键盘测试系统及方法技术方案

一种键盘测试系统及键盘测试方法，用以对一待测键盘进行测试。所述键盘测试系统包括一测试主机以及一键盘按压装置。其中测试主机用以产生一测试命令，并且接收待测键盘一待测按键被按压时所产生的一按压信号。键盘按压装置电性连接测试主机，键盘按压装置可根据测试命令按压待测按键产生按压信号。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种键盘测试系统及键盘测试方法，用以对一待测键盘进行测试。所述键盘测试系统包括一测试主机以及一键盘按压装置。其中测试主机用以产生一测试命令，并且接收待测键盘一待测按键被按压时所产生的一按压信号。键盘按压装置电性连接测试主机，键盘按压装置可根据测试命令按压待测按键产生按压信号。【专利说明】
本专利技术是有关于一种测试系统及其操作方法，且特别是关于一种键盘测试系统及其操作方法。
技术介绍
键盘广泛使用于各种电子设备中，以作为电子设备的控制命令或数据输入的外围设备。因此，键盘的质量优劣及其功能是否可正常操作，将直接影响所述电子设备的操作稳定性。传统上，以人工方式来对键盘按键进行测试，即以人工方式逐一按压键盘中的每一个按键，由测试程序来进行测试，并由人工判断测试程序回传的结果。不但费时费工，且以人工逐一按压按键的测试方式，由于按压的力道大小不一，或因按键键帽表面按压受力不均，极易造成测试程序误判，甚至需进行重测。再者，通过人工按压键盘的测试方式，亦可能因测试者施力不当，造成键盘毁损，严重影响键盘产品的质量管理。
技术实现思路
因此，本专利技术的一目的即在于提供一种键盘测试系统及其操作方法，以提升键盘测试质量。本专利技术的一方面是提供一种键盘测试系统，用以对一待测键盘进行测试。此键盘测试系统包括:一测试主机以及一键盘按压装置。其中测试主机设置有具有若干待测按键的一待测键盘。键盘按压装置电性连接测试主机，键盘按压装置包括一控制单元以及一按压单元。按压单元上设置有与所述待测按键同时运行一匹配的若干按钮。测试主机产生一测试命令，控制单元接收到所述测试命令后会控制按压单元，由按压单元根据所述测试命令按压所述按钮，进而测试与所述按钮匹配的待测键盘上的待测按键，并产生一按压信号传送回所述测试主机。依据本专利技术一实施例，测试主机还具有一判断功能模块以及一测试功能模块。判断功能模块，用以判断待测按键否被正常按压。测试功能模块内建有待测键盘的一按键测试顺序以及一按键参数。测试命令至少包括按键测试顺序。测试功能模块可控制键盘按压装置根据所述按键测试顺序依序按压按压单元的所述按钮进而测试匹配的待测按键来产生按压信号。在判断功能模块判断与所述按钮匹配的待测按键被正常按压后，测试功能模块还比对按压信号与按键参数来判断与所述按钮匹配的待测按键的输出是否为预期的输出。依据本专利技术一实施例，键盘按压装置还包括一提醒装置，根据待测键盘的测试结果，发出对应的信号。本专利技术的另一方面是提供一种键盘测试方法，用以对一待测键盘进行测试。此方法包括，首先一测试主机连接至一键盘按压装置，其中，测试主机包括设置有若干待测按键的一待测键盘，而键盘按压装置包括一控制单元、一按压单元，按压单元包括与所述待测按键同时运行一一匹配的若干按钮。接着，由测试主机上产生一测试命令发送至键盘按压装置。当键盘按压装置的控制单元接收到测试命令，会根据所述测试命令自动按压按压单元的所述按钮，进而测试与按钮匹配的待测键盘上的待测按键。接着，判断与所述按钮匹配的所述待测按键否被正常按压。当待测按键被正常按压时，判断所述待测按键的输出是否为预期的输出。当待测按键的输出为预期输出时，接着，判断是否所有的待测按键均完成测试。若所有的待测按键均完成测试，则发出一测试结果。依据本专利技术一实施例，本方法还包括当待测按键被不正常按压时，重新产生一测试命令。依据本专利技术一实施例，本方法还包括当所述待测按键的输出非预期输出时，发出一测试不合格结果，以及当所有的待测按键均完成测试，且所述待测按键的输出为预期输出时，发出一测试合格结果。综合上述所言，本专利技术的键盘测试系统与方法可自动进行待测按键盘的按压与检测，因此可大幅降低传统人工检测的耗时耗工的情形，以及人工检测可能的人为误判。