本发明揭示了一种信号转换装置及信号通道仲裁方法，包括仲裁器，第一输入端耦接多个事件寄存器；序列控制寄存器，耦接多个事件寄存器，用于配置事件寄存器的序列；每个所述事件寄存器分别用于控制对应所述信号转换装置的输入端接收到的信号；所述仲裁器配...

本发明公开了一种可变通信协议控制方法、系统及电子设备，所述方法包括：利用控制信号线接收来自数据发送端发送的首帧数据；其中，所述首帧数据用于建立握手通信，实现通信链路的初始化；采用对应于所述首帧数据编码格式的解码算法，对所述首帧数据执行解...

本发明公开了一种随机数种子生成方法及装置，所述方法包括：接收并记录若干采样周期内熵源产生时钟信号的频率，得到若干组随机计数值；在检验统计检测电路正常时，获取初始数据序列，分别提取每组随机计数值的随机性特征位，根据所述随机性特征位更新所述...

本发明公开了一种伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路，所述伪随机测试参数生成方法包括：初始化扫描链电路，至少产生一输出值；获取所述扫描链电路的前一次输出值，并对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述...

本发明揭示了一种芯片测试方法及系统，其中芯片测试方法包括：接收测试模式选择信号，判断所述模式选择信号是否指示待测芯片进入在线测试模式；若是，则保持所述待测芯片中的中央处理器和IP硬核通信断开，直接根据外部测试指令对所述待测芯片的至少一个...

本发明揭示了一种Flash读取缓存系统，所述Flash读取缓存系统包括：AHB总线，以及分别与所述AHB总线和所述Flash模块电性连接的高速缓存模块，所述高速缓存模块设置于AHB总线与Flash模块之间；所述高速缓存模块配置为，存储所...

本发明揭示了一种芯片老化测试方法及芯片老化测试系统，所述芯片老化测试方法包括：晶圆起测，向待测芯片至少一个输入引脚或输出引脚施加工作电压；在所述工作电压稳定施加后，间歇性向该输入引脚或输出引脚施加高电压，并根据所述待测芯片的当前工作状态...

本发明揭示了一种基于SRAM的ECC校验方法和装置，所述装置包括相互连接的SRAM、逻辑拼接电路和ECC编码器，所述方法包括：当ECC使能且从总线获取的待写入数据的位数为X位时，所述逻辑拼接电路从所述SRAM中读取数据，并从总线获取总线...

本发明揭示了一种总线CRC校验系统及总线系统CRC校验方法，所述总线CRC校验系统包括：AHB总线，以及电性连接至所述AHB总线的CRC模块、监测模块和外设模块；CPU通过AHB总线对CRC模块进行读写配置；所述CRC模块包括CRC寄存...