一种斜探头检测试块制造技术

本实用新型专利技术涉及一种斜探头检测试块，其包括试块体、设置于试块体左侧的圆弧状阶梯面、设置于试块体上的阶梯孔、设置于试块体右侧的通孔以及设置于试块体底面的半圆形凹槽。本实用新型专利技术的各反射体的设置有利于减少误差，提高分辨力，简化试块设置并可以用于检测超声场声束纵向声压分布，弥补现有技术中无纵向声压分布检测试块的不足。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种斜探头检测试块，其包括试块体、设置于试块体左侧的圆弧状阶梯面、设置于试块体上的阶梯孔、设置于试块体右侧的通孔以及设置于试块体底面的半圆形凹槽。本技术的各反射体的设置有利于减少误差，提高分辨力，简化试块设置并可以用于检测超声场声束纵向声压分布，弥补现有技术中无纵向声压分布检测试块的不足。【专利说明】一种斜探头检测试块
本技术涉及一种斜探头检测试块。
技术介绍
斜探头超声波探伤仪斜探头进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。目前较常使用的斜探头用试块有CSK-1A、IIW等，但是随着数字探伤仪等新型仪器的广泛应用，单一的标准试块已经无法满足检测的需求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种制作简单、成本较低，且可满足多种检测需求的斜探头检测试块。为了到达上述目的，本技术采用的技术方案如下:本技术的试块包括试块体、设置于试块体左侧的圆弧状阶梯面、设置于试块体上的阶梯孔、设置于试块体右侧的通孔以及设置于试块体底面的半圆形凹槽；所述圆弧状阶梯面为二阶阶梯面，其外侧圆弧面的半径与试块体的宽边长度相同，其内侧圆弧面的半径为试块体的宽边长度的50%~80% ;所述阶梯孔为等高阶梯孔，其中心线到试块体左侧的距离为试块体长度的30-50% ;所述通孔到试块体右侧的距离为试块体长度的10~30% ;所述半圆形凹槽的半径为l~ 5mm。进一步的，本技术所述试块体的长边长度是宽边长度的1.5^3倍，高度是宽边长度的30%~50%，所述试块体的宽边长度为10(Tl50mm。进一步的，本技术所述阶梯孔的内孔半径为2飞mm，外孔半径为5~10mm。进一步的，本技术所述通孔的半径为f3mm。进一步的，本技术所述半圆形凹槽的数量为2个，分别位于距所述试块体右侧的1/3短边长度处和2/3短边长度处。本技术的技术效果包括:本技术的圆弧状阶梯面为二阶阶梯面，用于两点标准校正，在调整横波扫描速度和检测范围是降低了难度并有助于减少误差。试块体上设置的二阶阶梯孔可用于斜探头的远、近声场测定，提高分辨力，简化试块设置。试块体上的通孔用于斜探头角度的手动调节，由适于数字探伤仪进行无损检测时的使用，偏差小，结果准确。试块体上设置的凹槽增加了试块表面的缺陷，半圆形凹槽对超声波可以产生正反射，受超声波入射角度影响小，可以用于检测超声场声束纵向声压分布，弥补现有技术中无纵向声压分布检测试块的不足；同时凹槽位于试块表面，便于加工，并可实现对凹槽的精度及表面粗糙度精确控制。【专利附图】【附图说明】图1为实施例1的二阶试块的主视结构示意图。在附图中，I试块体、2圆弧状阶梯面、2-1外侧圆弧面、2-2内侧圆弧面、3阶梯孔、4通孔、5半圆形凹槽、LI试块体长边、L2试块体短边、D试块体宽边。【具体实施方式】实施例1如附图1、2所示，本技术所述的二阶试块包括试块体1、设置于试块体I左侧的圆弧状阶梯面2、设置于试块体I上的阶梯孔3、设置于试块体I右侧的通孔4以及设置于试块体I底面的半圆形凹槽5。所述试块体I的长边LI长度是宽边D长度的1.5^3倍，高度是宽边D长度的30%~50%，所述试块体I的宽边D长度为10(Tl50mm ;所述试块体I的短边长度是试块体I长边LI长度与宽边D长度的差值。