用于检测表面的性质的电子器件制造技术

提供一种用于基于使用传感器对表面的性质的测量来监测表面的状态的装置。在示例中，使用设置在组织之上的装置来实现该性质，其中该装置包括：至少一个线圈结构，其由导电材料构成；至少一个其它组件；以及至少一个交联结构，其使所述至少一个线圈结构的一部分物理耦合至至少一个其它组件的一部分，其中该至少一个交联结构由柔性材料构成。该至少一个其它组件可以是传感器组件或处理器单元。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种用于监测表面对电磁辐射的暴露的装置，所述装置包括：柔性基板；至少一个传感器组件，其设置在所述柔性基板上，其中所述至少一个传感器组件测量入射在所述至少一个传感器组件上的电磁辐射的量，所述电磁辐射的频率在电磁波谱的可见区域或紫外区域内；至少一个处理单元，其与所述至少一个传感器组件进行通信；以及至少一个交联结构，其物理耦合至所述至少一个处理单元的一部分和/或所述至少一个传感器组件的一部分，所述至少一个交联结构由电介质材料构成，其中，对入射在所述至少一个传感器组件上的电磁辐射的量的测量提供对所述表面对电磁辐射的暴露量的指示。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·拉弗蒂，许永昱，B·施拉特卡，G·卡尔森，
申请(专利权)人：MC一零股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US