一种清洗雾化器气路支管的方法技术

本发明专利技术提供了一种清洗雾化器气路支管的方法。所述方法包括反向高压气流吹扫步骤和/或反向吸抽溶液清洗步骤，流吹扫步骤包括：封堵气路支管的进气端口和液路支管的进液端口，从喷嘴处向雾化器内持续导入高压气流，在保持进液端口处于封堵状态下突然打开进气端口；所述清洗步骤包括：将喷嘴置于清洗溶液，并在进气端口处进行抽吸操作，以使清洗溶液填充至气路支管中并将其中待清理物质从进气端口排出；所述方法还包括使用水替换溶液清洗步骤中的清洗溶液以对气路支管中残留的清洗溶液进行清洗。本发明专利技术能够清除雾化器气路支管中的污垢或堵塞物，能够提高仪器分析测试性能并降低备件消耗，节省了检测成本。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了。所述方法包括反向高压气流吹扫步骤和/或反向吸抽溶液清洗步骤，流吹扫步骤包括：封堵气路支管的进气端口和液路支管的进液端口，从喷嘴处向雾化器内持续导入高压气流，在保持进液端口处于封堵状态下突然打开进气端口；所述清洗步骤包括：将喷嘴置于清洗溶液，并在进气端口处进行抽吸操作，以使清洗溶液填充至气路支管中并将其中待清理物质从进气端口排出；所述方法还包括使用水替换溶液清洗步骤中的清洗溶液以对气路支管中残留的清洗溶液进行清洗。本专利技术能够清除雾化器气路支管中的污垢或堵塞物，能够提高仪器分析测试性能并降低备件消耗，节省了检测成本。【专利说明】
本专利技术涉及元素分析仪器的维护保养和故障维修
，具体来讲，涉及一种能够简单高效地清洗化学元素成分检测分析仪器设备上的气动雾化器的气路支管的方法。
技术介绍
目前，电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP- 0ES),电感耦合等离子体质谱(ICP - MS)等当代先进的元素检测分析仪器，在各行各业中的应用非常广泛。气动雾化器则是此类精密仪器设备上的重要关键部件，其主要作用是利用雾化器上气路支管中的高速气流将液路支管中的样品溶液雾化成为细微的气溶胶，用以导入ICP - OES或ICP — MS等分析仪器进行元素成分测定。其中，在各种类型的气动雾化器之中，由于同心型雾化器的雾化效率高和稳定性好，有利于提高检测结果的准确度和精密度，以及拓展微量分析的测定下限，同心型雾化器的使用最为广泛。同心雾化器多由易碎的硅玻璃或石英材料制造，而且其独特的结构导致其气路支管和液路支管均极易因沾污或堵塞而导致雾化效率下降，严重影响仪器测试性能而损坏报废。因此，清除雾化器尤其是同心型气动雾化器的液路支管和气路支管中的污垢或堵塞物是经常遇到需要解决的难题。例如，所用气体本身不纯，或者在更换气体时气体管路或连接部件被沾污，都可能导致异物进入雾化器气路支管而最终在孔径最小的喷嘴尖部位产生堵塞；或正常情况下本应仅流动于液路支管的样品溶液，由于液路堵塞、错误操作或其它原因而进入气路支管，从而产生的污垢或各种盐类沉积物。目前，清除雾化器液路支管中堵塞物的方法主要包括:使用雾化器专用清洁装置，或将雾化器喷嘴朝上敲击使堵塞物松散并在重力作用下排出液路毛细支管，或吸入5%氢氟酸(HF)清洗，或将喷嘴浸入浓硝酸(HN03)并加热到10(TC以上进行清除，也或将溶剂用滴管或洗瓶吹入内管等。专利号为ZL201010555032.X和ZL200910146295.2的专利文献均公开了一种清除雾化器堵塞物的方法，其中，一种是采用清洗溶液清除雾化器堵塞物的方法，将雾化器的喷嘴一端放入清洗溶液中，向雾化器中吹入雾化气流，使清洗溶液在高速气流产生的负压作用下高速通过进样毛细内管并从雾化器喷嘴处冲出，从而高速冲刷和清洗雾化器内的堵塞物；另一种是采用雾化气流反吹清除雾化器中的堵塞物，将雾化器上的气流通道封堵，雾化器的喷嘴一端与雾化气流管路相连，用高速气流从雾化器的喷嘴端反向冲洗雾化器的进样毛细内管，高速冲刷和清洗雾化器中的堵塞物。这两项专利文献的特点是利用雾化器设备的原有连接部件，直接在仪器上利用原配备的雾化气源、蠕动泵来进行清除作业。然而，由于雾化器的构造特性，此类方法仅适用于清洗或排除雾化器液路支管中的堵塞物。
技术实现思路
