基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法技术

本发明专利技术涉及一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，属于集成电路设计与制造领域。本发明专利技术利用信度规则库(BRB)建模集成电路参数变量输入与成品率输出之间的映射关系。利用信度规则前项属性的参考值、后项属性的信度结构，建模输入和输出量之间的变化关系。构造优化函数，利用有限的训练样本优化信度规则库中的参数。在给定电路参数变量作为信度规则库输入的情况下，通过规则推理，能够精确和快速地估计出集成电路的成品率。与普遍采用的传统蒙特卡洛采样估计方法相比，所提出的估计方法大大节省了计算成品率的时间花销，提高了电路设计的效率。

【技术实现步骤摘要】
基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法
本专利技术涉及一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，属于集成电路设计与制造领域。
技术介绍
在集成电路批量制造过程中，优化集成电路产品的成品率已成为降低生产成本，提高生产效益的关键因素之一。集成电路参数变量的统计分布决定了产品的成品率，在给定电路参数变量统计分布的情况下，如何准确和快速地估计出电路的参数成品率，是进一步实施电路优化设计的基础。目前，用于成品率估计的传统方法主要是蒙特卡洛采样(MonteCarlo)方法。该方法原理简单，但需要进行大量的电路仿真才能估计出成品率，从而导致电路设计的效率低下。
技术实现思路
本专利技术的目的是提出一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，建立信度规则库描述集成电路参数变量与输出成品率之间的关系。通过有限的训练样本对信度规则库中的参数进行优化，使得在给定电路参数变量的情况下，可以通过信度规则推理精确和快速地估计出电路的成品率。与蒙特卡洛采样方法相比，所提方法大大节省了估计成品率的时间花销，提高了电路设计的效率。本专利技术提出的一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，包括以下各步骤：(1)给定集成电路的性能函数y＝f(x1,x2,…,xT)(1)其中，y为集成电路的性能参数；xi为集成电路性能函数f的输入，代表集成电路中电路元件的参数，xi是在区间[Li,Ri]上符合正态分布的随机变量，-∞<Li<Ri<+∞，为xi的均值，为xi的方差，且满足τi为集成电路元件参数偏差幅度的倍数，τi∈[0.01,0.1]，其中i＝1,2…,T，T≥1，表示集成电路元件参数的个数。(2)给出集成电路成品率Y的计算公式其中，fy(y)为集成电路性能参数的概率密度函数；y_o∈[-∞,+∞]，表示集成电路性能参数的最优值，Δy>0，表示集成电路性能值的允许偏差值；指示函数η(y)满足：其中，Ra为集成电路性能参数y的容差区间，Ra＝[y|y_o-Δy≤y≤y_o+Δy]。(3)建立信度规则库，缩写为BRB，用其描述集成电路元件参数的均值与该集成电路成品率Y之间的对应变化关系，该BRB由如下形式的信度规则组成：Rk:若且且…且则[(D1,β1,k),(D2,β2,k),…,(DN,βN,k)](4)并有，Rk的规则权重为θk，满足0≤θk≤1，集成电路每个元件参数均值作为规则Rk的前项属性，它们相应的属性权重分别为δ1,δ2,…,δT，并有0≤δi≤1。式(4)中，为规则Rk中前项属性的参考值，且有Qi为的取值空间，其中的元素满足mi表示取值的个数mi≥1；分别抽取Q1,Q2,…,QT中的一个元素作为相应参考值的取值，共计可以产生L＝m1×m2×…×mT条规则，L≥1，k＝1,2,3…,L为规则的编号。