二次雷达列馈测试台制造技术

二次雷达列馈测试台，包括矢量网络分析仪，测试架，导轨，平板，测试箱体，测试电缆。测试箱体是内凹型且开口向下，测试探头位于内凹部分的正中间且置于测试箱体内，测试探头插座的上部是标准高频插座，置于测试箱体外，测试探头插座的下部置于测试箱体内且与测试探头固定连接。测试箱体底部包括与导轨相配的两个滑动轨道副。平板上设有支架且支架外侧设有定位块，导轨外侧面印制指示刻度，指示刻度的刻度值与所测列馈的振子位置对应，测试箱体外侧面设有定位指针，且定位指针与指示刻度位于同侧。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】二次雷达列馈测试台，包括矢量网络分析仪，测试架，导轨，平板，测试箱体，测试电缆。测试箱体是内凹型且开口向下，测试探头位于内凹部分的正中间且置于测试箱体内，测试探头插座的上部是标准高频插座，置于测试箱体外，测试探头插座的下部置于测试箱体内且与测试探头固定连接。测试箱体底部包括与导轨相配的两个滑动轨道副。平板上设有支架且支架外侧设有定位块，导轨外侧面印制指示刻度，指示刻度的刻度值与所测列馈的振子位置对应，测试箱体外侧面设有定位指针，且定位指针与指示刻度位于同侧。【专利说明】_次雷达列馈测试台
本技术涉及二次雷达天线的测试领域，特别是用于二次雷达列馈的测试台。
技术介绍
二次雷达天线是大垂直口径阵列天线，阵面尺寸约8mX 2m，重达500kg左右，由垂直安装的36根列馈和辅助器件组成，每根列馈需遵循相同的幅度和相位关系，在二次雷达天线装配前，由于每批列馈所用原材料的差异，不同批次列馈的幅度和相位分布及列馈的初始相位会存在一些差异，当差异较大的列馈装配在一起时，会导致天线性能变差，甚至不能满足天线的技术指标要求，通常情况下，我们采用默认每根列馈的性能指标是相同的或在容许的范围内，并没有专用装置对每根列馈进行测试，只有36根列馈装配成天线后，用天线专用测试平台对天线整体进行性能指标的测试，而天线专用测试平台却无法在天线装配前对单根列馈进行测试。二次雷达天线的使用过程中若受到意外撞击或飓风、冰雹、雷电的袭击，会导致天线损坏，而天线的损坏往往是由于列馈的损坏，但现实情况中，我们经常需要将整付天线运回厂家进行测试，从而增加了拆除、运输、安装的风险和费用。
技术实现思路
所要解决的技术问题:针对以上问题本技术提供了二次雷达列馈测试台，在天线装配前，可以对二次雷达列馈的幅度分布、相位分布和列馈的初始相位等技术指标进行测试，剔除不合格的列馈，实现二次雷达列馈的质量控制；在二次雷达天线受损后，现场拆下列馈逐根进行检测，识别损坏的列馈，进而更换，避免了整付天线的拆装和运输，实现二次雷达天线的现场维修。技术方案:为了解决以上问题，本专利技术提供了二次雷达列馈测试台，包括矢量网络分析仪2，测试架4，导轨3，平板5，测试箱体1，测试电缆7 ；所述的矢量网络分析仪2包括信号输入端口 2-1和信号输出端口 2-2 ；所述的测试架4包括两个高度相等的测试架4 ；所述的导轨3包括两根平行的导轨，第一导轨3-1和第二导轨3-2 ；所述的平板5包括至少四个平行的平板，第一平板5-1，第二平板5-2，第三平板5-3，第四平板5-4 ；所述的测试箱体I是内凹型且开口向下，测试探头1-2位于内凹部分的正中间且置于测试箱体内1，测试探头插座1-1的上部是标准高频插座，置于测试箱体I外，测试探头插座1-1的下部置于测试箱体I内且与测试探头1-2固定连接；测试箱体I底部包括与导轨3相配的两个滑动轨道副1-3 ；所述的第一导轨3-1和第二导轨3-2通过第一平板5-1，第二平板5_2，第三平板5-3，第四平板5-4相连；所述的第一平板5-1，第二平板5-2，第三平板5-3，第四平板5_4依次与导轨3的下方固定连接，第二平板5-2和第三平板5-3上分别设有一个支架8且至少有一个支架8外侧设有定位块9，第一平板5-1和第四平板5-4分别与两个测试架4固定连接且位于导轨3的端部；所述的信号输入端口 2-1与测试探头插座1-1通过测试电缆7连接；信号输出端口 2-2与所测列馈的总端口通过测试电缆7连接。所述的第一导轨3-1或第二导轨3-2外侧面印制指示刻度6，指示刻度6的刻度值与所测列馈的振子位置对应。测试箱体I外侧面设有定位指针1-4，且定位指针1-4与指示刻度6位于同侧。定位指针1-4与测试探头1-2竖直方向的对称轴平行且位于同一平面，该平面与测试箱体的内凹面平行。测试箱体I中填充吸波材料。有益效果:1.在天线装配前，可以对二次雷达列馈的技术指标进行测试，通过测试所测列馈中每个振子的最大幅度和相位特性，就可测得列馈中各个振子分布方向的幅度和相位特性，获得列馈的幅度和相位折线分布图及列馈的初始相位，从而剔除不合格的列馈，实现二次雷达列馈的质量控制。2.在二次雷达天线受损后，现场拆下列馈逐根进行检测，识别损坏的列馈，进而更换，避免了整付天线的拆装和运输，实现二次雷达天线的现场维修。3.测试箱体中填充吸波材料，一方面可以减小周围环境对测试结果的影响，另一方面减小测试信号对测试人员的辐射危害。