本发明属于半导体器件测试领域，具体涉及功率模块循环测试方法。本发明公开的功率模块循环测试方法包括：对串联或并联的若干个功率模块施加电流，以获得对应于每个功率模块的第一温度序列；根据第一温度序列和热输入序列确定功率模块响应热输入的第二温度...

本技术公开了一种便于调节测试温度的测试机，包括测试机本体，所述测试机本体的正面通过合页铰接有密封门，所述测试机本体的上表面安装有机电箱，所述机电箱的内顶壁安装有电机，所述测试机本体的内顶壁镶嵌有轴承，所述轴承的内圈固定连接有螺纹杆，所述...

本技术公开了一种便于测量的高温栅偏试验装置，包括主板，所述主板的上表面固定连接有试验箱，所述主板的底面开设有凹槽，所述凹槽的内顶壁固定连接有多个阻尼器，每个所述阻尼器的外表面均套设有减震弹簧，每个所述阻尼器的底端共同固定连接有支撑板，所...

本发明提供了一种用于功率模块的基板，包括：主体机构，所述主体机构用于搭载芯片并提供导电、绝缘和支撑功能；散热机构，所述散热机构安装于主体机构的内部一侧，用于对主体机构进行散热防护；连接机构，所述连接机构安装于主体机构的一侧，用于固定散热...

本发明涉及测试工装技术领域，具体为功率开关模块测试工装，包括壳体、两个冷热机构、两个固定机构、两个工件、测试主机和导电柱；两个所述固定机构安装于所述壳体上，用于对所述冷热机构上的工件进行固定；两个所述冷热机构分别安装于两个所述固定机构上...

本实用新型公开了一种带结温测试的间歇寿命测试装置，包括运输板，所述运输板的底面固定连接有两组移动轮，所述运输板的上表面固定连接有测试箱，所述测试箱的内底壁固定连接有测试台，所述测试台的上表面固定连接有散热板，所述散热板的上表面固定连接有...

本实用新型公开了一种半导体器件的功率循环测试装置，包括底板，所述底板的上方设有机体，所述机体的底面开设有安装槽，所述安装槽的内顶壁固定连接有两组相对称的电动伸缩杆，两组所述电动伸缩杆的底端共同固定连接有顶板，所述顶板的底面固定连接有相对...

本实用新型公开了一种便于维护的老化测试机，包括底板，所述底板的上表面固定连接有保护壳，所述保护壳的内部设有支撑板，所述支撑板的底面固定连接有两个支撑块，所述保护壳的内底壁开设有两个滑动槽，且滑动槽与支撑块滑动连接。本装置通过电动推杆、连...

本实用新型公开了一种便于移动的芯片测试机，包括测试机本体，所述测试机本体的外表面固定安装有移动握杆，所述测试机本体的底面固定安装有保护箱，所述保护箱的外表面固定安装有控制器，所述保护箱的内底壁固定安装有电池，所述控制器通过导线与电池电连...

本实用新型公开了一种高温反向偏压测试机用夹具，包括测试机主体，所述测试机主体的内侧壁固定连接有测试载板，所述测试载板的上表面开设有一组放置槽，所述测试载板的上表面开设有两个安装通口，所述测试载板的上表面设有第一夹持支架和第二夹持支架。本...

本实用新型公开了一种防烫伤的高温反偏寿命测试装置，包括加热组件和降温组件，所述加热组件包括支撑部、保温部、第一温控器、电加热板、间隔调节部、拉动部、夹持部、控制台和密封门，所述保温部设置在所述支撑部上，所述第一温控器、所述电加热板、所述...

本申请提供了一种水冷式间歇工作寿命测试装置，属于半导体测试设备技术领域。该水冷式间歇工作寿命测试装置包括防护组件和收纳组件，电动推杆会带动支撑板向下移动，可以带动支撑板上的测试机本体移动至移动箱的内部，同时可以带动连接杆向移动箱的内部进...

本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种高效功率循环试验仪，其包括测试箱、测试母板、测试子板及隔板，测试箱包括底板、顶板、三面围板，底板、顶板及三面围板带有夹层，三面围板夹层内盘绕加热丝，隔板将测试箱分隔成第一及第二测试腔，第一及...

本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种节省空间的高温反偏测试系统，其包括测试箱体、两个丝杠、安装板及测试主板，两个丝杠安装于测试箱体内且分别套装有螺母套，安装板水平固装于两个螺母套之间且安装板上设有横向透气孔，安装板上表面及下表...

本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种方便控制温湿度的高温高湿反偏测试系统，其包括测试箱及多个老化板，测试箱包括底板、顶板、三面围板及箱门，顶板及三面围板均为带有夹层，且夹层内均盘绕有加热丝并开设有风孔且风孔处安装有风扇及风孔盖...

本实用新型涉及二极管测试设备技术领域，尤其涉及一种方便拆装的高温反偏测试机，包括高温测试箱、多个支撑板、安装座及测试主板，高温测试箱内固装限位杆，限位杆上固装多个限位盘，限位盘上开设有限位孔，两个限位杆之间设有纵向支撑杆，支撑杆两端固装...

本实用新型涉及二极管测试设备技术领域，尤其涉及一种自动温度系数测试机，其包括高温测试箱、支撑板、安装座及测试主板，高温测试箱在顶板、后背板及两个侧板处均为带有夹层的双层结构，夹层的外部围板为密封结构，夹层的内部围板为网板结构，夹层内缠绕...

本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，尤其涉及一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机，包括机箱、多块水冷板及多个被测元件固定装置，机箱底板上设有多个纵向导槽，每块水冷板底部固装有两个导板，导板插入相应的导槽内，每块水冷板上表面开设有多...

本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，尤其涉及一种方便拆装的风冷式间歇工作寿命测试机，其包括机箱、测试系统及冷却系统，机箱内有测试腔、控制腔及冷却腔，测试腔位于冷却腔的上方且二者之间通过过滤网板隔开，测试腔内固定安装有多对纵向导轨，测试...

本实用新型提供了一种便于快速降温的高温反偏测试机，涉及检测设备领域，包括测试机本体以及降温机构，测试机本体的顶面固接有安装板，两侧设有多组通孔，内部设有多个隔板，安装板上固接有气缸且气缸的输出端设有伸缩轴，通孔的外侧设有相对应的密封板，...