式(4)中，Rk后项属性分别为D1,D2,…,DN，并有0＜D1＜D2＜…＜DN≤1，N≥2；β1,k,β2,k,…,βN,k分别为D1,D2,…,DN的信度值，并有0≤βa,k≤1，a∈{1,2…,N}；β1,k,β2,k,…,βN,k的初值求取方法如下：令则x1,x2,…,xT的正态分布被确定，此时可通过蒙特卡洛采样方法，依据步骤(1)中的式(1)获得性能参数y的概率密度函数，然后利用步骤(2)中的式(2)计算得到关于Rk的成品率取值Yk，总可以找到两个相邻的Db和Db+1使得Db≤Yk≤Db+1成立，并可建立以下两个关于βb,k和βb+1,k的方程式Yk＝Db×βb,k+Db+1×βb+1,k,b∈{1,2,…,N-1}(5)βb,k+βb+1,k＝1(6)联立这两个方程，可以求解出βb,k和βb+1,k的初值为：βb+1,k＝1-βb,k(8)而其他信度值的初值设定为βa,k＝0a∈{1,2…N}且a≠b,b+1(9)式(4)中，设定规则权重的初值为θk＝1；属性权重初值δi＝1。(4)获得用于优化规则Rk中后项属性信度值、规则权重以及属性权重的训练样本，具体步骤如下：步骤(4-1)：对于规则Rk中前项属性的参考值取值空间因其满足可以利用该不等式中两两相邻数值组成共计(mi+1)个开区间从每个开区间中随机挑选出2个样本，生成2(mi+1)个样本，并将由它们组成的样本集记为步骤(4-2)：对于步骤(4-1)生成的样本集分别依次抽取中的一个元素作为的样本取值，共计就可以生成num个样本向量，记这些向量构成的样本向量集合为Sμ，其中的样本向量记为并有j＝1,2,…,num，num＝2(m1+1)×2(m2+1)×…×2(mT+1)，步骤(4-3)：对于每个样本向量令则x1,x2,…,xT的正态分布被确定，此时可通过蒙特卡洛采样方法，依据步骤(1)中的式(1)获得性能参数y的概率密度函数，然后利用步骤(2)中的式(2)计算得到在输入时的成品率取值则共计可以获得num个训练样本，记为集合S，其中的训练样本记为(5)将每个训练样本中的z1,j,z2,j,…,zT,j分别作为规则库的输入量，带入到BRB的每一条规则Rk中，经推理得到输出结果为这里，是输入元件参数均值经信度融合后得到的信度值，且其中，式(11)与式(12)中，wk为输入元件参数均值的第k条规则的激活权重，这里，其中，wk∈[0,1]；为相对属性权重，表达式为：式(13)中，表示为第k条规则中第i个输入元件参数均值相对于参考值的匹配度(ji＝1,2,…,mi-1)，匹配度的求解方法如下：(a)当和时，对于Ai,1和的匹配度取值均为1，对于其他参考值的匹配度均为0；(b)当时，对于和的匹配度取值分别由式(15)和式(16)给出此时，集成电路元件参数均值对应的其他参考值的匹配度均为0。(6)根据步骤(5)中式(10)，计算将每个训练样本中的z1,j,z2,j,…,zT,j分别作为规则库的输入量时，获得的集成电路成品率的估计值为：(7)利用步骤(5)和(6)得到num个训练样本对应的成品率估计值，记为设定需要优化的指标集为V＝(βa,k,θk,δia＝1,…,N,k＝1,…,L,i＝1,…T)(18)建立对其的优化目标函数可以利用MATLAB优化工具箱中的Fmincon函数，在式(20)-(23)给出的约束条件下，找到ξ(V)取最小值时，V中指标参数的最优值0≤βa,k≤1(20)0≤θk≤1(22)0≤δi≤1(23)具有最优指标参数取值的规则库为优化后的信度规则库。(8)对于任意一组的取值，可以将其带入优化后的BRB中，利用步骤(5)和(6)，计算出它所对应的成品率估计值。上述方法的关键技术在于：利用信度规则库(BRB)建模集成电路参数变量输入与成品率输出之间的映射关系。利用信度规则前项属性的参考值、后项属性的信度结构，建模输入和输出量之间的变化关系。构造优化函数，利用有限的训练样本优化信度规则库中的参数。在给定电路参数变量作为信度规则库输入的情况下，通过规则推理，能够精确和快速地估计出集成电路的成品率。本专利技术利用信度规则库(BRB)建模输入电路参数变量与输出成品率之间的映射关系。通过有限的训练样本及相应的优化函数对信度规则库中的参数进行优化，使得通过信度规则推理，能够精确估计出给定电路参数变量时的电路成品率。