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无锡中微亿芯有限公司专利技术
无锡中微亿芯有限公司共有172项专利
集成电路设计中单元端口方向属性的批量化修改方法技术
本发明涉及一种集成电路设计中单元端口方向属性的批量化修改方法。其包括:提供目标集成电路设计工程,并获取与所述目标集成电路设计工程对应的第一类单元目标列表;对上述获取的第一类单元目标列表,执行方向属性修改处理,其中,执行方向属性修改处理时...
一种基于动态梯度优化结合深度强化学习的芯片布局方法技术
本申请公开了一种基于动态梯度优化结合深度强化学习的芯片布局方法,涉及芯片布局技术领域,该方法计算每次迭代的芯片布局结果的多项布局性能指标并构建得到状态特征向量以及奖励值,引入权重系数结合布局性能指标计算得到损失函数对芯片布局结果进行梯度...
集成电路版图的过孔添加方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸
本申请涉及一种集成电路版图的过孔添加方法、装置、设备和存储介质。方法包括:根据预设的过孔结构数据对集成电路版图进行设计规则检查,得到设计规则检查结果数据;解析设计规则检查结果数据,得到缺少过孔的目标金属层及目标金属层中待添加过孔的尺寸数...
基于Virtuoso的集成电路引脚设计方法技术
本申请涉及一种基于Virtuoso的集成电路引脚设计方法,涉及集成电路设计技术领域。所述方法包括:利用Virtuoso软件的Skill程序接口,按照预定执行步骤编写程序脚本文件,Virtuoso软件启动时自动加载程序脚本文件,并响应程序...
基于Virtuoso的集成电路实例设计方法技术
本申请涉及一种基于Virtuoso的集成电路实例设计方法,涉及集成电路设计技术领域。所述方法包括:利用Virtuoso软件的Skill程序接口,按照预定执行步骤编写程序脚本文件,Virtuoso软件启动时自动加载程序脚本文件,并响应程序...
高可靠性的宽调谐压控振荡器制造技术
本发明涉及一种高可靠性的宽调谐压控振荡器。其包括:压控振荡主环路,接收压控电压VCTRL,并在压控电压VCTRL下生成压控时钟信号;压控振荡辅环路,与压控振荡主环路适配电连接,并对压控电压VCTRL进行采样,以基于所采样的压控电压VCT...
一种基于忆阻器实现检查回滚的高可靠性FPGA制造技术
本申请公开了一种基于忆阻器实现检查回滚的高可靠性FPGA,涉及FPGA技术领域,该高可靠性FPGA内部的非易失性时序元件内置基于可变阻值的忆阻器,忆阻器一方面作为功能元件,另一方面又用于存储信息,检查回滚控制器控制每个非易失性时序元件利...
一种芯片的可测试设计方法技术
本申请公开了一种芯片的可测试设计方法,涉及芯片领域,该可测试设计方法对芯片内部至少一个预定位置处的资源模块,以资源模块的模块基础结构为基础将所述资源模块优化设计为双模式资源模块,设计得到内部包含双模式资源模块的芯片,然后即可利用双模式资...
适于集成电路测试的机台数据文件处理方法技术
本发明涉及一种适于集成电路测试的机台数据文件处理方法。其包括:加载机台测试数据文件,其中,所述机台测试数据文件包括至少一个测试用例数据单元,对机台测试数据文件内的每个测试用例数据单元逐行读取,以逐行提取所述机台测试数据文件内的行测试数据...
一种快速形成测试路径的FPGA测试方法技术
本申请公开了一种快速形成测试路径的FPGA测试方法,涉及FPGA技术领域,该方法事先规划若干种预设跨度框,每种预设跨度框在对应的配置码流的配置下利用对应的资源模块组中的资源在内部形成预设路径,然后根据将起点资源模块至终点资源模块经过的资...
一种基于传输通道的s参数提取TDR阻抗曲线的方法技术
本申请公开了一种基于传输通道的s参数提取TDR阻抗曲线的方法,涉及电子电路领域,该方法将频域的s参数得到输入端反射参数继而修正输入阶跃信号激励电压得到频域前向反射电压,将其进行有理化拟合得到系统传递函数,然后根据时域反射计仪器的基本原理...
基于ReRAM的FPGA用非易失性配置RAM制造技术
本发明涉及一种基于ReRAM的FPGA用非易失性配置RAM。其包括ReRAM阵列,所述ReRAM阵列包括若干ReRAM单元,其中,对ReRAM阵列中的任一ReRAM单元,包括用于数据存储的可变电阻R0以及与所述可变阻值电阻R0适配连接的...
基于可变阻值电阻的FPGA用非易失性DFF制造技术
本发明涉及一种基于可变阻值电阻的FPGA用非易失性DFF。其包括:DFF功能单元体,包括锁存单元以及与所述锁存单元适配连接的可变阻值电阻单元,所述锁存单元与所述非易失性DFF的数据输入端口以及数据输出端对应连接;时序信号电路,接收工作指...
一种优化保持时间的布局方法技术
本申请公开了一种优化保持时间的布局方法,涉及FPGA技术领域,该布局方法在按照用户输入网表对FPGA芯片进行布局得到初始布局状态后,确定用户输入网表中的各条保持时间关键路径上的逻辑单元的布局位置,然后以将同一条保持时间关键路径上的逻辑单...
一种用于芯片多温测试移载的负压式取片结构制造技术
本技术涉及一种用于芯片多温测试移载的负压式取片结构,包括支撑块,支撑块底面中心向下延伸形成凸块,凸块底面中心向下延伸形成内凸台,内凸台周向外部配装有密封圈,内凸台底面向下依次安装有调温片、石墨片和铟片;铟片的底面内缩于密封圈底面;还包括...
具有过冲保护的FPGA存储单元电源电路制造技术
本发明涉及一种具有过冲保护的FPGA存储单元电源电路,其包括:电源电路本体,用于提供存储单元工作所需的电源SRAMVS,其中,所述电源电路本体包括若干POWER MOS管;过冲保护电路,包括用于泄放流过POWER MOS管电流的泄放管以...
一种基于Virtuoso的实例调用信息提取方法技术
本申请公开了一种基于Virtuoso的实例调用信息提取方法,涉及集成电路设计领域,该方法利用Skill程序接口编写程序脚本文件配置到Virtuoso软件环境中并在视图中形成菜单,Virtuoso软件启动时自动加载执行程序脚本文件,就会依...
基于电流转向的自启动电荷泵制造技术
本发明涉及一种基于电流转向的自启动电荷泵
一种考虑建立时间和保持时间的布局方法技术
本申请公开了一种考虑建立时间和保持时间的布局方法,涉及FPGA技术领域,该布局方法在现有解析式布局算法的基础上进行优化,通过预先分析用户输入网表来确定可能存在建立时间风险和保持时间风险的目标优化路径,据此对抽象得到的网表模型中的边进行权...
一种FPGA中的可配置互连节点的测试方法技术
本申请公开了一种FPGA中的可配置互连节点的测试方法,涉及FPGA技术领域,该测试方法将全芯片中的所有待测的可配置互连节点以及相应的辅助通路模型化为一张包含顶点和有向边的完整的有向图,基于图论以覆盖率为驱动的方法遍历搜寻测试通路以得到覆...
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