一种激光跟踪仪几何角度误差综合修正方法技术

技术编号:10162351 阅读:203 留言:0更新日期:2014-07-01 18:00
本发明专利技术公开了一种激光跟踪仪几何角度误差综合修正方法,该方法主要用于激光跟踪仪测量系统制造与使用过程中的误差补偿和精度提高。激光跟踪仪的结构中含有横轴、竖轴、光轴和跟踪反射转镜等,这些都必须保证严格的几何位置关系。然而在制造、安装、搬用和使用过程中,上述部件之间的严格几何位置关系难以保证,从而影响跟踪仪最终的坐标测量精度。因此需要对上述部件的几何结构误差进行修正。现有的跟踪仪误差修正方法中缺乏对跟踪仪几何结构角度误差的综合修正方法。针对上述情况,本发明专利技术建立一种完善的角度修正方法,对跟踪仪几何角度误差进行综合补偿。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了,该方法主要用于激光跟踪仪测量系统制造与使用过程中的误差补偿和精度提高。激光跟踪仪的结构中含有横轴、竖轴、光轴和跟踪反射转镜等,这些都必须保证严格的几何位置关系。然而在制造、安装、搬用和使用过程中,上述部件之间的严格几何位置关系难以保证,从而影响跟踪仪最终的坐标测量精度。因此需要对上述部件的几何结构误差进行修正。现有的跟踪仪误差修正方法中缺乏对跟踪仪几何结构角度误差的综合修正方法。针对上述情况,本专利技术建立一种完善的角度修正方法,对跟踪仪几何角度误差进行综合补偿。【专利说明】
本专利技术涉及,该方法主要用于激光跟踪仪测量系统制造与使用过程中的误差补偿和提高精度。
技术介绍
激光跟踪仪的结构中含有横轴、竖轴、光轴和跟踪反射转镜等,这些都必须保证严格的几何位置关系。然而在制造、安装、搬用和使用过程中,上述部件之间的严格几何位置关系难以保证,从而影响跟踪仪最终的坐标测量精度。因此需要对上述部件的几何结构误差进行修正。现有的跟踪仪误差修正方法中缺乏对跟踪仪几何结构角度误差的综合修正方法。针对上述情况,本专利技术建立一种完善的角度修正方法,对跟踪仪几何角度误差进行综合补偿。针对以上所述,本专利技术需要解决的技术问题是建立综合误差模型,提供一套综合的角度误差修正方法。
技术实现思路
本专利技术提供了一种几何角度误差综合修正方法,特别是激光跟踪仪对几何角度误差综合修正的方法。具体为,采用空间坐标系转换的方法计算跟踪仪横竖轴垂直度误差及转镜横轴几何误差。并结合矢量运算的方法计算出射光、法线及入射光的空间位置关系,用以建立光轴与竖轴几何误差模型。本专利技术对各几何误差进行综合分析,通过建立几何误差综合模型得到实际光轴的最终几何位置。与以往的专利和现有技术相比较,本专利技术在跟踪仪几何结构误差无法完全消除的情况下,对几何结构角度误差进行综合补偿,提高跟踪仪的空间坐标测量精度,具有实时性好、精度高、易于实现的特点。【专利附图】【附图说明】为了更清楚、准确地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或者现有技术描述中所需要使用的附图做简单地介绍,显而易见,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为跟踪仪几何结构示意图其中,1:激光跟S示仅;2:跟S示反射转镜;3:横轴;4:横轴中心线(即为X轴);5:竖轴;6:竖轴中心线(即为z轴);7:光轴(光线方向)。图2为跟踪仪光轴和竖轴角度误差模型示意图其中,1:入射光线;2,理想出射光线方向;3:实际出射光线方向。图3为跟踪仪横轴和竖轴角度误差模型示意图其中,1:入射光线;2,理想出射光线方向;3:实际出射光线方向。图4为跟踪仪横轴和跟踪反射转镜角度误差模型示意图其中,1:入射光线;2,理想出射光线方向;3:实际出射光线方向。图5为跟踪仪角度误差综合模型示意图其中,1:横轴中心线(即为X轴);2:竖轴中心线(即为z轴);3:y轴(与X轴和z轴垂直相交);4:光轴(光线方向);5:标称出射光线方向;6:实际出射光线方向。