绝缘状态检测系统、绝缘状态检测方法及萤光显微镜系统技术方案

本发明专利技术为一种绝缘状态检测系统、绝缘状态检测方法及萤光显微镜系统。该绝缘状态检测系统用以检测待测装置内部的第一绝缘层及第二绝缘层的绝缘状态。绝缘状态检测系统包括控制模块及检测回路。控制模块具有电压输出端及电压检测端。检测回路电性连接于电压输出端、电压检测端及待测装置，控制模块由电压输出端输出测试电压讯号以经由检测回路传输至待测装置，并自电压检测端接收回传电压讯号；其中控制模块判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；若是，则控制模块判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术为一种绝缘状态检测系统、绝缘状态检测方法及萤光显微镜系统。该绝缘状态检测系统用以检测待测装置内部的第一绝缘层及第二绝缘层的绝缘状态。绝缘状态检测系统包括控制模块及检测回路。控制模块具有电压输出端及电压检测端。检测回路电性连接于电压输出端、电压检测端及待测装置，控制模块由电压输出端输出测试电压讯号以经由检测回路传输至待测装置，并自电压检测端接收回传电压讯号；其中控制模块判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；若是，则控制模块判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。【专利说明】绝缘状态检测系统、绝缘状态检测方法及萤光显微镜系统
本专利技术涉及一种绝缘状态检测系统、绝缘状态检测的方法及其萤光显微镜系统，特别是涉及一种仅利用内部电路即可达到检测绝缘状态的绝缘状态检测系统、绝缘状态检测的方法及其萤光显微镜系统。
技术介绍
随着科技的进步，现今已经发展出一种萤光显微镜系统中，其利用高功率及高亮度的发光二极管来做为萤光光源，以便能更清楚地观察到待测物质。但若使用高功率的发光二极管元件必定会产生高温。例如以LUMINUS DEVICE?公司生产的编号CBT-90-G绿光发光二极管元件为例，其功率消耗约为75瓦，所以发光二极管元件运作时会产生高温，必需搭配散热模块才能将其温度降到产品许可的操作温度，以避免发光二极管元件损坏。且因为发光二极管元件本体是接电源的正极，而非负极，加上散热模块都是具有导电性的元件，如铜片、铝等导电金属，所以当发光二极管元件和散热模块结合时，需要加上绝缘层来隔绝，例如利用聚脂薄膜制成的绝缘片。在现有技术中利用绝缘层让发光二极管元件正极和散热模块上的铜片绝缘，再利用另一绝缘层将散热模块与基座绝缘，以达到绝缘的效果O但在现有技术中，当绝缘层失效时，会伴随系统电源短路或漏电的问题，让整个电子电路系统失效。如果能事先检测出绝缘片的失效，就能预先关闭发光二极管元件电源防止短路及漏电，并送出异常讯息以告知使用者。在现有技术中为了防止绝缘层失效的问题，一般是事先利用简单的数字三用电表来进行测量。但萤光显微镜系统等机电系统中多为是为封闭系统，且空间上多无法放置数字三用电表，而必须要拆除整个结构才能进行测量，对检测人员来说会造成极大的不便。因此，有必要专利技术一种新的绝缘状态检测系统、绝缘状态检测的方法及其萤光显微镜系统，以解决现有技术的缺失。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种绝缘状态检测系统，其具有仅利用内部电路即可达到检测绝缘状态的效果。本专利技术的另一主要目的是提供一种用于上述绝缘状态检测系统的绝缘状态检测的方法。本专利技术的又一主要目的是提供一种具有上述绝缘状态检测系统的其萤光显微镜系统。为实现上述的目的，本专利技术的绝缘状态检测系统用以检测待测装置内部的绝缘状态。待测装置包括发光二极管元件、散热模块及金属基座。发光二极管元件及散热模块之间具有第一绝缘层，散热模块及金属基座之间具有第二绝缘层。绝缘状态检测系统包括控制模块及检测回路。控制模块具有电压输出端及电压检测端。检测回路电性连接于电压输出端、电压检测端及散热模块，控制模块由电压输出端输出测试电压讯号以经由检测回路传输至散热模块，并自电压检测端接收回传电压讯号；其中控制模块判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；若是，则控制模块判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。本专利技术的绝缘状态检测的方法包括以下步骤:自电压输出端以经由检测回路传输测试电压讯号至散热模块；自散热模块接收回传电压讯号；判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；以及若是，则判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。