一种非接触式空间位移测量装置制造方法及图纸

技术编号:10244022 阅读:141 留言:0更新日期:2014-07-23 17:59
本发明专利技术公开一种非接触式空间位移测量装置,包括设置在参考点处的激光测距仪,还包括设置在监测点处的成像透板、设置在成像透板背对激光测距仪一侧的图像采集装置以及驱动模块和控制模块,所述成像透板用于接收激光测距仪发出的光并形成光斑,所述图像采集装置用于采集成像透板上形成的光斑,所述图像采集装置与驱动模块连接、驱动模块与控制模块连接。本发明专利技术量程大、测量准确度高、功耗低、可测量位置传感器相对于激光器的前后伏仰及顺逆旋转变形、量程调节方便,解决了现有技术对应存在的问题,广泛应用于地质灾害条件下监测工程建筑的变形。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种非接触式空间位移测量装置,包括设置在参考点处的激光测距仪,其特征在于:还包括设置在监测点处的成像透板、设置在成像透板背对激光测距仪一侧的图像采集装置以及驱动模块和控制模块,所述成像透板用于接收激光测距仪发出的光并形成光斑,所述图像采集装置用于采集成像透板上形成的光斑,所述图像采集装置与驱动模块连接、驱动模块与控制模块连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:许利凯赵静
申请(专利权)人:北京卓越经纬测控技术有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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