本发明涉及一种基于信号频域稀疏性的TIADC时间失配参数盲测量方法。所述方法通过采用TIADC系统的非均匀采样输出值，输入信号的频域稀疏特性和TIADC系统的多通道并行架构特点，采用全相位谱分析技术、奈奎斯特采样定理和欠采样定理，实现T...