本发明涉及晶圆检测技术领域，尤其是一种晶圆的固定装置，包括底座，表面具有包围部；固定组件，滑动安装在底座上，包括绝缘座、第一电极和第二电极，第一电极和第二电极设在绝缘座的内部并交替相邻设置；供电电源，输出端分别与第一电极和第二电极电性连...

本发明涉及芯片检测技术领域，尤其是一种芯片检测装置，包括基座；定位单元，包括定位盘、定位管，晶圆通过定位管吸附安装在定位盘上；检测单元，包括移动模组、探针和光学显微镜；传动单元，包括立轴、第一齿轮和第二齿轮，定位盘外缘面具有齿槽，移动模...

本发明公开了一种半导体老化设备检测装置及其使用方法，包括安装板，所述安装板顶部的左侧固定安装有真空箱，所述真空箱的内腔设置有吸附机构，所述真空箱的外侧设置有喷淋机构，所述安装板的底部设置有回收机构。该半导体老化设备检测装置及其使用方法，...

本技术公开了一种数据采集板卡寿命测试转接板，包括：PCB板、插座、金手指、接线端子组A、接线端子组B、跳线；CB板的一边焊接多个插座，另一边对应设计多组金手指；在PCB板上焊接有多组接线端子组A和接线端子组B；一组接线端子组A与一个插座...

本技术公开了一种电源控制装置，包括：机箱电源控制模块、板卡供电控制模块、接口扩展模块、设备电源、机箱供电单元、计算机；板卡供电控制模块和机箱供电单元有多个；计算机通过接口扩展模块分别与各个板卡供电控制模块、机箱电源控制模块的控制端连接；...

本发明公开了一种基于机器学习的晶圆盒污染物识别方法及装置，用于判断待清洗的晶圆盒是否符合清洗要求，包括以下步骤：步骤S1，驱动机构驱动晶圆盒以预设轴线为中心线摆动；步骤S2，多台相机拍摄同时拍摄包含所述晶圆盒内壁的待检图像和点云图像；步...

本发明公开了芯片转接板及含有该转接板的芯片测试装置，包括：芯片转接板、机箱、烘烤箱、辅助板卡；芯片转接板包括背板、延伸板、芯片测试板卡；辅助板卡包括用于产生测试接口信号以及时钟信号的测试信号板卡以及用于给被测试芯片以及测试信号板卡供电的...

本发明公开了一种集成电路动态老化测试设备及其测试方法，设备包括，测控设备和加热炉；其特征在于：所述的测控设备与加热炉电连接；所述的加热炉内设置有可放置测试板卡的固定架；所述的测控设备包括接口板、测控板；测控板包括：FPGA模块，I/O接...

本实用新型公开了一种电路板卡调试机架，包括机架主体、背板、滑槽、固定件；机架主体内部两侧设置多组滑槽，每组有两个滑槽，两个滑槽相对设置；机架主体背部水平固定有多个固定件，每两个固定件之间安装有一块背板，背板前侧设置有与电路板卡插口相匹配...

本实用新型提供一种电路板卡固定结构，包括：第一滑轨、第二滑轨、加固件；第一滑轨和第二滑轨相对设置；第一滑轨和第二滑轨的侧部均设置有滑槽，滑槽前端顶部敞开，敞开处设置有与滑槽顶部端面连接的挡块，挡块上设置螺孔；第一滑轨和第二滑轨的两端均设...

本实用新型公开了一种开关电源机柜，包括，机柜外壳、抽拉架；机柜外壳两侧均为绝缘板；机柜外壳前侧纵向设置多个矩形开口，每个矩形开口对应两个分别安装在机柜外壳内部两侧的滑轨；抽拉架设置机柜外壳前侧的多个矩形开口上；每个抽拉架上固定有一个开关...

本实用新型公开了一种用于芯片动态老化寿命测试试验的老化板测试盒，涉及芯片测试技术领域；测试盒均匀分布并固定在老化板底板的上表面，测试盒远离老化板底板一面转动设有压紧盖，测试盒的内侧设置有放置盒，所述放置盒的底部开设有均匀分布的探针孔，放...

本实用新型公开了一种高温芯片动态老化测试机箱，包括：风机安装槽，辅助板放置箱；芯片测试板放置箱；风机安装槽设置在芯片测试板放置箱顶部，风机安装槽以及芯片测试板放置箱的一侧设置电脑放置箱，电脑放置箱从上之下依次为，显示屏放置位、电脑键盘放...