与蒙特卡洛采样方本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，其特征在于该方法包括以下各步骤：步骤(1)给定集成电路的性能函数y＝f(x1,x2,…,xT)      (1)其中，y为集成电路的性能参数；xi为集成电路性能函数f的输入，代表集成电路中电路元件的参数，xi是在区间[Li,Ri]上符合正态分布的随机变量，‑∞<Li<Ri<+∞，为xi的均值，μxi∈[Lμi,Rμi],-∞<Lμi<Rμi<+∞,]]>为xi的方差，且满足τi为集成电路元件参数偏差幅度的倍数，τi∈[0.01,0.1]，其中i＝1,2…,T，T≥1，表示集成电路元件参数的个数；步骤(2)给出集成电路成品率Y的计算公式Y=∫y_o-Δyy_o+Δyη(y)fy(y)dy---(2)]]>其中，fy(y)为集成电路性能参数的概率密度函数；y_o∈[‑∞,+∞]，表示集成电路性能参数的最优值，Δy>0，表示集成电路性能值的允许偏差值；指示函数η(y)满足：η(y)=0,y∉Ra1,y∈Ra---(3)]]>其中，Ra为集成电路性能参数y的容差区间，Ra＝[y|y_o‑Δy≤y≤y_o+Δy]；步骤(3)建立信度规则库，缩写为BRB，用其描述集成电路元件参数的均值与该集成电路成品率Y之间的对应变化关系，该BRB由如下形式的信度规则组成：Rk:若且且…且则[(D1,β1,k),(D2,β2,k),…,(DN,βN,k)]  (4)并有，Rk的规则权重为θk，满足0≤θk≤1，集成电路每个元件参数均值作为规则Rk的前项属性，它们相应的属性权重分别为δ1,δ2,…,δT，并有0≤δi≤1；式(4)中，为规则Rk中前项属性的参考值，且有Qi为的取值空间，其中的元素满足mi表示取值的个数mi≥1；分别抽取Q1,Q2,…,QT中的一个元素作为相应参考值的取值，共计可以产生L＝m1×m2×…×mT条规则，L≥1，k＝1,2,3…,L为规则的编号；式(4)中，Rk后项属性分别为D1,D2,…,DN，并有0＜D1＜D2＜…＜DN≤1，N≥2；β1,k,β2,k,…,βN,k分别为D1,D2,…,DN的信度值，并有0≤βa,k≤1，a∈{1,2…,N}；β1,k,β2,k,…,βN,k的初值求取方法如下：令则x1,x2,…,xT的正态分布被确定，此时通过蒙特卡洛采样方法，依据步骤(1)中的式(1)获得性能参数y的概率密度函数，然后利用步骤(2)中的式(2)计算得到关于Rk的成品率取值Yk，找到两个相邻的Db和Db+1使得Db≤Yk≤Db+1成立，并可建立以下两个关于βb,k和βb+1,k的方程式Yk＝Db×βb,k+Db+1×βb+1,k,b∈{1,2,…,N‑1}   (5)βb,k+βb+1,k＝1    (6)联立这两个方程，求解出βb,k和βb+1,k的初值为：βb,k=Db+1-YkDb+1-Db---(7)]]>βb+1,k＝1‑βb,k   (8)而其他信度值的初值设定为βa,k＝0a∈{1,2…N}且a≠b,b+1    (9)式(4)中，设定规则权重的初值为θk＝1；属性权重初值δi＝1；步骤(4)获得用于优化规则Rk中后项属性信度值、规则权重以及属性权重的训练样本，具体步骤如下：步骤(4‑1)：对于规则Rk中前项属性的参考值取值空间因其满足利用该不等式中两两相邻数值组成共计(mi+1)个开区间从每个开区间中随机挑选出2个样本，生成2(mi+1)个样本，并将由它们组成的样本集记为步骤(4‑2)：对于步骤(4‑1)生成的样本集分别依次抽取中的一个元素作为的样本取值，共计就可以生成num个样本向量，记这些向量构成的样本向量集合为Sμ，其中的样本向量记为并有j＝1,2,…,num，num＝2(m1+1)×2(m2+1)×…×2(mT+1)，步骤(4‑3)：对于每个样本向量令μx1=z1,j,μx2=z2,j,...,]]>μxT=zT,j,]]>则x1,x2,…,xT的正态分布被确定，此时通过蒙特卡洛采样方法，依据步骤(1)中的式(1)获得性能参数y的概率密度函数，然后利用步骤(2)中的式(2)计算得到在输入时的成品率取值则共计可以获得num个训练样本，记为集合S，其中的训练样本记为步骤(5)将每个训练样本中的z1,j,z2,j,…,zT,j分别作为规则库的输入量，带入到BRB的每一条规则Rk中，经推理得到输出结果为Out={(Da,β^a),a=1,2,...,N}---(10)]]>这里，是输入元件参数均值经信度融合后得到的信度值，...