【专利附图】【附图说明】为让本专利技术的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下:图1所示为根据本专利技术一实施例的键盘测试系统概略图。图2所示为根据本专利技术一实施例利用键盘测试系统对一待测键盘进行测试的流程图。【主要组件符号说明】100键盘测试系统101测试主机102键盘按压装置103待测键盘1011微处理器1012测试功能模块1013判断功能模块1021控制单元1022按压单元1023提醒装置200测试流程201~214 步骤【具体实施方式】以下为本专利技术较佳具体实施例以所附附图加以详细说明，下列说明及附图使用相同的参考数字以表示相同或类似组件，并且在重复描述相同或类似组件时则予省略。图1所示为根据本专利技术一实施例的键盘测试系统概略图。键盘测试系统100包括:一测试主机101以及一键盘按压装置102。其中，当进行键盘测试时，测试主机101会电性连接键盘按压装置102，以传输对应的测试指令给键盘按压装置102来对一待测键盘103上的待测按键进行测试。在一实施例，例如通过通用序列总线(Universal Serial Bus, USB)将测试主机101与键盘按压装置102电性连接一起。测试主机101具有一微处理器1011。微处理器1011具有至少两功能模块，测试功能模块1012以及判断功能模块1013。其中，测试功能模块1012，内建有一待测键盘103的待测按键测试顺序以及按键参数。当微处理器1011执行此测试功能模块1012时，测试功能模块1012即会根据内建的待测按键测试顺序控制键盘按压装置102，据以依此待测按键测试顺序依序按压待测键盘103上的待测按键来进行测试，同时将按压待测按键后产生的按压信号与内建的按键参数比对判断按压的待测按键是否正常。而判断功能模块1013，用以判断待测键盘103上被按压的待测按键是否被正常按压。因为，不正常的按压会导致测试功能模块1012误判，因此，本专利技术在进行按键参数比对前会先由微处理器1011执行判断功能模块1013判断待测按键是否被正常按压，避免误判的情况发生。换言之，当判断功能模块1013判断一按键是被正常按压后，再由测试功能模块1012根据内建的按键参数判断此按键其按压后的对应输出是否为预期的按键输出。此外，由于排列在键盘上的按键可包括数字按键、功能按键以及特殊符号按键等，一使用者可通过调整测试功能模块1012内建的按键测试顺序，来针对特定的按键进行测试，例如，只针对功能按键进行测试。键盘按压装置102，具有一控制单元1021、一按压单元1022以及一提醒装置1023。按压单元1022具有与待测按键同时运行一一匹配的若干按钮。控制单元1021用以根据测试功能模块1012执行时发出的待测按键测试顺序，控制按压单元1022根据此测试顺序依序按压按钮，进而测试与所述按钮匹配的待测键盘103上的待测按键。按压单元亦会回传待测按键按压后产生的按压信号给测试主机101，让判断功能模块1013以及测试功能模块1012进行与所述按钮匹配的待测按键状态判断。提醒装置1023则是根据测试主机101的判断结果，发出对应的信号提醒工程人员测试结果。在一实施例中，按压单元1022，例如为一具有动作杆的电磁伸缩模块，通过电磁的驱动力使动作杆作伸缩运动，来接触待测键盘103按键或不接触待测键盘103按键的方式，按压待测键盘103。而控制单元1021，例如可为一8051系列的单芯片，利用矩阵控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘测试系统，用以对一待测键盘进行测试，包括：一测试主机，包括：设置有若干待测按键的一待测键盘；以及一键盘按压装置，电性连接所述测试主机，所述键盘按压装置还包括：一控制单元；以及一按压单元，所述按压单元包括与所述待测按键同时运行一一匹配的若干按钮；其中，所述测试主机用以产生一测试命令，所述控制单元接收所述测试命令控制所述按压单元，所述按压单元根据所述测试命令按压所述按钮，进而测试与所述按钮匹配的待测键盘上的待测按键，并产生一按压信号传送回所述测试主机。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘诗祺，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31