一种LCM测试机制造技术

一种LCM测试机，包括中央处理模块，负压控制模块、对接模块和调用模块；所述中央处理模块包括两两互相相连的单片机、存储器和数据缓冲模块；负压控制模块用于将正压输入转换为负压，并与待测LCM相连；对接模块包括两个并联连接的20pin输出模块和26pin输出模块，该20pin输出模块或26pin输出模块分别与待测LCM的引脚对应连接；所述调用模块包括与单片机相连的型号调用单元和A/D转换电路，以及通过所述A/D转换电路与单片机相连的控制显示屏。本发明专利技术通过设置与单片机相连的数据缓冲模块以及储存数据的存储器，实现对多种型号LCM的测试，多个产品型号的程序写入后直接调用即可，方便员工的操作，而且大大提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种LCM测试机
本专利技术涉及一种测试仪器，尤其涉及一种LCM测试机。
技术介绍
液晶调用模块是即“LiquidCrystalDisplayModule”，简称“LCM”，是一种将液晶显示器件、连接件、集成电路、PCB线路板、背光源、结构件装配在一起的组件，液晶显示器件只有将驱动电路的电场信号施加到ITO导电电极上，才能实现显示器件的显示，因此，LCM就是将液晶显示件的导电电极与驱动电路的电场信号连接起来，从而实现需要的显示的内容。随着信息产业的迅猛发展，配套的液晶调用模块需求量急增，特别是单色液晶模块、CSTN液晶模块、TFT液晶模块的比例也逐渐增大。一般的模块检测方法都相对复杂、测试内容单一，通常使用单片机驱动调用模块，为了检测产品的功能电流及背光源压降等参数，还需增加电流、电压表或万用表等工具，其工作原理是：单片机驱动LCM显示，万用表串接在测试架上监控LCM工作电流，操作员需一边看显示效果，一边观察电流是否超标，如果只需要检测整个模块功耗电流还相对容易一点，但如果要检查主、副屏及背光的功耗电流时，就需分三次用万用表分别检测这三项电流，而且检测每项时需要一边看显示效果一边看电流变化是否超标，这种的检测方式存在以下问题：1)检验结果不可靠，多靠主观判断，容易漏检、误判；2)效率低下：不同产品必须更换不同的单片机测试架，编写新的驱动程序。而且，一款LCM产品对应一个测试程序和一个测试机，每次测试不同的产品都需要在测试机上灌入相对应测试程序，方可对液晶模组进行测试，测试产品的时候参数无法直接调节，也无法直观读出参数。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种LCM测试机，提高现有的测试效率，解决了现有一台LCM测试机无法测试多种LCM产品的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种LCM测试机，包括中央处理模块，与中央处理模块电连接的负压控制模块、对接模块和调用模块。中央处理模块包括两两互相相连的单片机、存储器和数据缓冲模块；所述单片机用于调取存储器中的程序，控制数据缓冲模块工作，并接收数据缓冲模块、存储器反馈的信息；所述数据缓冲模块用于读取存储器的驱动程序，并与对接模块相串联；所述存储器的信号输出端与数据缓冲模块的信号输入端相连。负压控制模块用于将正压输入转换为负压，并与待测LCM相连，该负压控制模块的输出端连接单片机的输入端，负压控制模块的输入端连接单片机的输出端。对接模块包括两个并联连接的20pin输出模块和26pin输出模块，该20pin输出模块或26pin输出模块分别与待测LCM的引脚对应连接。调用模块包括与单片机相连的型号调用单元和A/D转换电路，以及通过所述A/D转换电路与单片机相连的控制显示屏；所述单片机的输入端与A/D转换电路的输出端相连。为了避免插拔单片机IC，造成单片机IC损坏，LCM测试机还包括与单片机相连的在线编译模块。为了方便调节电压，LCM测试机还包括与单片机相连的手动调压单元。进一步的，数据缓冲模块包括三个SN74HC245芯片，将数字信号由内部的VCC逻辑电平转换为Vdd模块逻辑工作电压电平，从而驱动待测LCM。本专利技术的有益效果：由于单片机本身拥有丰富的拓展功能，通过设置与单片机相连的数据缓冲模块以及储存数据的存储器，实现对多种型号LCM的测试，多个产品型号的程序写入后直接调用即可，方便员工的操作，而且大大提高检测效率。成本方面，一台现有普通测试机一年消耗的单片机IC所用的金额远远大于本专利技术LCM测试机的制造成本。操作方面，本专利技术拥有存储器和数据缓冲模块，使得存储量大大提高，虽然现有的LCM测试机也有存储功能，但是调用型号后还需要设定参数，操作十分不便，本专利技术可对单色液晶模块、CSTN液晶模块、TFT液晶模块进行检测，涵盖了所有模块的产品测试。