一种用于光学加工抛光的标示装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于光学加工抛光的标示装置，包括机架、标示探头笔、驱动标示探头笔三维运动的平移机构、显示系统和控制系统，所述标示探头笔设于所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构上，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构设于所述机架上，所述机架与所述控制系统相连，所述控制系统与所述显示系统相连接。本实用新型专利技术无需检测者的复杂劳动即能在工件上自动完成标示，避免了人为标记的定位误差，简化了标示工作，提高标示的效率和精度，特别适用于高精度光学元件的加工。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种用于光学加工抛光的标示装置，包括机架、标示探头笔、驱动标示探头笔三维运动的平移机构、显示系统和控制系统，所述标示探头笔设于所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构上，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构设于所述机架上，所述机架与所述控制系统相连，所述控制系统与所述显示系统相连接。本技术无需检测者的复杂劳动即能在工件上自动完成标示，避免了人为标记的定位误差，简化了标示工作，提高标示的效率和精度，特别适用于高精度光学元件的加工。【专利说明】—种用于光学加工抛光的标示装置
本技术涉及抛光工艺领域，特别是一种用于指示抛光头或工件的进给运动位置的标示装置。
技术介绍
现有技术中，常用的光学元件加工方法按其加工方式可分为三类，材料去除法加工法，如研磨抛光法、单点金刚石车削、数控抛光；变形加工法，如热压成形、模压成形、注塑成形等；材料附加成形法如真空镀膜法和复制成形法等。这些加工方法的共有之处是都要利用数字波面干涉仪或三坐标测量仪等测量手段获得现有工件面形与目标面形的误差分布，然后将面形误差分布与其在工件上的位置相对应标示出需要进一步加工处理的高低位置。在光学加工过程中通常需要多个加工周期才能使面形误差收敛到期望范围，因此每个加工周期开始前都需要明确镜面上的加工区域。中国专利技术专利CN1295905A公开的标示装置，其采用CXD摄像头和图像采集卡将被加工工件摄入到监视窗口中，把面形误差分布假彩图与监视器中的动态画面相叠加在一起，调整假彩图尺寸，使之与动态图像相匹配，检测者通过动态图像来判断标示出工件上需要进一步加工处理的高低位置。这种标记装置在实际使用过程中通常需要检测者手持记号笔在工件被检面上移动，眼睛需要紧盯监视器中记号笔的移动画面，当动态屏幕中显示记号笔移到需要标示的位置时，在工件上标示出对应位置。对于大口径的高精度光学元件而言，一次检测可能需要标示的位置非常多，对检测者来说，工作量是巨大的，而且工件上的位置标示的准确性还受检测者主观因素影响，因此急需一种能减少检测者体力劳动，提高工作效率，而且能提高标示精度的自动标示装置。
技术实现思路
本技术的专利技术目的是提供一种用于光学加工抛光的标示装置，减少检测者的复杂劳动，以简化标示工作，提高工作效率，提高标示精度，实现自动标示。为达到上述专利技术目的，本技术采用的技术方案是:一种用于光学加工抛光的标示装置，包括机架、标示探头笔、驱动标示探头笔三维运动的平移机构、显示系统和控制系统，所述标示探头笔设于所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构上，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构设于所述机架上，所述机架与所述控制系统相连，所述控制系统与所述显示系统相连接。上述技术方案中，所述标示探头笔包括触头、笔杆和安装在笔杆内的墨水胶囊，所述触头与所述墨水胶囊相连接。优选的技术方案，所述触头为聚酯软笔头，在标示时聚酯软笔头与被测工件为软接触，这样既能保证标记位置的准确性又不会划伤工件表面。上述技术方案中，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构包括X轴平移机构、Y轴平移机构和Z轴平移机构。本技术在使用时只需将面形误差分布假彩图上的需要进一步加工和不需要加工的标记点坐标变换成工件坐标系下的标示坐标点，然后由控制系统将标示探头笔移动到工件坐标下的标示点处即可，在工件上标记出需要进一步加工的和不需要加工的区域。由于上述技术方案运用，本技术与现有技术相比具有下列优点:本技术无需检测者的复杂劳动即能在工件上自动完成标示,避免了人为标记的定位误差，简化了标示工作，提高标示的效率和精度，特别适用于高精度光学元件的加工。