一种低阻抗宽带测试夹具制造技术

本实用新型专利技术属于射频微波测量技术领域，公开了一种低阻抗宽带测试夹具，包括：阻抗变换器和支撑件；所述阻抗变换器固定在所述支撑件上；所述阻抗变换器包括：第一渐变微带线和第二渐变微带线；所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线印刷在PCB板上，夹住待测LDMOS器件。本实用新型专利技术提供的低阻抗宽带测试夹具通过渐变微带线扩大测试夹具的阻抗变换范围，降低夹具与待测试LDMOS器件的阻抗失配程度，减小低频震荡，降低烧管风险。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术属于射频微波测量
，公开了一种低阻抗宽带测试夹具，包括：阻抗变换器和支撑件；所述阻抗变换器固定在所述支撑件上；所述阻抗变换器包括：第一渐变微带线和第二渐变微带线；所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线印刷在PCB板上，夹住待测LDMOS器件。本技术提供的低阻抗宽带测试夹具通过渐变微带线扩大测试夹具的阻抗变换范围，降低夹具与待测试LDMOS器件的阻抗失配程度，减小低频震荡，降低烧管风险。【专利说明】一种低阻抗宽带测试夹具
本技术涉及射频微波测量
，特别涉及一种低阻抗宽带测试夹具。
技术介绍
应用Loadpull系统测试功放管时，测试夹具针的阻抗为50 Ω，没有设计阻抗变换功能。采用50Ω的测试夹具测试阻抗很小的大栅宽、高功率的LDMOS器件时，由于阻抗严重失配，导致低频振荡，器件很容易烧毁。用于封装级测试的夹具，有一定的阻抗变换，可以从50欧姆变换到十几欧姆，变换后的阻抗仍然相对较高，容易低频振荡，烧毁器件。此外，用偏置电路供电，夹具受偏置电路滤波电容的影响，工作带宽很窄。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种阻抗变换范围大的测试夹具，避免低频振荡。为解决上述技术问题，本技术提供了一种低阻抗宽带测试夹具，包括:阻抗变换器和支撑件；所述阻抗变换器固定在所述支撑件上；所述阻抗变换器包括:第一渐变微带线和第二渐变微带线；所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线印刷在PCB板上，夹住待测LDMOS器件。进一步地，所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均为100节。进一步地，所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线的长度均大于210mm。进一步地，所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均为Klopfenstein 渐变微带线。本技术提供的低阻抗宽带测试夹具通过两条渐变微带线形成的阻抗变换器扩大测试夹具的阻抗变换范围，从而能够将阻抗降到很低的层次，降低夹具与待测试LDMOS器件的阻抗失配程度，减小低频震荡，降低烧管风险。【专利附图】【附图说明】图1为本技术实施例提供的阻抗变换器的PCB板电路。【具体实施方式】参见图1，本技术实施例提供的一种低阻抗宽带测试夹具，包括:阻抗变换器和支撑件；阻抗变换器固定在所述支撑件上，用于实现夹具阻抗变换，以配合待测试的各类LDMOS器件，降低阻抗失配的程度；阻抗变换器包括:第一渐变微带线I和第二渐变微带线2 ;作为高频电路的第一渐变微带线I和第二渐变微带线2印刷在PCB板3上，测试时将待测LDMOS器件夹在第一渐变微带线I和第二渐变微带线2之间；PCB板3通过板面上设置的固定孔4固定在支撑件上，形成稳固结构，方便测试操作。本实施例提供的渐变微带线构成的阻抗变换器，在排除材料影响的前提下阻抗变化范围为50 Ω?5.4Ω ;因此，相应的，第一渐变微带线I和第二渐变微带线2均为100节，从而保证阻抗变换的下限。阻抗下限越低，其与待测LDMOS器件的配合程度就越高，低频振荡就越缓和，烧管的风险就越小。为了改善供电电路滤波电容造成的工作带宽窄的问题，优选的，第一渐变微带线I和第二渐变微带线2的长度均大于210_，从而使频率覆盖范围包括:Ρ波段、L波段以及S波段；大的带宽可以清楚的看到振荡区域，解决低频振荡的问题，降低了烧管的风险。针对待测器件的阻抗相对低的特点，采用Klopfenstein渐变微带线能够较好的配合低阻抗测量。本技术实施例提供的低阻抗宽带测试夹具通过两条渐变微带线形成的阻抗变换器扩大测试夹具的阻抗变换范围，从而能够将阻抗降到低层次，降低夹具与待测试LDMOS器件的阻抗失配程度,减小低频震荡，降低烧管风险。通过KlopfensteinlOO节渐变微带线能够将阻抗变换范围最大化到50 Ω?5.4Ω，大大降低阻抗失配的风险；将两条Klopfenstein渐变微带线设置成最少210mm能够扩大带宽，看清楚振荡区域，降低低频振荡以及由之带来的烧管风险。最后所应说明的是，以上【具体实施方式】仅用以说明本技术的技术方案而非限制，尽管参照实例对本技术进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本技术的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本技术的权利要求范围当中。【权利要求】1.一种低阻抗宽带测试夹具，其特征在于，包括:阻抗变换器和支撑件；所述阻抗变换器固定在所述支撑件上；所述阻抗变换器包括:第一渐变微带线和第二渐变微带线；所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线印刷在PCB板上，夹住待测LDMOS管。2.如权利要求1所述的低阻抗宽带测试夹具，其特征在于:所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均为100节。3.如权利要求2所述的低阻抗宽带测试夹具，其特征在于:所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线的长度均大于210mm。4.如权利要求1?3任一项所述的低阻抗宽带测试夹具，其特征在于:所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均为Klopfenstein渐变微带线。【文档编号】G01R1/04GK203587627SQ201320799653【公开日】2014年5月7日 申请日期:2013年12月5日 优先权日:2013年12月5日 【专利技术者】丛密芳, 李科, 任建伟, 杜寰 申请人:上海联星电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低阻抗宽带测试夹具，其特征在于，包括：阻抗变换器和支撑件；所述阻抗变换器固定在所述支撑件上；所述阻抗变换器包括：第一渐变微带线和第二渐变微带线；所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线印刷在PCB板上，夹住待测LDMOS管。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：丛密芳，李科，任建伟，杜寰，
申请(专利权)人：上海联星电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：