一种用于异物检测的焦距调试组件制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于异物检测的焦距调试组件，包括调试模型，所述调试模型包括上体、下体及设于所述上体、下体之间的立柱，所述立柱的一边缘线与所述上体、下体的中心线重合。该用于异物检测的焦距调试组件具有提高检测药瓶漏检准确率的优点。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种用于异物检测的焦距调试组件，包括调试模型，所述调试模型包括上体、下体及设于所述上体、下体之间的立柱，所述立柱的一边缘线与所述上体、下体的中心线重合。该用于异物检测的焦距调试组件具有提高检测药瓶漏检准确率的优点。【专利说明】—种用于异物检测的焦距调试组件
本技术涉及食品、医药包装机械领域，特指一种用于异物检测的焦距调试组件。
技术介绍
在食品、医药包装设备领域，为检测瓶装液态食品或药品(如:安瓿瓶、口服液、西林瓶等)中的异物，经常用灯检机检测异物。目前，灯检机检测设备(相机)的调试主要为肉眼判别，即在检测设备(相机)进行焦距调试时，根据带检测药瓶的边缘清晰度进行调试，采用现有的灯检机异物检测调试方法易产生调试误差，导致检测药瓶的漏检和误判。具体来讲，如图1所示，现有的灯检机异物检测调试主要根据边界线的清晰度调试，其调试后的焦距中心为线a，其偏离于药瓶理论中心线b，相对检测药瓶而言，理论中心点M与采用该方法进行调试后的中心点N的距离s即为相机调试误差，该调试误差使调试后的焦距靠近检测设备(即检测药瓶外侧)，使外侧异物清晰，内侧异物模糊，形成灯检盲区，从而导致在设置异物检测参数时，异物大小和灰度值难以界定，这样就出现了对同一个检测药瓶不同时期检测效果的差异，导致检测药瓶的漏检和误判。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种提高检测药瓶漏检准确率的用于异物检测的焦距调试组件。为解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案:一种用于异物检测的焦距调试组件，包括调试模型，所述调试模型包括上体、下体及设于所述上体、下体之间的立柱，所述立柱的一边缘线与所述上体、下体的中心线重合。作为上述技术方案的进一步改进:还包括用于提供调试模型照明的光源组件。所述光源组件包括位于调试模型一侧并倾斜照向调试模型的辅助光源。所述调试模型的下端设有用于支撑调试模型的底座。所述光源组件还包括设于调试模型底部并竖直照向调试模型的底光源。所述底座上设有便于底光源竖直照向调试模型的中心孔。所述底光源为LED点光源。所述边缘线上设有用于精确调焦的刻度线。与现有技术相比，本专利技术的优点在于:本技术的异物检测调试组件的调试模型的立柱边缘线与调试模型的上体、下体的中心线重合，通过相机的调试界面观察边缘线的清晰度来调节相机焦距，有效消除了利用带检测药瓶的边缘清晰度进行调试导致的调试误差；同时，焦距对准边缘线进行调试，消除了灯检盲区，保证了内外侧异物检测的清晰度，提高了检测药瓶漏检准确率。【专利附图】【附图说明】图1是现有技术中灯检机异物检测误差原理图。图2是本技术的用于异物检测的焦距调试组件的结构示意图。图3是本技术的调试模型的立体结构示意图。图中各标号表不:1、调试模型；11、上体；12、下体；13、立柱；131、边缘线；132、刻度线；2、相机；3、底光源；4、辅助光源；5、底座。【具体实施方式】以下将结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。图2、图3所示了本技术的一种用于异物检测的焦距调试组件，包括调试模型1，调试模型I包括上体11、下体12及设于上体11、下体12之间的立柱13，立柱13的一边缘线131与上体11、下体12的中心线重合，在调试模型I的一侧设有对边缘线131进行焦距调试的相机2，通过相机2的调试界面观察边缘线131的清晰度来调节相机2焦距，有效消除了利用带检测药瓶的边缘清晰度进行调试导致的调试误差；同时，相机2对准边缘线131进行调试，消除了灯检盲区，保证了内外侧异物检测的清晰度，提高了检测药瓶漏检准确率。本实施例中，用于异物检测的焦距调试组件还包括用于提供调试模型I照明的光源组件，光源组件包括位于调试模型I 一侧并倾斜照向调试模型I的辅助光源4，在其他实施例中，光源组件还包括设于调试模型I底部并竖直照向调试模型I的底光源3，底光源3为LED点光源。本实施例中，用于调试模型I的下端设有用于支撑调试模型I的底座5，在其他实施例中，底座5上还设有便于底光源3竖直照向调试模型I的中心孔。本实施例中，边缘线131上设有刻度线132，刻度线132的设置使调焦更加精确。本实施例中，在相机焦距调试时，将该调试模型I放置在底座5上，打开辅助光源4和底光源3，在辅助光源4和底光源3的光照下，通过相机2的调试界面观察边缘线131的清晰度，并通过相机2的焦距旋钮进行调试，保证边缘线131达到最佳清晰度。同时，通过观察界面上的刻度线132直接调试相机2的位置，从而满足装量的调试要求。以上仅是本专利技术的优选实施方式，本专利技术的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本专利技术思路下的技术方案均属于本专利技术的保护范围。应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术原理前提下的若干改进和润饰，应视为本专利技术的保护范围。【权利要求】1.一种用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:包括调试模型(I)，所述调试模型(I)包括上体(11)、下体(12 )及设于所述上体(11)、下体(12 )之间的立柱(13 )，所述立柱(13)的一边缘线(131)与所述上体(11)、下体(12)的中心线重合。2.根据权利要求1所述的用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:还包括用于提供调试模型(I)照明的光源组件。3.根据权利要求2所述的用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:所述光源组件包括位于调试模型(I) 一侧并倾斜照向调试模型(I)的辅助光源(4)。4.根据权利要求3所述的用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:所述调试模型(O的下端设有用于支撑调试模型(I)的底座(5)。5.根据权利要求4所述的用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:所述光源组件还包括设于调试模型(I)底部并竖直照向调试模型(I)的底光源(3 )。6.根据权利要求5所述的用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:所述底座(5)上设有便于底光源(3)竖直照向调试模型(I)的中心孔。7.根据权利要求6所述的用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:所述底光源(3)为LED点光源。8.根据权利要求1至7中任意一项所述的用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于:所述边缘线(131)上设有用于精确调焦的刻度线(132 )。【文档编号】G01N21/01GK203688433SQ201320767364【公开日】2014年7月2日 申请日期:2013年11月29日 优先权日:2013年11月29日 【专利技术者】马文智 申请人:楚天科技股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于异物检测的焦距调试组件，其特征在于：包括调试模型（1），所述调试模型（1）包括上体（11）、下体（12）及设于所述上体（11）、下体（12）之间的立柱（13），所述立柱（13）的一边缘线（131）与所述上体（11）、下体（12）的中心线重合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马文智，
申请(专利权)人：楚天科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖南;43