用并入本文。
本专利技术涉及。
技术介绍
最近，已经开发出与阴极射线管相比具有减少的重量和体积的多种平板显示装置。平板显示装置的示例包括:液晶显示器、场发射显示器、等离子体显示板、有机发光显示 目.-rf* ο有机发光显示装置利用通过电子和空穴的复合生成光的有机发光二极管来显示图像。如上所述的有机发光显示装置的特点在于具有快速响应速度并以低功耗驱动。通常，当有机发光显示装置向设置在每个像素中的有机发光二极管(OLED)供给对应于灰度级的电流时，其显示期望的图像。然而，有机发光二极管随着时间而劣化，导致不再显示具有期望亮度的图像的问题。例如，当有机发光二极管逐渐劣化，相同的数据信号生成更低亮度的光。为了解决上述问题，通过使用模数转换器(下文中，称为“ADC”)，有机发光二极管的劣化电压被测量，并且提供了用于补偿有机发光二极管的劣化的方法。然而，在相关的领域中，ADC通常形成在每个通道中，这样会导致高昂的额外制造费用和宽(大)的安置面积。为了克服上述缺点，ADC可由多个通道共享，但这样具有另一缺点:大量时间会用来测量劣化。
技术实现思路
本专利技术的一方面提供了一种有机发光显示装置，其能够通过补偿有机发光二极管的劣化而改进显示质量，并提供了其驱动方法。本专利技术的另一方面提供了一种有机发光显示装置，其能够在每个通道上都形成有ADC的同时减少制造费用和安置面积，并提供了其驱动方法。根据本专利技术的一方面，提供了一种有机发光显示装置，其包括:像素，定位在数据线与扫描线之间的交叉区域处，像素中的每个包括有机发光二极管；扫描驱动器，被配置成向扫描线供给扫描信号；数据驱动器，被配置成驱动数据线；其中，在每个通道中，数据驱动器包括:供给部，包括数模转换器，数模转换器被配置成在驱动周期中利用从外部供给的第二数据生成数据信号； 以及劣化部，被配置成在感测周期中使用数模转换器测量有机发光二极管的劣化信息。供给部可包括:保持锁存器，被配置成存储来自劣化部的劣化数据或第二数据；数模转换器，被配置成生成模拟电压，模拟电压对应于劣化数据或与第二数据对应的数据信号；以及缓冲器，被配置成输出模拟电压或数据信号。可在感测周期中供给劣化数据。通过可存储在保持锁存器处的初始劣化数据生成的模拟电压可设定为在数模转换器中生成的电压的中间电压。有机发光显示装置还可包括:电平位移器，定位在保持锁存器与数模转换器之间。劣化部可包括:电流源，被配置成在感测周期中通过数据线向有机发光二极管供给电流；比较器，联接至缓冲器和电流源，并被配置成响应被供给的电流比较模拟电压与在有机发光二极管处生成的劣化电压；以及控制器，被配置成控制劣化数据的位值对应于所述比较器的比较结果。控制器可配置成控制劣化数据的位值，使得模拟电压与劣化电压彼此相似。有机发光显示装置还可包括:存储器，被配置成存储劣化数据；以及定时控制器，被配置成通过改变第一数据的位生成第二数据，从而利用劣化数据补偿有机发光二极管的劣化。劣化部可包括:电流源，被配置成通过数据线向有机发光二极管供给电流；比较器，联接至缓冲器和电流源，并被配置成根据被供给的电流比较模拟电压与在有机发光二极管处生成的劣化电压。有机发光显示装置还可包括:定时控制器，被配置成在驱动周期中向保持锁存器供给第二数据和在感测周期中控制的劣化数据的位值对应于所述比较器的比较结果。 定时控制器可配置成控制劣化数据的位值使得模拟电压与劣化电压彼此相似。有机发光显示装置还可包括:存储器，被配置成存储劣化数据；以及定时控制器，可配置成通过改变第一数据的位生成第二数据，从而利用存储在存储器处的劣化数据补偿有机发光二极管的劣化。从定时控制器供给的劣化数据可通过取样锁存器提供给保持锁存器。有机发光显示装置还可包括:开关单元，在驱动周期中将每个数据线连接至供给部，并在感测周期中将每个数据线连接至劣化部。