本专利技术的萤光显微镜系统，包括萤光发光装置及绝缘状态检测系统。萤光发光装置包括发光二极管元件、散热模块、金属基座、第一绝缘层及第二绝缘层。发光二极管元件用以发出萤光光源讯号。散热模块用以让发光二极管元件散热。金属基座用以支撑散热模块。第一绝缘层设置于发光二极管元件及散热模块之间。第二绝缘层设置于散热模块及金属基座之间。绝缘状态检测系统电性连接于萤光发光装置。绝缘状态检测系统包括控制模块及检测回路。控制模块具有电压输出端及电压检测端。检测回路电性连接于电压输出端、电压检测端及散热模块，控制模块由电压输出端输出测试电压讯号以经由检测回路传输至散热模块，并自电压检测端接收回传电压讯号；其中控制模块判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；若是，则控制模块判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术的萤光显微镜系统及其具有的绝缘状态检测系统的架构图。图2A-2B是本专利技术的绝缘状态检测的方法的步骤流程图。附图符号说明萤光显微镜系统I绝缘状态检测系统10控制模块11电压输出端111电压检测端112电源控制端113检测回路12萤光发光装置20发光二极管元件21散热模块22金属基座23第一绝缘层24第二绝缘层25电源供应模块30测试电压讯号SI回传电压讯号S2电源控制讯号S3电源讯号P【具体实施方式】为使本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出本专利技术的具体实施例，并结合附图详细说明如下。请先参考图1，图1是本专利技术的萤光显微镜系统及其具有的绝缘状态检测系统的架构图。本专利技术的绝缘状态检测系统10用于检测一待测装置的绝缘状态，以保护待测装置内部的负载元件，避免有漏电或是短路的情形发生。在本专利技术的一实施例中，此待测装置为萤光显微镜系统I内的萤光发光装置20，而负载元件则为发光二极管元件21。因此以下的实施方式是以绝缘状态检测系统10用于萤光显微镜系统I内为例来进行说明，但本专利技术的绝缘状态检测系统10并不限定仅能用于萤光显微镜系统I内。萤光显微镜系统I用以发出萤光以照射要观察的物体(图未示)，由于萤光显微镜系统I用于观察物体的方式并非本专利技术所要改进的重点所在，故在此不再赘述。本专利技术的萤光显微镜系统I可包括绝缘状态检测系统10、萤光发光装置20及电源供应模块30。萤光发光装置20包括发光二极管元件21、散热模块22、金属基座23、第一绝缘层24与第二绝缘层25。发光二极管元件21用以发出萤光光源讯号，以供照射要观察的物体。散热模块22为散热片或风扇等设备，并可由铜片或其他导热良好的材质所制成，得以让发光二极管元件21可以散热。金属基座23则用以支撑发光二极管元件21及散热模块22，并且金属基座23可以做为接地之用。而由于散热模块22及金属基座23皆为金属材质，因此为了避免发光二极管元件21运作时受到散热模块22及金属基座23的影响，萤光发光装置20将第一绝缘层24设置于发光二极管元件21与散热模块22之间，第二绝缘层25则设置于散热模块22与金属基座23之间。第一绝缘层24及第二绝缘层25皆可由聚酯薄膜所制成，但本专利技术并不限于此。因此在正常状况下，第一绝缘层24及第二绝缘层25的绝缘特性可以保护发光二极管元件21，而不会有漏电或是短路的情形发生。绝缘状态检测系统10则用以检测第一绝缘层24及第二绝缘层25是否能正常绝缘。绝缘状态检测系统10包括控制模块11与检测回路12。控制模块11可为一微控制单元，以用于萤光显微镜系统I内，来控制萤光发光装置20的操作，但本专利技术并不限于此。控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种绝缘状态检测系统，用以检测一待测装置内部的绝缘状态，该待测装置包括一发光二极管元件、一散热模块及一金属基座，该发光二极管元件及该散热模块之间具有一第一绝缘层，该散热模块及该金属基座之间具有一第二绝缘层；该绝缘状态检测系统包括：一控制模块，具有一电压输出端及一电压检测端；以及一检测回路，电性连接于该电压输出端、该电压检测端及该散热模块，该控制模块由该电压输出端输出一测试电压讯号以经由该检测回路传输至该散热模块，并自该电压检测端接收一回传电压讯号；其中该控制模块判断该回传电压讯号的电压值是否与该测试电压讯号的电压值相同；若是，则该控制模块判断该第一绝缘层及该第二绝缘层的状态正常。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李义政，施文晖，龚智诠，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：台湾;71