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案件进行准确、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,并不是全部的实施例。基于此,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术的保护范围。本专利技术涉及的跟踪仪几何结构角度误差修正方法建立了跟踪仪横轴与竖轴、光轴与竖轴、跟踪反射转镜与横轴之间的角度误差综合模型,利用坐标转换的方法模拟跟踪仪实际角度误差对测量结果的影响,根据跟踪仪码盘角度值计算出跟踪仪实际角度值,从而计算出了实际测量结果,提高了空间坐标测量精度。利用激光跟踪仪跟踪反射转镜与横轴夹角为C,横竖轴不垂直度误差为Θ,光线与竖轴夹角误差为α,且在水平角度为Htl的方位上。设跟踪仪标称水平垂直角度值为(H,V),根据跟踪仪各项几何误差可以求得修正后的水平垂直角度值(H' ,N')。理想坐标系为O-xyz。如图1,2,3,4,5中所示,ζ轴代表竖轴,X轴代表理想横轴位置,y轴`按照右手法则与X轴和ζ轴垂直。本专利技术涉及的主要模型如下:(I)光轴与竖轴夹角误差模型如图2所示,光线与竖轴有偏角α,且在水平角为HO的方位上,则入射光线的矢量可表示为【权利要求】1.,包括 测量得到跟踪反射转镜与横轴夹角为C,横竖轴不垂直度误差为Θ,光线与竖轴夹角误差为α ,且在水平角度为HO的方位上; O-xyz坐标系绕y轴旋转了角度Θ,旋转后坐标系为0-x’ y’ z’,计算横竖轴不垂直度误差Θ ’ ; O-x’y’z’坐标绕z’轴旋转了角度C,则最终坐标系为0-x" y" z",计算横轴与跟踪反射转镜误差c ’ ; 由两次旋转得到实际法线矢量G ; 沿特定角度射入一束光线,使得光线与竖轴有偏角α,且在水平角为HO的方位上,入射光线的矢量可表不为 ; 2.根据权利要求1,在横竖轴、转镜与横轴、光轴与竖轴同时存在偏角的情况下,通过跟踪仪标称水平垂直角度值(H,V)可算出实际水平和俯仰角度修正值(H',r )。【文档编号】G01B11/00GK103884278SQ201410086782【公开日】2014年6月25日 申请日期:2014年3月7日 优先权日:2014年3月7日 【专利技术者】周维虎, 张滋黎, 劳达宝, 袁江, 纪荣祎, 董登峰, 刘鑫, 朱涵, 李万红 申请人:中国科学院光电研究院本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光跟踪仪几何角度误差综合修正方法,包括测量得到跟踪反射转镜与横轴夹角为c,横竖轴不垂直度误差为θ,光线与竖轴夹角误差为α,且在水平角度为H0的方位上;O‑xyz坐标系绕y轴旋转了角度θ,旋转后坐标系为O‑x’y’z’,计算横竖轴不垂直度误差θ’;O‑x’y’z’坐标绕z’轴旋转了角度c,则最终坐标系为O‑x″y″z″,计算横轴与跟踪反射转镜误差c’;由两次旋转得到实际法线矢量沿特定角度射入一束光线,使得光线与竖轴有偏角α,且在水平角为H0的方位上,入射光线的矢量可表示为:则出射光线可表示为:设出射光线的三个分量分别为px,py,pz,px=cosH0sinα‑2knx,py=sinH0sinα‑2kny,pz=cosα‑2knz,则实际水平角度H′和俯仰角度值V′值分别为:H′=a rcc os(px/p x2+p y2)py≥02π-arcc os(px/px2+py2)py≤0V′=a rctan(pz/px2+py2);]]>利用计算获得的水平俯仰角度的修正值,对跟踪仪的部件进行位置调整。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周维虎张滋黎劳达宝袁江纪荣祎董登峰刘鑫朱涵李万红
申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
类型:发明
国别省市:北京;11

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