【技术特征摘要】
1.基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，其特征在于该方法包括以下各步骤：步骤(1)给定集成电路的性能函数：y＝f(x1,x2,…,xT)(1)；其中，y为集成电路的性能参数；xi为集成电路性能函数f的输入，代表集成电路中电路元件的参数，xi是在区间[Li,Ri]上符合正态分布的随机变量，-∞<Li<Ri<+∞，为xi的均值，为xi的方差，且满足τi为集成电路元件参数偏差幅度的倍数，τi∈[0.01,0.1]，其中i＝1,2…,T，T≥1，表示集成电路元件参数的个数；步骤(2)给出集成电路成品率Y的计算公式：其中，fy(y)为集成电路性能参数的概率密度函数；y_o∈[-∞,+∞]，表示集成电路性能参数的最优值，Δy>0，表示集成电路性能值的允许偏差值；指示函数η(y)满足：其中，Ra为集成电路性能参数y的容差区间，Ra＝[y|y_o-Δy≤y≤y_o+Δy]；步骤(3)建立信度规则库，缩写为BRB，用其描述集成电路元件参数的均值与该集成电路成品率Y之间的对应变化关系，该BRB由如下形式的信度规则组成：Rk:若则[(D1,β1,k),(D2,β2,k),…,(DN,βN,k)](4)；并有，Rk的规则权重为θk，满足0≤θk≤1，集成电路每个元件参数均值作为规则Rk的前项属性，它们相应的属性权重分别为δ1,δ2,…,δT，并有0≤δi≤1；式(4)中，为规则Rk中前项属性的参考值，且有Qi为的取值空间，其中的元素满足mi表示取值的个数mi≥1；分别抽取Q1,Q2,…,QT中的一个元素作为相应参考值的取值，共计可以产生L＝m1×m2×…×mT条规则，L＝1,2,3…；式(4)中，Rk后项属性分别为D1,D2,…,DN，并有0＜D1＜D2＜…＜DN≤1，N≥2；β1,k,β2,k,…,βN,k分别为D1,D2,…,DN的信度值，并有0≤βa,k≤1，a∈{1,2…,N}；β1,k,β2,k,…,βN,k的初值求取方法如下：令则x1,x2,…,xT的正态分布被确定，此时通过蒙特卡洛采样方法，依据步骤(1)中的式(1)获得性能参数y的概率密度函数，然后利用步骤(2)中的式(2)计算得到关于Rk的成品率取值Yk，找到两个相邻的Db和Db+1使得Db≤Yk≤Db+1成立，并可建立以下两个关于βb,k和βb+1,k的方程式：Yk＝Db×βb,k+Db+1×βb+1,k,b∈{1,2,…,N-1}(5)；βb,k+βb+1,k＝1(6)；联立这两个方程，求解出βb,k和βb+1,k的初值为：βb+1,k＝1-βb,k(8)；而其他信度值的初值设定为：βa,k＝0，a∈{1,2…N}，其中，a≠b且a≠b+1(9)；...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐晓滨，刘征，张镇，文成林，
申请(专利权)人：杭州电子科技大学，
类型：发明
国别省市：浙江;33