【专利附图】【附图说明】图1是本技术实施例一的装置示意图；图2是本技术中标示探头示意图；图3是本技术实施例二的装置示意图。其中:1、X轴平移机构；2、Y轴平移机构；3、Ζ轴平移机构；4、标示探头笔；5、笔杆；6、墨水软囊；7、触头；8、控制系统；9、显示系统；10、面形误差分布假彩图；11、机架；12、被测工件。【具体实施方式】下面结合附图及实施例对本技术作进一步描述:实施例一:参见图1、图2所示，一种用于光学加工抛光的标示装置，包括机架11、标示探头笔4、驱动标示探头笔三维运动的平移机构、显示系统9和控制系统8，所述标示探头笔4设于所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构上，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构设于所述机架11上，所述机架11与所述控制系统8相连，所述控制系统8与所述显示系统9相连接。本实施例中，所述标示探头笔4包括触头7、笔杆5和安装在笔杆内的墨水胶囊6，所述触头7与所述墨水胶囊6相连接。本实施例中，所述触头7为聚酯软笔头。本实施例中，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构包括X轴平移机构1、Y轴平移机构2和Z轴平移机构3，标示探头笔4与Z轴平移机构3连接，Z轴平移机构3设置在X轴平移机构I上，X轴平移机构I设置在Y轴平移机构2上。上述装置还有以下连接方式:(1)标示探头笔与Z轴平移机构连接，Z轴平移机构设置在Y轴平移机构上，Y轴平移机构设置在X轴平移机构上；(2)标示探头笔与X轴平移机构连接，X轴平移机构设置在Y轴平移机构上，Y轴平移机构设置在Z轴平移机构上；(3)标示探头笔与X轴平移机构连接，X轴平移机构设置在Z轴平移机构上，Z轴平移机构设置在Y轴平移机构上；(4)标示探头笔与Y轴平移机构连接，Y轴平移机构设置在X轴平移机构上，X轴平移机构设置在Z轴平移机构上；(5)标示探头笔与Y轴平移机构连接，Y轴平移机构设置在Z轴平移机构上，Z轴平移机构设置在X轴平移机构上。本实施例中，所述机架11为立式结构，使用过程中直接将机架本体放在工作平台上对平放在工作平台上的工件进行标示。本装置在进行工作时，只需将显示系统9中的面形误差分布图10上的需要进一步加工和不需要加工的标示点坐标变换成工件坐标系下的标示点坐标，然后由控制系统8通过控制X轴平移机构1、Y轴平移机构2、Ζ轴平移机构3将标示探头笔4移动到工件坐标下的标示点处，即可在工件12上标记处需要进一步加工和不需要加工的区域。实施例二:参见图3所示，一种用于光学加工抛光的标示装置，包括机架11、标示探头笔4、驱动标示探头笔三维运动的平移机构、显示系统9和控制系统8，所述标示探头笔4设于所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构上，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构设于所述机架11上，所述机架11与所述控制系统8相连，所述控制系统8与所述显示系统9相连接。本实施例中，所述标示探头笔4包括触头7、笔杆5和安装在笔杆内的墨水胶囊6，所述触头7与所述墨水胶囊6相连接。本实施例中，所述触头7为聚酯软笔头。本实施例中，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构包括X轴平移机构1、Y轴平移机构2和Z轴平移机构3，标示探头笔4与Z轴平移机构3连接，Z轴平移机构3设置在X轴平移机构I上，X轴平移机构I设置在Y轴平移机构2上。上述装置还有以下连接方式:(1)标示探头笔与Z轴平移机构连接，Z轴平移机构设置在Y轴平移机构上，Y轴平移机构设置在X轴平移机构上；(2)标示探头笔与X轴平移机构连接，X轴平移机构设置在Y轴平移机构上，Y轴平移机构设置在Z轴平移机构上；(3)标示探头笔与X轴本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光学加工抛光的标示装置，其特征在于：包括机架（11）、标示探头笔（4）、驱动标示探头笔三维运动的平移机构、显示系统（9）和控制系统（8），所述标示探头笔（4）设于所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构上，所述驱动标示探头笔三维运动的平移机构设于所述机架（11）上，所述机架（11）与所述控制系统（8）相连，所述控制系统（8）与所述显示系统（9）相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈曦，郭培基，
申请(专利权)人：苏州大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32