4.支架能够固定被测列馈，使列馈保持稳定的直立状态。5.定位块保证被测列馈与测试台之间固定的位置关系。6.在测试时，为准确定位测试探头的位置，在测试箱体外侧面设置了与测试探头平行且位于同一平面的定位指针，在导轨外侧面设置了指示刻度，指示刻度的刻度值与所测列馈的振子位置相对应，当定位指针与指示刻度对齐，测试探头就与列馈内的振子对齐，则所测试的就是该刻度值所对应振子的幅度和相位特性。【专利附图】【附图说明】图1是二次雷达列馈测试台总体结构示意图。图2是二次雷达列馈测试台俯视结构示意图。图3是二次雷达列馈测试台测试箱体结构示意图。图4是定位块的局部放大图。图5是支架的局部放大图。【具体实施方式】下面结合说明书附图对本专利技术作进一步的描述。实施例如图1至图5所示，二次雷达列馈测试台，包括矢量网络分析仪，测试架，导轨，平板,测试箱体,测试电缆；所述的矢量网络分析仪包括信号输入端口和信号输出端口 ；所述的测试架包括两个高度相等的测试架；所述的导轨包括两根平行的导轨，第一导轨和第二导轨；所述的平板包括至少四个平行的平板，第一平板，第二平板，第三平板，第四平板；所述的测试箱体是内凹型且开口向下，测试探头位于内凹部分的正中间且置于测试箱体内，测试探头插座的上部是标准高频插座，置于测试箱体外，测试探头插座的下部置于测试箱体内且与测试探头固定连接；测试箱体底部包括与导轨相配的两个滑动轨道副；所述的第一导轨和第二导轨通过第一平板，第二平板，第三平板，第四平板相连；所述的第一平板，第二平板，第三平板，第四平板依次与导轨的下方固定连接，第二平板和第三平板上分别设有一个支架且至少有一个支架外侧设有定位块，第一平板和第四平板分别与两个测试架固定连接且位于导轨的端部；所述的信号输入端口与测试探头插座通过测试电缆连接；信号输出端口与所测列馈的总端口通过测试电缆连接。所述的第一导轨或第二导轨外侧面印制指示刻度，指示刻度的刻度值与所测列馈的振子位置对应。测试箱体外侧面设有定位指针，且定位指针与指示刻度位于同侧。定位指针与测试探头竖直方向的对称轴平行且位于同一平面，该平面与测试箱体的内凹面平行。测试箱体中填充吸波材料。将矢量网络分析仪的信号输出端口与列馈的总端口连接，注入测试信号，将矢量网络分析仪的信号输入端口与测试探头插座连接，接收列馈发射出的信号，将测试探头沿列馈的振子排列方向移动，就可测出列馈沿振子排列方向输出信号的幅度、相位分布。当定位指针指向刻度值5时，测试箱体内的测试探头就与列馈的振子5对齐，所测的就是振子5的最大幅度和相位特性。根据矢量网络分析仪的特性，通过移动测试探头的位置，测试时在每个振子位置测得I个幅度和相位值，就可测得列馈中各个振子分布方向的幅度和相位特性，若所测列馈本文档来自技高网...

【技术保护点】
二次雷达列馈测试台，包括矢量网络分析仪（2），所述的矢量网络分析仪（2）包括信号输入端口（2‑1）和信号输出端口（2‑2），其特征在于，还包括：测试架（4），导轨（3），平板（5），测试箱体（1），测试电缆（7）；所述的测试架（4）包括两个高度相等的测试架（4）；所述的导轨（3）包括两根平行的导轨，第一导轨（3‑1）和第二导轨（3‑2）所述的平板（5）包括至少四个平行的平板，第一平板（5‑1），第二平板（5‑2），第三平板（5‑3），第四平板（5‑4）；所述的测试箱体（1）是内凹型且开口向下，测试探头（1‑2）位于内凹部分的正中间且置于测试箱体内（1），测试探头插座（1‑1）的上部是标准高频插座，置于测试箱体（1）外，测试探头插座（1‑1）的下部置于测试箱体（1）内且与测试探头（1‑2）固定连接；测试箱体（1）底部包括与导轨（3）相配的两个滑动轨道副（1‑3）；所述的第一导轨（3‑1）和第二导轨（3‑2）通过第一平板（5‑1），第二平板（5‑2），第三平板（5‑3），第四平板（5‑4）相连；所述的第一平板（5‑1），第二平板（5‑2），第三平板（5‑3），第四平板（5‑4）依次与导轨（3）的下方固定连接，第二平板（5‑2）和第三平板（5‑3）上分别设有一个支架（8）且至少有一个支架（8）外侧设有定位块（9），第一平板（5‑1）和第四平板（5‑4）分别与两个测试架（4）固定连接且位于导轨（3）的端部； 所述的信号输入端口（2‑1）与测试探头插座（1‑1）通过测试电缆（7）连接；信号输出端口（2‑2）与所测列馈的总端口通过测试电缆（7）连接；所述的第一导轨（3‑1）或第二导轨（3‑2）外侧面印制指示刻度（6），指示刻度（6）的刻度值与所测列馈的振子位置对应；测试箱体（1）外侧面设有定位指针（1‑4），且定位指针（1‑4）与指示刻度（6）位于同侧；定位指针（1‑4）与测试探头（1‑2）竖直方向的对称轴平行且位于同一平面，该平面与测试箱体的内凹面平行。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张虹，张晓燕，
申请(专利权)人：南京恩瑞特实业有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32