本发明专利技术公开了一种芯片测试座，包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。本发明专利技术的芯片测试座使得芯片测试操作简单，测试效率高。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种芯片测试座，包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。本专利技术的芯片测试座使得芯片测试操作简单，测试效率高。【专利说明】芯片测试座
本专利技术涉及芯片测试领域，特别涉及一种利用TektiOniX370A晶体管图示仪测试芯片的芯片测试座。
技术介绍
目前利用Tektronix370A晶体管图示仪对半导体芯片测试时，需要手动用带有插头的导线连接芯片相应引脚到晶体管图示仪的相应插口内，实现芯片与晶体管图示仪的连接，从而完成后续不同电性能参数的测试，这种方式需要操作人员人工连线，且不停插拔导线插头连接到晶体管图示仪上，操作繁琐易出错，芯片测试效率低下。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种操作简单，芯片测试效率高的芯片测试座。为了实现上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案是: 一种芯片测试座，包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。所述晶体管图示仪为Tektronix 370A型晶体管图示仪。优选的，所述引脚有3对，每一对引脚分别与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配。所述第一拨码开关与所述第二拨码开关对称设置在所述基座上表面两端，所述芯片夹具位于第一拨码开关和第二拨码开关之间。所述芯片夹具包括本体，该本体具有用于芯片固定的固定槽和用于与芯片引脚接触的针脚，所述针脚位于所述固定槽的底部两侧并伸出所述本体。与现有技术相比，本专利技术的有益效果: 本专利技术的芯片测试座使用时将芯片放入芯片夹具内固定，芯片相应引脚通过芯片夹具与两个拨码开关电连接，而两个拨码开关分别与芯片测试座下表面的一对引脚电连接，测试时将芯片测试座下表面的至少一对引脚插入晶体管图示仪上相应的测试插孔内，实现芯片引脚与晶体管图示仪的电连接，通过芯片测试座上的两个拨码开关实现测试电路的通断控制，操作人员只需插拔芯片测试座连接，免去手动连线，操作简单不易出错，也使得芯片测试效率大大提高。【专利附图】【附图说明】: 图1是本专利技术实施例中的芯片测试座的结构示意图。图2是图1中的芯片夹具结构示意图。图3是本专利技术实施例中的芯片测试座的电路框图。图4是本专利技术实施例中的晶体管图示仪示意图。【具体实施方式】下面结合【具体实施方式】对本专利技术作进一步的详细描述。但不应将此理解为本专利技术上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本
技术实现思路
所实现的技术均属于本专利技术的范围。如图1所示的芯片测试座，包括基座1，所述基座I下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚2，本实施例中所述引脚2以两对为例说明，所述晶体管图示仪为Tektronix 370A型晶体管图示仪(见图4)，其上具有多个测试插孔，所述一对引脚2与该晶体管图示仪上的一组测试插孔适配，图1仅为示意图，引脚2安装在基座下表面什么位置是根据晶体管图示仪上的测试插孔来确定的，两者要互相适配，以便于对准插接。所述基座I上表面设置有第一拨码开关3、第二拨码开关4和芯片夹具5。参看图3，所述一对引脚2中的一个引脚与所述第一拨码开关3电性连接，所述第一拨码开关3与所述芯片夹具5电性连接，所述芯片夹具5与所述第二拨码开关4电性连接，所述第二拨码开关4与所述一对引脚2中的另一个引脚电性连接。具体的，所述第一拨码开关3与所述第二拨码开关4对称设置在所述基座I上表面两端，所述芯片夹具5位于第一拨码开关3和第二拨码开关4之间。拨码开关(3、4)包括多个拨动开关单元，本实施例以2个波动开关单元为例说明，每个拨码开关上的一个波动开关单元，即一组波动开关单元一端分别连接测试座下表面的一对引脚2，该组波动开关单元另一端再分别与所述芯片夹具5电连接，参看图2，芯片夹具包括本501，本体501上具有用于芯片固定的固定槽502和与芯片引脚接触的针脚503，所述针脚503位于所述固定槽502的底部两侧并伸出所述本体501。拨码开关(3、4)上的波动开关单元与芯片夹具5的相应针脚503连接，测试座引脚2插入晶体管图示仪的相应测试插孔，这样就实现了芯片与晶体管图示仪的电性连接。本专利技术的芯片测试座是专利技术人为方便利用Tektronix 370A型晶体管图示仪测试芯片而专利技术的，专门针对Tektronix 370A型晶体管图示仪而设计，使用时将芯片放入芯片夹具5内固定，芯片相应引脚通过芯片夹具5上的针脚503与两个拨码开关(3、4)电连接，而两个拨码开关(即一组波动开关单元)分别与芯片测试座下表面的一对引脚2电连接，测试时将芯片测试座下表面的至少一对引脚2插入晶体管图示仪相应的测试插孔内，实现芯片引脚与晶体管图示仪的电连接，通过芯片测试座上的两个拨码开关实现测试电路的控制，操作人员只需插拔芯片测试座连接，免去手动连线，操作简单不易出错，也使得芯片测试效率大大提高。作为本专利技术的优选方案，所述测试座下表面的引脚2有3对(图未示)，每一对引脚分别与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配。拨码开关包括多个拨动开关单元，每个拨码开关上的一个波动开关单元，即一组波动开关单元分别连接测试座下表面的一对引脚，该组波动开关单元另一端再分别与所述芯片夹具电连接，芯片夹具具有与芯片引脚接触的针脚，波动开关单元与芯片夹具的相应针脚连接，测试座引脚插入晶体管图示仪的相应测试插孔，这样就实现了芯片与晶体管图示仪的连接，晶体管图示仪上的每一组插孔用于测试不同的参数，测试时通过两个拨码开关上拨动开关单元的通断组合，实现芯片引脚与晶体管图示仪的不同测试插孔的连接，可方便进行多项参数测试，测试效率进一步提高。上面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】进行了详细说明，但本专利技术并不限制于上述实施方式，在不脱离本申请的权利要求的精神和范围情况下，本领域的技术人员可以作出各种修改或改型。【权利要求】1.一种芯片测试座，包括基座，其特征在于，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。2.根据权利要求1所述的芯片测试座，其特征在于，所述晶体管图示仪为Tektronix370A型晶体管图示仪。3.根据权利要求1所述的芯片测试座，其特征在于，所述引脚有3对，每一对引脚分别与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配。4.根据权利要求1所述的芯片测试座，其本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种芯片测试座，包括基座，其特征在于，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王锐，夏群，
申请(专利权)人：成都先进功率半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
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