一种缺陷形状可视化算法制造技术

本发明专利技术涉及一种缺陷形状可视化算法，所述算法通过视频设备获取黑白数字图像，在图像上利用缺陷单片段进行处理和检测，缺陷单片段为图象某扫描行上连续黑象素构成的区结点，区结点内不含白像素，缺陷单片段内包括左端点和右端点，所述左端点和右端点分别位于缺陷单片段的两端，图象的检测方式是自上至下、自左至右进行的，缺陷单片段连续生成过程即是端点的搜索过程，在获取了端点后，即获得缺陷单片段，利用常用的B样条函数即可利用获取的端点分段拟合曲线，从而找到缺陷轮廓。本发明专利技术能快速获得缺陷的范围空间，获得较好的提取和识别效果。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及，所述算法通过视频设备获取黑白数字图像，在图像上利用缺陷单片段进行处理和检测，缺陷单片段为图象某扫描行上连续黑象素构成的区结点，区结点内不含白像素，缺陷单片段内包括左端点和右端点，所述左端点和右端点分别位于缺陷单片段的两端，图象的检测方式是自上至下、自左至右进行的，缺陷单片段连续生成过程即是端点的搜索过程，在获取了端点后，即获得缺陷单片段，利用常用的B样条函数即可利用获取的端点分段拟合曲线，从而找到缺陷轮廓。本专利技术能快速获得缺陷的范围空间，获得较好的提取和识别效果。【专利说明】技术领结点本专利技术涉及一种无损检测方法，具体涉及。
技术介绍
涡流检测是导电材料无损检测的一种非常重要的方法，当载有低频交流电的检测，检测线圈靠近导电试件表面时，可以检测到由于缺陷出现而导致的试件导电性能的改变，但识别准确率不尽人意。
技术实现思路
本专利技术克服了现有技术的不足，提出了。所述算法利用边界条件对图像形状进行重构，能快速获得缺陷的范围空间，获得较好的提取和识别效果，表面缺陷识别效果好，缺陷识别率高，可靠性高，数据准确。所述算法表面缺陷的识别率可以达到97%以上。本专利技术的技术方案为，，所述算法通过视频设备获取黑白数字图像，在图像上利用缺陷单片段进行处理和检测，缺陷单片段为图象某扫描行上连续黑象素构成的区结点，区结点内不含白像素，缺陷单片段内包括左端点和右端点，所述左端点和右端点分别位于缺陷单片段的两端，图象的检测方式是自上至下、自左至右进行的，缺陷单片段连续生成过程即是端点的搜索过程，在端点搜索过程中，用端点集合组成一个链表结构，用D表示第i行上某缺陷单片段，D(XiSYi)和D (Xi2Ji)分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点坐标，Xi1和Xi2分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点的横坐标，Yi表示第i行缺陷单片段D左端点和右端点的纵坐标，N表示链表中某结点，用符号Lxl，Ly分别表示被检测的后继的左端点的横坐标和纵坐标，用符号Lx2，Ly分别表示被检测的后继的右端点的横坐标和纵坐标，\和S2分别表示两个偏差阈值；若满足邻接条件Yi = Ly+1则结点的生成条件为满足以下条件之一:4) I XiLLxl I > δ I5) I Xi2-Lx21 > δ 26)边界方向有变化对于链表结构中某N结点，若与正在检测的某缺陷单片段邻接，根据61和δ2等偏差阈值，判断是否满足邻接条件及结点的生成条件I或2，若符合条件，则生成新结点Node，否则，调用边界方向判别函数F(T，Xi1, Xi2, Yi)函数内包括了两个边界方向变化状态码LeftEdgeMode和RightEdgeMode,边界方向判别函数F判断是否符合邻接条件及结点的生成条件3,若符合条件,贝U生成新结点；其中参数N表示链域中某结点指针；xl,x2,y分别表示某缺陷单片段的左边横坐标、右边横坐标及纵坐标。边界方向判别函数F功能为:即根据某缺陷单片段相对上一行缺陷单片段的边界走向，再结合链域中记录的边界方向变化状态码LefEdgeMode和RightEdgeMode,即可判别边界方向是否发生了变化,若发生了变化，则激发扫描行计数器计数，当计数器累计达到预定的次数时，即可将已纪录的侯选端点转化为新的端点，在获取了端点后，即获得缺陷单片段，利用常用的B样条函数即可利用获取的端点分段拟合曲线，从而找到缺陷轮廓。本专利技术具有如下有益效果:I)本专利技术能快速获得缺陷的范围空间，获得较好的提取和识别效果。2)本专利技术缺陷轮廓识别效果好，缺陷区域识别率高；3)本专利技术信噪比高，缺陷分辨能力强；4)本专利技术可靠性高，数据准确。【具体实施方式】 本专利技术通过视频设备获取黑白数字图像，并在图像上利用缺陷单片段进行处理和检测，，所述算法通过视频设备获取黑白数字图像，在图像上利用缺陷单片段进行处理和检测，缺陷单片段为图象某扫描行上连续黑象素构成的区结点，区结点内不含白像素，缺陷单片段内包括左端点和右端点，所述左端点和右端点分别位于缺陷单片段的两端，图象的检测方式是自上至下、自左至右进行的，缺陷单片段连续生成过程即是端点的搜索过程，在端点搜索过程中，用端点集合组成一个链表结构，用D表示第i行上某缺陷单片段，D (Xi1, Yi)和D(Xi2，Yi)分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点坐标，Xi1和Xi2分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点的横坐标,Yi表示第i行缺陷单片段D左端点和右端点的纵坐标，N表示链表中某结点，用符号Lxl，Ly分别表示被检测的后继的左端点的横坐标和纵坐标，用符号Lx2，Ly分别表示被检测的后继的右端点的横坐标和纵坐标，31和δ2分别表示两个偏差阈值；若满足邻接条件Yi = Ly+1则结点的生成条件为满足以下条件之一:7) I Xj1-Lx1 I > δ I8) I Xj2-Lx2 I > δ 29)边界方向有变化对于链表结构中某N结点，扫描图象第一行(此时i = O)，调用缺陷单片段生成函数(F(O))，检查第一个缺陷单片段并形成第一个域NI ;循序检查第k个缺陷单片段段形成第k个域Nk(k为整数，若与正在检测的某缺陷单片段邻接，根据δ?