【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种测试激光倍频晶体性质的装置，该装置包括依次设置的激光光源、入射激光光路、载物台、二次谐波激光光路、针孔、入射光滤色片和光电倍增管。测试时，利用激光倍频晶体具有对入射激光进行倍频的性质，采用激光对激光倍频晶体进行照射，产生入射激光的二次谐波，用光电倍增管对出射的二次谐波进行接收，得到二次谐波的光强度，用该装置对激光倍频晶体不同区域进行照射，得到不同区域的二次谐波强度，通过分析不同区域产生二次谐波的强度，可对激光倍频晶体的结构和性质进行判断，无须对晶体进行破坏，就能分析出其内部结构，实现了对激光倍频晶体质量的无损探测。【专利说明】一种测试激光倍频晶体性质的装置
本技术涉及晶体性质测试装置
，特别涉及一种测试激光倍频晶体性质的装置。
技术介绍
激光共焦扫描显微镜能对被测试物体进行三维扫描成像，在生物组织内部结构的微观探测上有重要应用。目前常见的激光共焦扫描显微镜大都是利用被测试物体的荧光效应进行测试，被测物体大多是非晶态或者是多晶态。近年来，关于倍频晶体的研究工作取得了重大进展。对于具有激光倍频效应的单晶态物体，目前缺少对其性质的测试装置和方法。目前对激光倍频晶体的微观结构和微观缺陷进行无损探测非常困难，用常规的元素分析和结构测定方法观测激光倍频晶体不仅具有破坏性，而且很难将微观结构和缺陷测定。
技术实现思路
鉴于上述问题，本技术的目的是提供一种测试激光倍频晶体性质的装置，其可以对激光倍频晶体的微观结构和微观缺陷进行无损探测。为实现上述目的，本技术采取以下技术方案:一种测试激光倍频晶体性质的装置，它包括依次设置的激光光源、入射激光光路、...
【技术保护点】
一种测试激光倍频晶体性质的装置，其特征在于：它包括依次设置的激光光源、入射激光光路、载物台、二次谐波激光光路、针孔、入射光滤色片和光电倍增管；该入射激光光路包括平行放置的第一凸透镜和第二凸透镜；该二次谐波激光光路包括平行放置的第三凸透镜和第四凸透镜；该激光光源位于该第一凸透镜的外侧焦点处；该针孔位于该第四凸透镜的外侧焦点处；用于放置待测激光倍频晶体的载物台位于该第二凸透镜及该第三凸透镜的焦点重合处。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘春雷，雷同光，金攀，王瑞臣，郝建磊，
申请(专利权)人：有研光电新材料有限责任公司，
类型：实用新型
国别省市：
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