本实用新型涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体，所述测试压块本体中间位置设有测试压头，所述测试压头外围设有梅花纹路，所述梅花纹路顶部设有连接块，所述连接块两侧分别设有腰型定位孔、圆形定位孔，所述腰型定位孔一侧设有第一衬...

本实用新型公开了一种芯片压头，包括压头主体，所述压头主体两侧对称设置有导向孔，所述导向孔外围所在的压头主体上设置有凹槽，所述凹槽内固定设置有与导向孔相适配的导柱套，所述压头主体的四周设置有若干固定孔，所述压头主体上设有向外凸起的固定座，...

本实用新型公开了一种插座盖板，包括面板，所述面板上设有多个插孔，所述面板背面中部设有多个金属片，所述面板顶部和底部均连有边板一，所述面板两侧均连有边板二，每个所述边板一和边板二均相互连接，每个所述边板一和边板二上均设有方孔，每个所述边板...

本实用新型涉及一种IC测试分体式压头，包括把手、连接杆、测试压头，所述把手与连接杆之间通过螺纹杆连接，所述把手、连接杆、螺纹杆内均设置有吸压通孔，所述把手顶部还设有气囊，所述连接杆上还套接有定位板，所述连接杆的外表面上设置有螺纹，所述定...

本实用新型公开了一种密封圈，包括丙烯酸脂橡胶或氢化丁腈橡胶材料制成的密封圈本体、外密封唇和内密封唇，所述密封圈本体顶端设有所述外密封唇和内密封唇，所述外密封唇和内密封唇之间形成V型凹槽，所述凹槽的槽底圆滑过渡；所述凹槽内复合设置有甲基乙...

本实用新型涉及一种插座盖板一体式偏心PIN设计，包括插座盖板、PIN针、防护盖板，所述PIN针贯穿所述插座盖板，所述PIN针设置于插座盖板一端，所述插座盖板、防护盖板之间通过转轴活动连接，所述转轴两端均设有限位盖，所述插座盖板上还设置有...

一种梭车治具，包括基板，所述基板上设有IC芯片槽，所述IC芯片槽中部设有通孔，所述IC芯片槽四边设有一定角度的导向角，所述IC芯片槽四角为梅花型弧度角，每个所述梅花型弧度角周围均设有能放置引脚的引脚槽，所述IC芯片槽纵向方向的两边连有长...

本实用新型公开了一种便于拿取芯片的梭车，包括基板，所述基板上设置有若干放置芯片的凹槽，所述基板两侧对称设置有导柱孔，所述基板上设置有若干导向PIN，所述导向PIN沿着基板的中轴线对称分布；所述导向PIN由一体成型的加强导柱和测试导柱组成...

本实用新型公开了一种插座盖板，包括盖板本体(1)，所述盖板本体(1)的正面设置有凹槽(2)，所述凹槽(2)内设置有等高限位垫块(3)，所述等高限位垫块(3)采用防静电工程塑料材质的防静电板，所述等高限位垫块(3)与凹槽(2)的底壁之间设...

本实用新型公开了一种测试支架旋转紧固装置，包括支架，所述支架的一侧设置有水平调整导向块，所述水平调整导向块呈圆弧状，所述水平调整导向块上设置有弧形滑槽，所述弧形滑槽沿水平调整导向块的圆弧边缘设置，所述支架呈扁平状，所述支架设置在水平调整...

本实用新型公开了一种检测治具，包括底座，底座上设有投影检测设备，所述底座的边缘向上设有导柱，底座上方设有放置待检测产品的工作台板，工作台板的边缘与导柱固定相连；工作台板上方设有可沿导柱移动的滑动板；滑动板上方设有展示板，展示板的边缘与导...

本实用新型公开了一种直径通止规，包括H形基础规，H形基础规两端设有带有一定角度的环形斜面一和环形斜面二，H形基础规内部通过隔板分成上腔和下腔，上腔内设有能在上腔内滑动的第一级通止规，第一级通止规的顶端设有带有一定角度的环形斜面三，下腔内...

本实用新型公开了一种通止规，包括手柄、通规和止规，所述手柄的两端均连接有伸缩连杆，两个所述伸缩连杆分别与所述止规和所述通规相连，所述伸缩连杆包括基础杆、第一伸缩杆和第二伸缩杆，所述的基础杆、第一伸缩杆和第二伸缩杆均为中空状，所述第一伸缩...

本实用新型公开了一种一体成型有吸嘴的压头，包括压头、吸头，所述压头包括吸杆，所述吸杆的材质采用铜，所述吸杆内部设置有通气孔，所述通气孔的头部的孔径小于通气孔其余部位的孔径，所述通气孔的头部形成吸头，所述吸杆延伸至吸头处的结构呈喇叭口状，...

本实用新型公开了一种梭车镶嵌防静电装置，包括放置在梭车上的治具，所述治具上端面设置有凹槽，所述凹槽内设置有防静电板，所述防静电板采用防静电工程塑料板，所述防静电板与凹槽之间可拆卸连接，所述防静电板上还涂覆有抗静电涂料层，所述防静电板设置...

本实用新型公开了一种多方位调节测试支架，包括测试支架底座，所述测试支架底座的底部对称设置有四个万向轮，所述测试支架底座上垂直设置有导柱支架，所述导柱支架外侧设置有与之相连的第一导柱，所述第一导柱上套设有与之相匹配的导柱套，所述导柱套与垂...