和δ2等偏差阈值，判断是否满足邻接条件及结点的生成条件I或2，若符合条件，则生成新结点Node，否则，调用边界方向判别函数(bool D(struct node*N, int xl’int x2, inty)),即判断是否符合邻接条件及结点的生成条件3，若符合条件，则生成新结点；其中参数N表示链域中某结点指针；xl，x2, y分别表示某缺陷单片段的左边横坐标、右边横坐标及纵坐标。功能为:即根据某缺陷单片段相对上一行缺陷单片段的边界走向，再结合链域中记录的边界方向变化状态码LeftEdgeMode和RightEdgeMode,即可判别边界方向是否发生了变化,若发生了变化,贝丨J激发扫描行计数器计数，当计数器累计达到预定的次数时，即可将已纪录的侯选端点转化为新的端点。在获取了端点后，即获得缺陷单片段，利用常用的B样条函数即可分段拟合曲线，从而找到缺陷轮廓。本专利技术能快速获得缺陷的范围空间，获得较好的提取和识别效果，表面缺陷识别效果好，缺陷识别率高，缺陷分辨能力强；本专利技术可靠性高，数据准确。【权利要求】1.，其特征是，所述算法通过视频设备获取黑白数字图像，在图像上利用缺陷单片段进行处理和检测，缺陷单片段为图象某扫描行上连续黑象素构成的区结点，区结点内不含白像素，缺陷单片段内包括左端点和右端点，所述左端点和右端点分别位于缺陷单片段的两端，图象的检测方式是自上至下、自左至右进行的，缺陷单片段连续生成过程即是端点的搜索过程，在端点搜索过程中，用端点集合组成一个链表结构，用D表示第i行上某缺陷单片段，D (Xi1, Yi)和D(Xi2，Yi)分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点坐标，Xi1和Xi2分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点的横坐标,Yi表示第i行缺陷单片段D左端点和右端点的纵坐标，N表示链表中某结点，用符号Lxl，Iy分别表示被检测的后继的左端点的横坐标和纵坐标，用符号Lx2，Iy分别表示被检测的后继的右端点的横坐标和纵坐标，\和S2分别表示两个偏差阈值； 若本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种缺陷形状可视化算法，其特征是，所述算法通过视频设备获取黑白数字图像，在图像上利用缺陷单片段进行处理和检测，缺陷单片段为图象某扫描行上连续黑象素构成的区结点，区结点内不含白像素，缺陷单片段内包括左端点和右端点，所述左端点和右端点分别位于缺陷单片段的两端，图象的检测方式是自上至下、自左至右进行的，缺陷单片段连续生成过程即是端点的搜索过程，在端点搜索过程中，用端点集合组成一个链表结构，用D表示第i行上某缺陷单片段，D(Xi1，Yi)和D(Xi2，Yi)分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点坐标，Xi1和Xi2分别表示第i行缺陷单片段D的左端点和右端点的横坐标，Yi表示第i行缺陷单片段D左端点和右端点的纵坐标，N表示链表中某结点，用符号Lx1，ly分别表示被检测的后继的左端点的横坐标和纵坐标，用符号Lx2，ly分别表示被检测的后继的右端点的横坐标和纵坐标，δ1和δ2分别表示两个偏差阈值；若满足邻接条件Yi＝Ly+1则结点的生成条件为满足以下条件之一：1)|Xi1‑Lx1|＞δ12)|Xi2‑Lx2|＞δ23)边界方向有变化对于链表结构中某N结点，若与正在检测的某缺陷单片段邻接，根据δ1和δ2等偏差阈值，判断是否满足邻接条件及结点的生成条件1或2，若符合条件，则生成新结点Node，否则，调用边界方向判别函数F(T，Xi1，Xi2，Yi))，函数内包括了两个边界方向变化状态码LeftEdgeMode和RightEdgeMode，边界方向判别函数F判断是否符合邻接条件及结点的生成条件3，若符合条件，则生成新结点；其中参数N表示链域中某结点指针；x1，x2，y分别表示某缺陷单片段的左边横坐标、右边横坐标及纵坐标。边界方向判别函数F功能为：即根据某缺陷单片段相对上一行缺陷单片段的边界走向，再结合链域中记录的边界方向变化状态码LeftEdgeMode和RightEdgeMode，即可判别边界方向是否发生了变化，若发生了变化，则激发扫描行计数器计数，当计数器累计达到预定的次数时，即可将已纪录的侯选端点转化为新的端点，在获取了端点后，即获得缺陷单片段，利用常用的B样条函数即可利用获取的端点分段拟合曲线，从而找到缺陷轮廓。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王金鹤，
申请(专利权)人：宁波工程学院，
类型：发明
国别省市：浙江;33