一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置，包括第一接管嘴（1）、下罩（2）、上罩（3）、第四接管嘴（4）、连通管（5）、转接接头（6）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）；膜盒组件（7）固定在下罩（2）上端面，上罩（3）罩住膜盒组件（7）并与下罩（2）密封连接，第一接管嘴（1）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）安装在下罩（2）的下端面，第一接管嘴（1）与安装在下罩（2）上端面的第四接管嘴（4）连通，连通管（5）一端连接第四接管嘴（4），另一端通过转接接头（6）与膜盒组件（7）外壳体上的接管嘴相连；第二接管嘴（8）与膜盒组件（7）内腔连通，第三接管嘴（9）与上罩（3）与膜盒组件（7）之间的腔体连通。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置，包括第一接管嘴（1）、下罩（2）、上罩（3）、第四接管嘴（4）、连通管（5）、转接接头（6）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）；膜盒组件（7）固定在下罩（2）上端面，上罩（3）罩住膜盒组件（7）并与下罩（2）密封连接，第一接管嘴（1）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）安装在下罩（2）的下端面，第一接管嘴（1）与安装在下罩（2）上端面的第四接管嘴（4）连通，连通管（5）一端连接第四接管嘴（4），另一端通过转接接头（6）与膜盒组件（7）外壳体上的接管嘴相连；第二接管嘴（8）与膜盒组件（7）内腔连通，第三接管嘴（9）与上罩（3）与膜盒组件（7）之间的腔体连通。【专利说明】一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置
本技术属于一种运载火箭地面模拟试验装置，具体涉及一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置。
技术介绍
芯一级低温蓄压器用于抑制火箭结构和火箭发动机及管路系统之间的振动耦合引起的整个火箭的纵向振动，即POGO振动，安装于芯一级发动机氧化剂泵口启动活门前。低温膜盒组件组件为低温蓄压器关键部件，在研制过程中为了检查膜盒组件各条焊缝焊接性能是否满足要求，在运载火箭地面模拟试验过程中需要对膜盒组件进行氦质谱检漏。
技术实现思路
本技术的技术解决问题是:克服现有技术的不足，提供一种膜盒组件氦质谱检漏试验装置，可在膜盒组件同时内外压下对膜盒进行氦质谱检漏，可检查膜盒组件外壳体焊缝及膜盒膜片间焊缝漏率，精度较高。本技术的技术解决方案是:一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置，包括第一接管嘴、下罩、上罩、第四接管嘴、连通管、转接接头、第二接管嘴和第三接管嘴；膜盒组件固定在下罩上端面，上罩罩住膜盒组件并与下罩密封连接，第一接管嘴、第二接管嘴和第三接管嘴安装在下罩的下端面，第一接管嘴与安装在下罩上端面的第四接管嘴连通，连通管一端连接第四接管嘴，另一端通过转接接头与膜盒组件外壳体上的接管嘴相连；第二接管嘴与膜盒组件内腔连通，第三接管嘴与上罩与膜盒组件之间的腔体连通。所述的膜盒组件与下罩之间通过O型圈密封本技术与现有技术相比有益效果为:膜盒氦质谱检漏试验装置解决了膜盒组件内外充压下膜盒焊缝的漏率检测问题，避免了环境本底对漏率检测结果的影响，可以得到比较精确的焊缝漏率，具有良好的可靠性。【专利附图】【附图说明】图1为本技术示意图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术做具体说明。本技术试验对象为运载火箭用膜盒组件，膜盒组件内腔体如图1所示，记为A腔，膜盒外与膜盒组件外壳体之间的腔体记为B腔，膜盒组件外壳体上焊接有接管嘴，本装置只需要利用其中一个，所以将剩余接管嘴利用堵帽堵上。本技术试验装置包括第一接管嘴1、下罩2、上罩3、第四接管嘴4、连通管5、转接接头6、第二接管嘴8和第三接管嘴9 ；膜盒组件通过螺钉与下罩2连接，由O型圈密封；上罩3罩住膜盒组件(之间的腔体记为C腔)并与下罩2连接，并通过O型圈密封，第一接管嘴1、第二接管嘴8和第三接管嘴9安装在下罩2的下端面，第一接管嘴I与安装在下罩2上端面的第四接管嘴4连通，连通管5 —端连接第四接管嘴4，另一端通过转接接头6与膜盒组件7外壳体上的接管嘴相连；第二接管嘴8与膜盒组件内腔连通，第三接管嘴9与上罩3与膜盒组件之间的腔体连通。试验时，由第一接管嘴I向B腔充入高纯氦气并置换，并按要求充入规定压力氦气，由第二接管嘴8连接氦质谱检漏仪对A腔进行抽真空氦质谱检漏，可检查膜盒膜片间焊缝I漏率情况；由第二接管嘴8向A腔内充入高纯氦气并置换，并充入规定压力氦气，由第一接管嘴I向B腔充入高纯氦气并置换，并充入规定压力氦气；由第三接管嘴9连接氦质谱检漏仪对C腔进行抽真空氦质谱检漏，可检查膜盒组件外壳体焊缝I1、111漏率情况。本技术未详细说明部分属于本领域技术人员公知常识。【权利要求】1.一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置，其特征在于:包括第一接管嘴(I)、下罩(2)、上罩(3)、第四接管嘴(4)、连通管(5)、转接接头(6)、第二接管嘴(8)和第三接管嘴(9)； 膜盒组件(7)固定在下罩(2)上端面，上罩(3)罩住膜盒组件(7)并与下罩(2)密封连接，第一接管嘴(I)、第二接管嘴(8)和第三接管嘴(9)安装在下罩(2)的下端面，第一接管嘴(I)与安装在下罩(2)上端面的第四接管嘴(4)连通，连通管(5) —端连接第四接管嘴(4)，另一端通过转接接头(6)与膜盒组件(7)外壳体上的接管嘴相连；第二接管嘴(8)与膜盒组件(7)内腔连通，第三接管嘴(9)与上罩(3)与膜盒组件(7)之间的腔体连通。2.根据权利要求1所述的一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置，其特征在于:所述的膜盒组件(7)与下罩(2)之间通过O型圈密封。【文档编号】G01M3/20GK203616068SQ201320699747【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年11月6日 优先权日:2013年11月6日 【专利技术者】张连万, 梁景媛, 耿屹, 岳婷, 赵涛, 周炎, 程翔, 王道连 申请人:北京宇航系统工程研究所, 中国运载火箭技术研究院本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种运载火箭用膜盒组件氦质谱检漏试验装置，其特征在于：包括第一接管嘴（1）、下罩（2）、上罩（3）、第四接管嘴（4）、连通管（5）、转接接头（6）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）；膜盒组件（7）固定在下罩（2）上端面，上罩（3）罩住膜盒组件（7）并与下罩（2）密封连接，第一接管嘴（1）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）安装在下罩（2）的下端面，第一接管嘴（1）与安装在下罩（2）上端面的第四接管嘴（4）连通，连通管（5）一端连接第四接管嘴（4），另一端通过转接接头（6）与膜盒组件（7）外壳体上的接管嘴相连；第二接管嘴（8）与膜盒组件（7）内腔连通，第三接管嘴（9）与上罩（3）与膜盒组件（7）之间的腔体连通。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张连万，梁景媛，耿屹，岳婷，赵涛，周炎，程翔，王道连，
申请(专利权)人：北京宇航系统工程研究所，中国运载火箭技术研究院，
类型：实用新型
国别省市：
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