【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种用于铜互连抛光的工艺方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤A:用铜化学机械抛光液去除铜并停在阻挡层表面, 步骤B:用阻挡层化学机械抛光液去除阻挡层、二氧化硅覆盖层、部分低介电材料和部分铜。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:荆建芬,王雨春,张建,蔡鑫元,姚颖,陈宝明,
申请(专利权)人:安集微电子上海有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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