本技术所述圆弧状阶梯面2为二阶阶梯面，其外侧圆弧面2-1的半径与试块体I的宽边D长度相同，其内侧圆弧面2-2的半径为试块体I的宽边D长度的50%~80% ;其可用于两点标准校正，在调整横波扫描速度和检测范围是降低了难度并有助于减少误差。本技术所述阶梯孔3为等高阶梯孔，其中心线到试块体I左侧的距离为试块体I长边LI长度的30~50% ;所述阶梯孔3的内孔半径为2~5mm，外孔半径为5~IOmm ;其可用于斜探头的远、近声场测定，提高分辨力，简化试块设置。本技术所述通孔4到试块体I右侧的距离为试块体I长度的10-30% ;其半径为f 3mm ;其用于斜探头角度的手动调节，由适于数字探伤仪进行无损检测时的使用，偏差小，结果准确。本技术所述半圆形凹槽5的半径为f 5mm ;共设置有2个，分别位于距所述试块体I右侧的1/3短边L 2长度处和2/3短边L2长度处；其对超声波可以产生正反射，受超声波入射角度影响小，可以用于检测超声场声束纵向声压分布，弥补现有技术中无纵向声压分布检测试块的不足；同时凹槽位于试块表面，便于加工，并可实现对凹槽的精度及表面粗糙度精确控制。【权利要求】1.一种斜探头检测试块，其特征在于其包括试块体(1)、设置于试块体(1)左侧的圆弧状阶梯面(2)、设置于试块体(1)上的阶梯孔(3)、设置于试块体(1)右侧的通孔(4)以及设置于试块体(1)底面的半圆形凹槽(5)； 所述圆弧状阶梯面(2)为二阶阶梯面，其外侧圆弧面(2-1)的半径与试块体(1)的宽边长度相同，其内侧圆弧面(2-2)的半径为试块体(1)的宽边长度的50%~80% ； 所述阶梯孔(3)为等高阶梯孔，其中心线到试块体(1)左侧的距离为试块体(1)长度的30~50% ； 所述通孔(4)到试块体(1)右侧的距离为试块体(1)长度的10-30% ； 所述半圆形凹槽(5)的半径为l、mm。2.根据权利要求1所述的斜探头检测试块，其特征在于所述试块体(1)的长边长度是宽边长度的1.5~3倍，高度是宽边长度的30%~50%，所述试块体(1)的宽边长度为100~150mm。3.根据权利要求2所述的斜探头检测试块，其特征在于所述阶梯孔(3)的内孔半径为2~5mm,外孔半径为5~10mm。4.根据权利要求3所述的斜探头检测试块，其特征在于所述通孔(4)的半径为f3mm。5.根据权利要求4所述的斜探头检测试块，其特征在于所述半圆形凹槽(5)的数量为2个，分别位于距所述试块体(1)右侧的1/3短边长度处和2/3短边长度处。【文档编号】G01N29/30GK203732512SQ201420113573【公开日】2014年7月23日 申请日期:2014年3月13日 优先权日:2014年3月13日 【专利技术者】张彦新 申请人:河北省电力建设调整试验所, 国网河北省电力公司电力科学研究院本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种斜探头检测试块，其特征在于其包括试块体（1）、设置于试块体（1）左侧的圆弧状阶梯面（2）、设置于试块体（1）上的阶梯孔（3）、设置于试块体（1）右侧的通孔（4）以及设置于试块体（1）底面的半圆形凹槽（5）；所述圆弧状阶梯面（2）为二阶阶梯面，其外侧圆弧面（2‑1）的半径与试块体（1）的宽边长度相同，其内侧圆弧面（2‑2）的半径为试块体（1）的宽边长度的50%~80%；所述阶梯孔（3）为等高阶梯孔，其中心线到试块体（1）左侧的距离为试块体（1）长度的30~50%；所述通孔（4）到试块体（1）右侧的距离为试块体（1）长度的10~30%；所述半圆形凹槽（5）的半径为1~5mm。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张彦新，
申请(专利权)人：河北省电力建设调整试验所，国网河北省电力公司电力科学研究院，
类型：新型
国别省市：河北;13