附图说明以下将结合附图和实施例，对本专利技术进行较为详细的说明。图1为本专利技术的系统框图。图2为本专利技术的结构原理图。图3为图2所示数据缓冲模块与对接模块的电路原理图。图4为图2所示单片机与A/D转换电路的电路原理图。图5为本专利技术控制软件的流程框图。具体实施方式实施例，如图1至2所示，本优选实施例中LCM测试机，包括中央处理模块1，与中央处理模块电连接的负压控制模块2、对接模块3和调用模块4。中央处理模块1包括两两互相相连的单片机11、存储器12和数据缓冲模块13；所述单片机11用于调取存储器中的程序，控制数据缓冲模块工作，并接收数据缓冲模块、存储器反馈的信息；所述数据缓冲模块13用于读取存储器12的驱动程序，并与对接模块相串联；所述存储器12的信号输出端与数据缓冲模块13的信号输入端相连。负压控制模块2用于将正压输入转换为负压，并与待测LCM相连，该负压控制模块的输出端连接单片机的输入端，负压控制模块的输入端连接单片机的输出端。对接模块3包括两个并联连接的20pin输出模块31和26pin输出模块32，该20pin输出模块31或26pin输出模块32分别与待测LCM的引脚对应连接。调用模块4包括与单片机相连的型号调用单元41和A/D转换电路42，以及通过所述A/D转换电路与单片机相连的控制显示屏43；所述单片机的输入端与A/D转换电路的输出端相连。为了避免插拔单片机IC，造成单片机IC损坏，LCM测试机还包括与单片机相连的在线编译模块5。为了方便调节电压，LCM测试机还包括与单片机相连的手动调压单元6。如图3所示，数据缓冲模块包括三个SN74HC245芯片，通过读取存储器的驱动程序，并将数字信号由内部的VCC逻辑电平转换为Vdd模块逻辑工作电压电平，从而驱动待测LCM。如图4所示，单片机采用ATMEGA64，负责控制协调整个测试机的运转。存储器的型号为AT24C1024，A/D转换电路采用U8（SN74HC164）。本专利技术以单片机为核心，控制程序存放在存储器中，A/D转换电路外接有132*64点阵液晶显示屏，能直观的读取产品型号以供调取，并通过负压控制模块提供待测LCM所需的电压，数据缓冲模块和对接模块达到驱动效果。如图5所示，员工可进行如下操作：首先打开电源，选择待测LCM的产品类型，按确认件确认，将待测LCM测试板接入20pin输出模块或26pin输出模块处，将测试板固定在测试架上开始测试。检测时通过选择产品类型直接调用，真正做到一机多用，并存储多种模式的检测方式，如笔段（断码）模块、图形点阵模块、字符点阵模块、图形点阵-COB，可对单色液晶模块、CSTN液晶模块、TFT液晶模块进行检测，以上基本涵盖所有模块的产品测试。本专利技术的工作原理如下：通过型号调用单元选择待测LCM的产品型号，单片机接收该数据并经A/D转换电路得到相应的数字量，使得控制显示屏上显示出产品型号、IC型号、电压值、电流值、电源值、Uled、Iled。操作时只需调取产品型号即可。另一方面，单片机通过负压控制模块产生LCM所需的Vdd(逻辑工作电压)、Vled(背光源工作电压)、If(背光源驱动用的恒流源)，并通过数据缓冲模块和对接模块，驱动待测LCM，得到测试结果。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LCM测试机，包括中央处理模块，其特征在于：还包括与所述中央处理模块电连接的负压控制模块、对接模块和调用模块；所述中央处理模块包括两两互相相连的单片机、存储器和数据缓冲模块；所述单片机用于调取存储器中的程序，控制数据缓冲模块工作，并接收数据缓冲模块、存储器反馈的信息；所述数据缓冲模块用于读取存储器的驱动程序，并与对接模块相串联；所述存储器的信号输出端与数据缓冲模块的信号输入端相连；所述负压控制模块用于将正压输入转换为负压，并与待测LCM相连，该负压控制模块的输出端连接单片机的输入端，负压控制模块的输入端连接单片机的输出端；所述对接模块包括两个并联连接的20pin输出模块和26pin输出模块，该20pin输出模块或26pin输出模块分别与待测LCM的引脚对应连接；所述调用模块包括与单片机相连的型号调用单元和A/D转换电路，以及通过所述A/D转换电路与单片机相连的控制显示...

【专利技术属性】
技术研发人员：方勇茂，游仁文，
申请(专利权)人：安徽金视界光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：