在每个通道中，开关单元可包括:第一开关装置，联接在供给部与数据线之间并在驱动周期中闭合；以及第二开关装置，联接在劣化部与数据线之间并在感测周期中闭合。根据本专利技术的一方面，提供一种用于驱动有机发光装置的方法，其包括:在感测周期中，利用定位在数据驱动器的每个通道处的数模转换器，测量每个像素中所包含的有机发光二极管的劣化信息；基于劣化信息，通过改变来自外部的第一数据生成第二数据以补偿有机发光二极管的劣化；以及在驱动周期中，向数据线供给利用数模转换器转换为数据信号的第二数据。测量还可包括:将劣化数据供给至数模转换器并从数模转换器生成模拟电压；在电流施加至有机发光二极管的同时感测施加至有机发光二极管的劣化电压；以及控制劣化数据的位使得模拟电压与劣化电压彼此相似。该方法还可包括:将劣化数据存储在存储器。供给的劣化数据可在数模转换器的输出生成中间电压的模拟电压。【专利附图】【附图说明】附图与【具体实施方式】一起示出了本专利技术的示例性实施方式，并且与【具体实施方式】一起解释本专利技术的原理。图1示出了根据本专利技术的示例性实施方式的有机发光显示装置；图2是示出了根据本专利技术的示例性实施方式的像素的示意图；图3示出了根据本专利技术的示例性实施方式的数据驱动单元和开关单元；图4示出了根据本专利技术的示例性实施方式的感测周期中的操作过程；图5示出了根据本专利技术的示例性实施方式的驱动周期中的操作过程；图6示出了根据本专利技术的示例性实施方式的数据驱动单元；图7示出了根据本专利技术的另一示例性实施方式的数据驱动单元。【具体实施方式】以下参照附图描述本专利技术的某些示例性实施方式。本文中，当第一元件被描述为与第二元件联接时，该第一元件可直接与该第二元件联接，或者可通过第三元件间接地与第二元件联接。此外，为清楚起见，省略了对完整理解而言不必要的某些元件。另外，在整个说明书中，相同的附图标记指代相同的元件。在下文中，将参照图1至图7描述本专利技术的示例性实施方式，这些实施方式可由本专利技术所属
的普通技术人员在不需要过多实验的情况下实现。图1示出了根据本专利技术的示例性实施方式的有机发光显示装置。参照图1，根据本专利技术的一些实施方式，有机发光显示装置包括:像素单元130，包括位于扫描线SI至Sn与数据线Dl至Dm之间的交叉区域的像素140 ;扫描驱动单元(或扫描驱动器)110，用于驱动扫描线SI至Sn和发光控制线El至En ;以及控制线驱动单元(或控制线驱动器)160，用于驱动控制线CLl至CLn。根据本专利技术的一个实施方式，有机发光显示装置还可包括:数据驱动单元(或数据驱动器)120，用于测量每个像素140内所包括的有机发光二极管的劣化电压并用于驱动数据线Dl至Dm ;存储器180，用于存储对应于劣本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种有机发光显示装置，包括：像素，定位在数据线与扫描线之间的交叉区域处，所述像素中的每个包括有机发光二极管；扫描驱动器，被配置成向所述扫描线供给扫描信号；数据驱动器，被配置成驱动所述数据线；其中，在每个通道中，所述数据驱动器包括：供给部，包括数模转换器，所述数模转换器被配置成在驱动周期中利用从外部供给的第二数据生成数据信号；以及劣化部，被配置成在感测周期中使用所述数模转换器测量所述有机发光二极管的劣化信息。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：权五照，崔愿太，安熙善，金宝年，曺圭亨，金贤植，方俊锡，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，韩国科学技术院，
类型：发明
国别省市：韩国;KR
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