本专利技术的目的在于解决现有技术存在的上述不足中的至少一项。例如，本专利技术的目的之一在于提供一种能够用于清洗电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP - 0ES),电感耦合等离子体质谱(ICP - MS)等元素检测分析仪器设备上的气动雾化器的气路支管的方法。为了实现上述目的，本专利技术提供了。所述方法包括反向高压气流吹扫步骤和/或反向吸抽溶液清洗步骤，其中，所述反向高压气流吹扫步骤包括:封堵雾化器的气路支管进气端口和液路支管进液端口，从雾化器的喷嘴处向雾化器内持续导入高压气流，在保持液路支管进液端口处于封堵的状态下突然打开气路支管进气端口，以实现对气路支管的强力反向吹扫；所述反向吸抽溶液清洗步骤包括:将雾化器的喷嘴放置于清洗溶液，并在气路支管进气端口处进行抽吸操作，以使清洗溶液填充至气路支管中并将气路支管中待清理物质从气路支管进气端口排出；所述方法还包括使用水替换所述反向吸抽溶液清洗步骤中的清洗溶液以对气路支管中残留的清洗溶液进行清洗的步骤。与现有技术相比，本专利技术的技术效果包括:能够清除同心型气动雾化器的气路支管中的污垢或堵塞物，达到清洁或疏通雾化器气路支管的目的，提高了同心型气动雾化器雾化效率，并且能够避免因同心型气动雾化器的气路支管被阻塞导致气路不畅进而造成雾化器损坏报废的情况。此外，本专利技术的方法还能够避免因雾化器的气路支管的污染或堵塞而导致检测结果的准确度和精密度降低的情况，并且能够提高仪器分析测试性能并降低备件消耗，从而节省了检测成本。【专利附图】【附图说明】图1示出了同心型雾化器的结构示意图，其中，1-液路支管的进液端口、2-气路支管的进气端口、3-喷嘴。【具体实施方式】在下文中，将结合示例性实施例来详细说明本专利技术的清洗雾化器气路支管的方法。如图1所示，本专利技术所清洗的同心型雾化器包括同心结构的液路支管和气路支管。其中，气路支管包括彼此连通并呈T型结构的横向支管和纵向支管，横向支管同心地套装在液路支管外面，横向支管的一端(如图1中的右端)与液路支管的外壁构成封闭结构，其另一端与液路支管的出液端口 一起构成喷嘴3,纵向支管的未与横向支管连通的一端(例如，如图1中的下端)即为供载气进入的气路支管的进气端口 2。液路支管的进液端口 I用于供待雾化溶液(也可称为试液)进入液路支管内。在本专利技术中，雾化器可以为电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP - 0ES)、电感耦合等离子体质谱(ICP - MS)等元素检测分析仪器设备上的气动雾化器，但是本专利技术不限于此。在本专利技术的一个示例性实施例中，清洗雾化器气路支管的方法包括一个或多个反向高压气流吹扫步骤和/或一个或多个反向吸抽溶液清洗步骤。其中，反向高压气流吹扫步骤包括:封堵雾化器的气路支管进气端口和液路支管进液端口，从雾化器的喷嘴处向雾化器内持续导入高压气流，在保持液路支管进液端口处于封堵的状态下突然打开气路支管进气端口，以实现对气路支管的强力反向吹扫。反向吸抽溶液清洗步骤包括:将雾化器的喷嘴放置于清洗溶液，并在气路支管进气端口处进行抽吸操作，以使清洗溶液填充至气路支管中并将气路支管中待清理物质从气路支管进气端口带出。在本专利技术的清洗雾化器气路支管的方法使用了清洗溶液的情况下，本专利技术的清洗雾化器气路支管的方法还包括使用水(例如，蒸馏水)替换所述反向吸抽溶液清洗步骤中的清洗溶液以对气路支管中残留的清洗溶液进行清洗的步骤。在本专利技术的一个示例性实施例中，清洗溶液可以是体积百分比浓度为40?60%的盐酸溶液或硝酸溶液，即，清洗溶液可以由40?60单位体积(例如，mL)的浓盐酸或浓硝酸与60?40单位体积(例如，mL)的水(例如，蒸馏水)混合而制成的总体积共100单位体积的溶液。优选地，本专利技术的方法还可以包括对清洗溶液进行加热或煮沸，以提高反向吸抽溶液清洗步骤的处理速度(例如，反应速度和/或溶解速度)。在本专利技术的一个示例性实施例中，清洗雾化器气路支管的方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种清洗雾化器气路支管的方法，其特征在于，所述方法包括反向高压气流吹扫步骤和/或反向吸抽溶液清洗步骤，其中，所述反向高压气流吹扫步骤包括：封堵雾化器的气路支管进气端口和液路支管进液端口，从雾化器的喷嘴处向雾化器内持续导入高压气流，在保持液路支管进液端口处于封堵的状态下突然打开气路支管进气端口，以实现对气路支管的强力反向吹扫；所述反向吸抽溶液清洗步骤包括：将雾化器的喷嘴放置于清洗溶液，并在气路支管进气端口处进行抽吸操作，以使清洗溶液填充至气路支管中并将气路支管中待清理物质从气路支管进气端口排出；所述方法还包括使用水替换所述反向吸抽溶液清洗步骤中的清洗溶液以对气路支管中残留的清洗溶液进行清洗的步骤。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：成勇，袁金红，彭慧仙，
申请(专利权)人：攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：