用于承载待测试电子装置的治具制造方法及图纸

技术编号:10071900 阅读:144 留言:0更新日期:2014-05-23 17:27
本发明专利技术提供一种用于承载待测试电子装置的治具,包括托盘,该托盘设置有收容腔,收容腔用于容纳该待测试电子装置,还包括一插头组件、一导电接触组件和盖板;托盘的末端设置有一容置腔;该插头组件滑动地连接于该托盘,该插头组件包括一插头,该插头用于与该待测试电子装置的一插槽相适配;导电接触组件位于该容置腔中,该导电接触组件包括多个导电片,每个导电片与该插头的一导电端子相连接;该盖板与该容置腔的底部相对,该盖板及该容置腔的底部均设置有与所述多个导电片对应的通孔,从而允许一测试装置的探针穿过盖板的通孔或者该容置腔的底部的通孔而与所述多个导电片相接触。使用本发明专利技术的治具能降低电子装置被划伤的几率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种用于承载待测试电子装置的治具,包括托盘,该托盘设置有收容腔,收容腔用于容纳该待测试电子装置,还包括一插头组件、一导电接触组件和盖板;托盘的末端设置有一容置腔;该插头组件滑动地连接于该托盘,该插头组件包括一插头,该插头用于与该待测试电子装置的一插槽相适配;导电接触组件位于该容置腔中,该导电接触组件包括多个导电片,每个导电片与该插头的一导电端子相连接;该盖板与该容置腔的底部相对,该盖板及该容置腔的底部均设置有与所述多个导电片对应的通孔,从而允许一测试装置的探针穿过盖板的通孔或者该容置腔的底部的通孔而与所述多个导电片相接触。使用本专利技术的治具能降低电子装置被划伤的几率。【专利说明】用于承载待测试电子装置的治具
本专利技术涉及一种承载待测试电子装置的治具。
技术介绍
许多电子装置,例如手机、平板电脑、笔记本电脑,在生产过程中需要进行多道工序的测试,因此,需要针对不同的测试设置相应的用以承载电子装置的治具。例如,在电子装置组装完成后,需要将电子装置电连接到一测试装置,该测试装置向该电子装置发送测试信号以测试电子装置的软件和硬件。对于一些特殊的电子装置,还需要对该电子装置以不同的位姿进行测试,例如,将电子装置正面朝上放置在治具中进行测试以及将电子装置正面朝下放置在治具中进行测试,由于需要两次装夹,增加了电子装置的外观被划伤的几率。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供一种承载待测试电子装置的治具,在需要以正面位姿和反面位姿测试电子装置时,本专利技术的治具仅需要装夹一次。一种用于承载待测试电子装置的治具,包括托盘,该托盘设置有收容腔,该收容腔用于容纳该待测试电子装置,还包括一插头组件、一导电接触组件和盖板;该托盘的末端设置有一容置腔;该插头组件滑动地连接于该托盘,该插头组件包括一插头,该插头用于与该待测试电子装置的一插槽相适配;该导电接触组件位于该容置腔中,该导电接触组件包括多个导电片,每个导电片与该插头的一导电端子相连接;该盖板与该容置腔的底部相对,该盖板及该容置腔的底部均设置有与所述多个导电片对应的通孔,从而允许一测试装置的探针穿过盖板的通孔或者该容置腔的底部的通孔而与所述多个导电片相接触,从而将该待测试电子装置电连接到该测试装置,使得该待测试电子装置能够接收到测试装置的测试信号。使用本专利技术的治具,在需要以正面位姿和反面位姿测试电子装置时,本专利技术的治具仅需要装夹一次,降低了电子装置的外观被划伤的几率。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术的治具承载待测试电子装置的立体图。图2为本专利技术的治具的立体图,其示意出一夹持件由图1所示的锁紧位置移动至一解锁位置。图3为本专利技术的治具的分解图。图4为本专利技术的治具的插头组件和导电接触组件的分解图。图5为本专利技术的治具的插头组件和导电接触组件的另一角度的分解图。主要元件符号说明【权利要求】1.一种用于承载待测试电子装置的治具,包括托盘,该托盘设置有收容腔,该收容腔用于容纳该待测试电子装置,其特征在于,还包括一插头组件、一导电接触组件和盖板; 该托盘的末端设置有一容置腔; 该插头组件滑动地连接于该托盘,该插头组件包括一插头,该插头用于与该待测试电子装置的一插槽相适配; 该导电接触组件位于该容置腔中,该导电接触组件包括多个导电片,每个导电片与该插头的一导电端子相连接; 该盖板与该容置腔的底部相对,该盖板及该容置腔的底部均设置有与所述多个导电片对应的通孔,从而允许一测试装置的探针穿过盖板的通孔或者该容置腔的底部的通孔而与所述多个导电片相接触,从而将该待测试电子装置电连接到该测试装置,使得该待测试电子装置能够接收到测试装置的测试信号。2.如权利要求1所述的用于承载待测试电子装置的治具,其特征在于,该盖板与该托盘一体成型。3.如权利要求1所述的用于承载待测试电子装置的治具,其特征在于,该盖板与该托盘分别单独成型,该盖板通过紧固件固定在该托盘。4.如权利要求1所述的用于承载待测试电子装置的治具,其特征在于,该插头组件包括插头承载部,该导电接触组件包括导电片承载部,该多个导电片固定在该导电片承载部上,该插头承载部和该导电片承载部通过一体成型方式成型。5.如权利要求4所述的用于承载待测试电子装置的治具,其特征在于,该导电片承载部设置多个卡槽,该多个导电片分别收容在该多个卡槽中。6.如权利要求5所述的用于承载待测试电子装置的治具,其特征在于,每个导电片包括相互平行的顶部和底部以及连接于顶部的一端和底部的一端的隔离部,每个卡槽中设置有卡块,该顶部、底部和隔离部的内表面分别与卡块的顶部、底部及端部相抵触,该顶部与该盖板的一通孔对齐,该底部与该容置腔的底部的一通孔对齐。【文档编号】G01R1/04GK103808977SQ201210442949【公开日】2014年5月21日 申请日期:2012年11月8日 优先权日:2012年11月8日 【专利技术者】吕理清, 向健华 申请人:富泰华工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于承载待测试电子装置的治具,包括托盘,该托盘设置有收容腔,该收容腔用于容纳该待测试电子装置,其特征在于,还包括一插头组件、一导电接触组件和盖板;该托盘的末端设置有一容置腔;该插头组件滑动地连接于该托盘,该插头组件包括一插头,该插头用于与该待测试电子装置的一插槽相适配;该导电接触组件位于该容置腔中,该导电接触组件包括多个导电片,每个导电片与该插头的一导电端子相连接;该盖板与该容置腔的底部相对,该盖板及该容置腔的底部均设置有与所述多个导电片对应的通孔,从而允许一测试装置的探针穿过盖板的通孔或者该容置腔的底部的通孔而与所述多个导电片相接触,从而将该待测试电子装置电连接到该测试装置,使得该待测试电子装置能够接收到测试装置的测试信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吕理清向健华
申请(专利权)人:富泰华工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1