在用于减少当相对于多层光盘记录或再现信息时，由作为记录或再现对象的信息记录层以外的信息记录层反射后的光束造成的影响的光盘装置以及光学头装置中，光学头装置(103)的光学元件(209)、全息元件(208)和光检测器(210)构成为，将根据来自作为记录或再现对象的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到循轨误差检测用受光部(405)、(408)的受光面内，将根据来自与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠里1个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到受光面的外侧，将根据来自与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠外1个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到受光面的外侧。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】在用于减少当相对于多层光盘记录或再现信息时，由作为记录或再现对象的信息记录层以外的信息记录层反射后的光束造成的影响的光盘装置以及光学头装置中，光学头装置(103)的光学元件(209)、全息元件(208)和光检测器(210)构成为，将根据来自作为记录或再现对象的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到循轨误差检测用受光部(405)、(408)的受光面内，将根据来自与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠里1个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到受光面的外侧，将根据来自与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠外1个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到受光面的外侧。【专利说明】光学头装置以及光盘装置
本专利技术涉及光学头装置以及光盘装置。
技术介绍
作为使来自光学头装置的激光追随光盘的信息轨道的方法，存在单光束推挽方式。在该方式中，由光检测器的被2分割而形成的受光面检测在光盘的信息轨道处衍射后的激光的反射光，并使物镜沿光盘的径向移位以使作为检测信号之差的循轨误差信号接近O。但是，在该方式中，当物镜沿光盘的径向移位时，物镜与光检测器的位置相对错开，因此照射到光检测器的光斑移动，从而循轨误差信号产生偏置。例如在专利文献I中已提出消除该偏置的技术。在专利文献I所述的技术中，对偏光性全息元件的衍射光的±1次光进行分离，并由具有比照射位置的错开量大的受光面的光检测器分别检测分离后的±1次光，通过使用这些受光面的检测信号，可避免偏置的产生。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平8-63778号公报(第0017段、图1)
技术实现思路
专利技术要解决的课题但是，在专利文献I所述的光学头装置中，存在以下问题:在相对于具有多个形成有信息轨道的信息记录层的多层光盘记录或再现信息时，由作为记录或再现对象的信息记录层以外的信息记录层反射后的光束被照射到光检测器，从而作为循轨误差信号的噪声而被检测到。因此，本专利技术正是为了解决上述现有技术的课题而完成的，其目的在于，提供一种光学头装置以及光盘装置，能够减少在相对于多层光盘记录或再现信息时，由作为记录或再现对象的信息记录层以外的信息记录层反射后的光束造成的影响。用于解决课题的手段本专利技术的一个方式的光学头装置的特征在于，该光学头装置具有:激光光源，其射出激光；物镜，其将所述激光会聚到光盘的信息记录层的信息轨道，并会聚由所述信息轨道衍射后的反射光；衍射元件，其根据由所述物镜会聚后的所述反射光生成衍射光；光学元件，其对所述反射光赋予像散；以及光检测器，其接收所述反射光，所述衍射元件包含多个衍射区域，该多个衍射区域是由以+45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第I直线和以一 45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第2直线分割而成的，所述光检测器包含循轨误差检测用受光部，该循轨误差检测用受光部将以+45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第3直线、以及以一 45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第4直线作为边界线，所述光学元件、所述衍射元件和所述光检测器构成为，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的作为记录或再现对象的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或一 I次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面内，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠里I个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或一 I次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面的外侧，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠外I个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或一 I次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面的外侧。本专利技术的另一方式的光学头装置的特征在于，该光学头装置具有:激光光源，其射出激光；物镜，其将所述激光会聚到光盘的信息记录层的信息轨道，并会聚由所述信息轨道衍射后的反射光；衍射元件，其根据由所述物镜会聚后的所述反射光生成衍射光；光学元件，其对所述反射光赋予像散；以及光检测器，其接收所述反射光，所述衍射元件包含多个衍射区域，该多个衍射区域是由以+45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第I直线和以一 45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第2直线分割而成的，所述光检测器具有:第I受光面?第8受光面，它们将以+45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第3直线、以一 45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第4直线、在对应于所述径向的方向上延伸的第5直线、在对应于所述切向的方向上延伸的第6直线作为边界线；以及第9受光面?第16受光面，它们将以+45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第7直线、以一 45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第8直线、在对应于所述径向的方向上延伸的第9直线、在对应于所述切向的方向上延伸的第10直线作为边界线，所述第I受光面?第16受光面内的多个受光面构成循轨误差检测用受光部，所述第I受光面?第16受光面构成聚焦误差检测用受光部，所述光学元件、所述衍射元件和所述光检测器构成为，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的作为记录或再现对象的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或一 I次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的所述受光面内，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠里I个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或一 I次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面的外侧，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠外I个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或一 I次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的所述受光面的外侧。本专利技术的一个方式的光盘装置的特征在于，该光盘装置具有:盘驱动部，其使光盘旋转；以及光学头装置，其从旋转的所述光盘读取信息或向所述光盘写入信息，所述光学头装置具有:激光光源，其射出激光；物镜，其将所述激光会聚到光盘的信息记录层的信息轨道，并会聚由所述信息轨道衍射后的反射光；衍射元件，其根据由所述物镜会聚后的所述反射光生成衍射光；光学元件，其对所述反射光赋予像散；以及光检测器，其接收所述反射光，所述衍射元件包含多个衍射区域，该多个衍射区域是由以+45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第I直线和以一 45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第2直线分割而成的，所述光检测器包含循轨误差检测用受光部，该循轨误差检测用受光部将以+45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第3直线、以及以一 45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第4直线作为边界线，所述光学元件、所述衍射元件和所述光检测器构成为，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的作为记录或再现对象的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或一 I次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面内，将由所述衍射元件本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光学头装置，其特征在于，该光学头装置具有：激光光源，其射出激光；物镜，其将所述激光会聚到光盘的信息记录层的信息轨道，并会聚由所述信息轨道衍射后的反射光；衍射元件，其根据由所述物镜会聚后的所述反射光生成衍射光；光学元件，其对所述反射光赋予像散；以及光检测器，其接收所述反射光，所述衍射元件包含多个衍射区域，该多个衍射区域是由以+45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第1直线和以－45度的角度与在所述光盘的径向上延伸的直线交叉的第2直线分割而成的，所述光检测器包含循轨误差检测用受光部，该循轨误差检测用受光部将以+45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第3直线、以及以－45度的角度与在对应于所述径向的方向上延伸的直线交叉的第4直线作为边界线，所述光学元件、所述衍射元件和所述光检测器构成为，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的作为记录或再现对象的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面内，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠里1个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面的外侧，将由所述衍射元件根据来自所述光盘的与作为记录或再现对象的信息记录层相比靠外1个的信息记录层的信息轨道的反射光而生成的衍射光内的+1次光或－1次光，照射到所述循轨误差检测用受光部的受光面的外侧。...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：中原宏勋，的崎俊哉，竹下伸夫，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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